近场测量辅助装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电磁辐射检测技术领域，具体涉及一种近场测量辅助装置，该近场测量辅助装置包括屏蔽壳体、吸波材料以及天线总成。屏蔽壳体内设有壳腔，吸波材料铺设在屏蔽壳体的至少部分内壁面上，天线总成包括与壳腔连通的缝隙天线以及能够调节缝隙天线的天线长度和/或天线极化的调节机构。测试人员既能通过调节机构调节缝隙天线的天线长度，从而对位于壳体内的被测物品所产生的不同频段的电磁辐射进行选择性泄露，又能通过调节机构调节缝隙天线的天线极化。因此，测试人员能够通过本实用新型专利技术的近场测量辅助装置快速查找被测物品的电磁辐射源，从而提高测试效率。从而提高测试效率。从而提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
近场测量辅助装置


[0001]本技术涉及电磁辐射检测
，具体地，涉及一种近场测量辅助装置。

技术介绍

[0002]目前，电子产品的电磁辐射测量包括远场测量和近场测量，远场测量一般在半电波暗室中进行，其准确性高，复现性好。近场测量对测试场地要求低、费用低、易实现，其采用近场测量探头直接靠近被测电子产品的局部位置以寻找潜在的电磁辐射骚扰源，在测量过程中近场测量探头接收到的电磁辐射不仅来源于探头附近位置的电子元器件，还包括被测电子产品其他位置的电磁辐射和反射，测试过程中的电磁环境复杂，导致测量结果的参考性低。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的上述缺陷或不足，本技术提供了一种近场测量辅助装置，为近场测量搭建了良好的测试环境，降低电磁环境对测量结果的干扰，能够选择不同频段的电磁辐射进行测量，便于测试人员定位电磁辐射源。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了一种近场测量辅助装置，该近场测量辅助装置包括：
[0005]屏蔽壳体，内设有壳腔；
[0006]吸波材料，铺设在屏蔽壳体的至少部分内壁面上；和
[0007]天线总成，包括与壳腔连通的缝隙天线以及能够调节缝隙天线的天线长度和/或天线极化的调节机构。
[0008]可选地，屏蔽壳体呈顶部敞口的长方体状，调节机构为推拉门机构且包括：
[0009]第一推拉门组，盖合屏蔽壳体的顶部敞口且包括能够沿屏蔽壳体的长度方向滑移对接的两个第一门体；
[0010]第二推拉门组，盖合在第一推拉门组上且包括能够沿屏蔽壳体的宽度方向滑移对接的两个第二门体；
[0011]其中，两个第一门体和两个第二门体通过滑移而共同限定出的门缝形成为缝隙天线。
[0012]可选地，两个第一门体的顶面均形成有沿宽度方向平行间隔布置的两个第一滑槽，两个第二门体的底面均形成有沿长度方向平行间隔布置的两个第二滑槽，调节机构包括四个滑移连接栓，滑移连接栓的竖向两端分别嵌入沿竖向对位的第一滑槽和第二滑槽内。
[0013]可选地，第一推拉门组、第二推拉门组和屏蔽壳体的壳壁之间形成有外缘配合缝隙，调节机构包括用于密封外缘配合缝隙的密封件。
[0014]可选地，屏蔽壳体的外壁设有壳体贯通口，调节机构包括可转动地嵌装在壳体贯通口中的转盘机构，转盘机构上贯穿形成有缝隙天线。
[0015]可选地，转盘机构包括呈圆片状且同旋转轴设置的第一转盘和第二转盘，第二转盘层叠在第一转盘上，第一转盘上形成有位于旋转轴的径向外侧且连通壳腔的辐射漏口，缝隙天线位于第二转盘上，第二转盘能够旋转至使得缝隙天线和辐射漏口沿竖向对位连通。
[0016]可选地，第一转盘固定安装在旋转轴上，第二转盘通过轴套固定安装在旋转轴上，轴套与旋转轴间隙配合。
[0017]可选地，在缝隙天线内设有沿缝隙天线的长度方向滑移以调节天线长度的抽拉盖板。
[0018]可选地，缝隙天线为多个且相互间隔地布置在屏蔽壳体的壳壁上，调节机构包括与多个缝隙天线一一对应设置且能够沿缝隙天线的长度方向滑移以调节天线长度的多个滑移挡板。
[0019]可选地，近场测量辅助装置还包括能够设置在壳腔内的置物平台，置物平台设有向下伸出且长度可调的支撑柱。
[0020]通过上述技术方案，屏蔽壳体能够屏蔽外部环境中电磁辐射的干扰，吸波材料能够减少被测物品的电磁辐射反射，测试人员既能通过调节机构调节缝隙天线的天线长度，从而对位于壳体内的被测物品所产生的不同频段的电磁辐射进行选择性泄露，又能通过调节机构调节缝隙天线的天线极化方向，从而确定被测物品上的电磁辐射源的方向。因此，测试人员能够通过本技术的近场测量辅助装置快速查找被测物品的电磁辐射源，从而提高测试效率。
[0021]本技术的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0022]附图是用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本技术，但并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0023]图1为根据本技术的具体实施方式中的第一种近场测量辅助装置立体图；
