分光光度计制造技术

本实用新型专利技术提供了一种分光光度计，光学成像单元，包括用于测试的测试片；光具座，连接于所述光学成像单元的下方：所述光具座包括上底座、下底座及活动组件，所述活动组件的一端连接于所述上底座的下方，所述活动组件的另一端连接于所述下底座的上方，所述活动组件用于可升降连接所述上底座和所述下底座：所述测试片放置于所述上底座远离所述活动组件的一侧。本实用新型专利技术通过所述光具座设为升降的活动连接，保障测试片所有区域光谱都在监控范围内避免光谱不良流出，且能提供最真实的数据给工艺及时调整片内散差。时调整片内散差。时调整片内散差。

【技术实现步骤摘要】
分光光度计


[0001]本技术涉及测量仪器
，尤其涉及一种分光光度计。

技术介绍

[0002]分光光度计的核心技术是测量物质在特定波长处或一定波长范围内光的透射率和反射率，其在物理学、化学、生物学、医学、材料学、环境科学以及在化工、医药、环境检测、冶金等现代工业生产与管理部门都获得了广泛重要的应用。
[0003]目前，现有的分光光度计只能实现特殊角度(0
°
)的测量，测量台的高度固定，导致不能测量完全测试片，从而影响测量整体数据。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中所存在的不足，本技术提供了一种分光光度计，以解决相关技术中测试结果准确度低的技术问题。
[0005]本技术提供了一种分光光度计，包括：
[0006]光学成像单元，包括用于测试的测试片；
[0007]光具座，连接于所述光学成像单元的下方：所述光具座包括上底座、下底座及活动组件，所述活动组件的一端连接于所述上底座的下方，所述活动组件的另一端连接于所述下底座的上方，所述活动组件用于可升降连接所述上底座和所述下底座：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分光光度计，其特征在于，包括：光学成像单元，包括用于测试的测试片；光具座，连接于所述光学成像单元的下方：所述光具座包括上底座、下底座及活动组件，所述活动组件的一端连接于所述上底座的下方，所述活动组件的另一端连接于所述下底座的上方，所述活动组件用于可升降连接所述上底座和所述下底座：所述测试片放置于所述上底座远离所述活动组件的一侧。2.如权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，所述活动组件包括螺纹杆、主动齿轮、传动齿轮、螺母、连接块及驱动件，所述驱动件设于所述下底座上端，所述驱动件的输出轴上设置有主动齿轮，所述螺纹杆固定连接所述下底座，所述螺纹杆上连接设置有传动齿轮，所述传...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋涛，王强，王爱华，
申请(专利权)人：湖北东田微科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：