一种测试效果好的半导体器件用测试座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试效果好的半导体器件用测试座，包括底座、陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；底座上依次设有陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；陶瓷固定座的顶部穿过PCB基板；待测芯片设置在陶瓷固定座上；测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与PCB基板电连接；测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；测试片机构包括测试片固定座、测试片组和固定板；测试片组固定在测试片固定座内；固定板盖在测试片固定座上，用于限位测试片组；整体配合精度较高，保证和提高了测试的可靠性及有效性；悬浮式陶瓷定位结构，对测试座形成保护，保证整个测试座在使用过程更加稳定。使用过程更加稳定。使用过程更加稳定。

【技术实现步骤摘要】
一种测试效果好的半导体器件用测试座


[0001]本技术涉及一种测试座，尤其涉及一种测试效果好的半导体器件用测试座。

技术介绍

[0002]在半导体芯片大规模研发及生产过程中均需要各类性能检测，芯片测试座为测试中关键部件，测试座功能是将芯片定位后通过线路板之间电子信号电流传输从而达到测试效果，测试座的质量和匹配程度直接影响测试判断准确性。
[0003]目前常见的测试座产品定位为普通吸嘴自动校正对位定位及盖板定位，测试片安装后使其固定形成芯片与测试片点对点接触，这样的结构存在如下缺点：1. 芯片管脚与测试片针尖点对点接触，会造成接触偏移，形成接触不良出现Open及Conta；2. 产品测试时定位不准确，接触有偏差影响测试精准度 ；3. 测试不稳定。

技术实现思路

[0004]本技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种保证和提高了测试使用过程中的可靠性及有效性的测试效果好的半导体器件用测试座。
[0005]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种测试效果好的半导体器件用测试座，包括底座、陶瓷固定座、PCB基板和测试片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试效果好的半导体器件用测试座，其特征在于：包括底座、陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述底座上依次设有陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述陶瓷固定座的顶部穿过PCB基板；待测芯片设置在陶瓷固定座上；所述测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与PCB基板电连接；所述测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；所述测试片机构包括测试片固定座、测试片组和固定板；所述测试片组固定在测试片固定座内；所述固定板盖在测试片固定座上，用于限位测试片组。2.根据权利要求1所述的测试效果好的半导体器件用测试座，其特征在于：所述测试片组为3组测试片组；所述每组测试片组为2片测试片，形成一路左右开尔文；所述测试片固定座内设有卡槽；所述测试片下方设有卡扣；所述测试片通过卡扣卡槽配合固定在测试片固定座内。3.根据权利要求2所述的测试效果好的半导体器件用测试座，其特征在于：所述陶瓷固定座包括固定块、活动块、定位陶瓷块和缓冲机构；所述固定块上部内开有凹槽；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：闵哲，
申请(专利权)人：苏州朗之睿电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：