[0024]图2为图1中的近场测量辅助装置的另一状态立体图；
[0025]图3为图1中的第一门体的右视图；
[0026]图4为图1中的第二门体的主视图；
[0027]图5为图1中的滑轨连接栓的主视图；
[0028]图6为根据本技术的具体实施方式中的第二种近场测量辅助装置立体图；
[0029]图7为图6中A处放大图；
[0030]图8为根据本技术的具体实施方式中的第三种近场测量辅助装置立体图；
[0031]图9为图6中的近场测量辅助装置的爆炸立体图；
[0032]图10为根据本技术的具体实施方式中的第四种近场测量辅助装置立体图；
[0033]图11为根据本技术的具体实施方式中的第五种近场测量辅助装置立体图；
[0034]图12为图10中的近场测量辅助装置的剖视图；
[0035]图13为图1中的缝隙天线21沿屏蔽壳体10的长度方向布置且天线长度为20cm的测量结果；
[0036]图14为图1中的缝隙天线21沿屏蔽壳体10的宽度方向布置且天线长度为20cm的测
量结果；
[0037]图15为图1中的缝隙天线21沿屏蔽壳体10的宽度方向布置且天线长度为2cm的测量结果。
[0038]附图标记说明：10、屏蔽壳体；11、壳腔；21、缝隙天线；22、第一门体；23、第二门体；24、滑移连接栓；25、转盘机构；26、旋转轴；27、轴套；30、吸波材料；40、外缘配合缝隙；50、置物平台；51支撑柱；211、滑移挡板；221、第一滑槽；231、第二滑槽；251、第一转盘；252、第二转盘；261、轴套安装槽；2511、辐射漏口；2521、抽拉盖板
具体实施方式
[0039]以下结合附图对本技术实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术实施例，并不用于限制本技术实施例。
[0040]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0041]在本技术实施例中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的或者是针对竖直、垂直或重力方向上而言的各部件相互位置关系描述用词。
[0042]下面将参考附图并结合示例性实施例来详细说明本技术。
[0043]本技术的示例性实施例中提供了一种近场测量辅助装置，近场测量辅助装置包括屏蔽壳体10、吸波材料30以及天线总成。其中，屏蔽壳体10内设有壳腔11，吸波材料30铺设在屏蔽壳体10的至少部分内壁面上，天线总成包括与壳腔11连通的缝隙天线21以及能够调节缝隙天线21的天线长度和/或天线极化的调节机构。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种近场测量辅助装置，其特征在于，所述近场测量辅助装置包括：屏蔽壳体(10)，内设有壳腔(11)；吸波材料(30)，铺设在所述屏蔽壳体(10)的至少部分内壁面上；和天线总成，包括与所述壳腔(11)连通的缝隙天线(21)以及能够调节所述缝隙天线(21)的天线长度和/或天线极化的调节机构。2.根据权利要求1所述的近场测量辅助装置，其特征在于，所述屏蔽壳体(10)呈顶部敞口的长方体状，所述调节机构为推拉门机构且包括：第一推拉门组，盖合所述屏蔽壳体(10)的顶部敞口且包括能够沿所述屏蔽壳体(10)的长度方向滑移对接的两个第一门体(22)；第二推拉门组，盖合在所述第一推拉门组上且包括能够沿所述屏蔽壳体(10)的宽度方向滑移对接的两个第二门体(23)；其中，两个所述第一门体和两个所述第二门体通过滑移而共同限定出的门缝形成为所述缝隙天线(21)。3.根据权利要求2所述的近场测量辅助装置，其特征在于，两个所述第一门体(22)的顶面均形成有沿所述宽度方向平行间隔布置的两个第一滑槽(221)，两个所述第二门体(23)的底面均形成有沿所述长度方向平行间隔布置的两个第二滑槽(231)，所述调节机构包括四个滑移连接栓(24)，所述滑移连接栓(24)的竖向两端分别嵌入沿竖向对位的所述第一滑槽(221)和所述第二滑槽(231)内。4.根据权利要求2所述的近场测量辅助装置，其特征在于，所述第一推拉门组、所述第二推拉门组和所述屏蔽壳体(10)的壳壁之间形成有外缘配合缝隙(40)，所述调节机构包括用于密封所述外缘配合缝隙(40)的密封件。5.根据权利要求1所述的近场测量辅助装置，其特征在于，所述屏蔽壳体(10)的外壁设有壳体贯通口，所述调节机构包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：耿兴，顾晓敏，
申请(专利权)人：诺博汽车科技有限公司，
类型：新型
国别省市：