基于固态硬盘的NAND测试分析方法、装置及计算机设备制造方法及图纸

本申请涉及一种基于固态硬盘的NAND测试分析方法、装置、计算机设备及存储介质，其中该方法包括：搭建测试环境，将待测的盘片装载工装板通过串口连接到主机；获取基于固态硬盘的NAND测试分析请求；根据所述测试分析请求对测试环境进行初始化，通过测试界面设定串口设备号和波特率，打开串口并通过所述串口加载Debug固件；待所述Debug固件加载完成后通过操作界面选择需要测试NAND的物理位置，并开始执行NAND VTH扫描测试；待VTH扫描测试结束后输出VTH扫描测试结果，同时输出扫描的VTH可视化判定图，并和预先设置好的标准值作对比绘图。本发明专利技术实现了对固态硬盘NAND颗粒的VTH可视化操作，提高了VTH测试效率。提高了VTH测试效率。提高了VTH测试效率。

【技术实现步骤摘要】
基于固态硬盘的NAND测试分析方法、装置及计算机设备


[0001]本专利技术涉及硬盘测试
，特别是涉及一种基于固态硬盘的NAND测试分析方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着计算机技术的发展，计算机设备已经成为当今人们最具备生成力的实用工具，而其中计算机设备的安全性以及稳定性是人们在利用计算机进行工作时的必要保障。如今，固态硬盘因为其具备的快速读写、质量轻、能耗低以及体积小等特点，应用也越来越广泛。固态硬盘是计算机设备中的核心硬件设备之一，其稳定性和可靠性大大影响整个计算机设备的安全性和稳定性，因此在计算机设备出厂之前，需要对计算机设备中的固态硬盘进行测试。
[0003]目前，在SSD测试系统中，NAND颗粒的判定电压将直接影响数据存储的有效性。然而，现有NAND测试分析过程中，缺少对NAND颗粒VTH的可视化分析工具，无法让测试人员直观的掌握VTH测试结果，从而影响产品的分析效率和进度，降低了测试效率。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种可以提高VTH测试效率的基于固态硬盘的NAND测试分析方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0005]一种基于固态硬盘的NAND测试分析方法，所述方法包括：
[0006]搭建测试环境，将待测的盘片装载工装板通过串口连接到主机；
[0007]获取基于固态硬盘的NAND测试分析请求；
[0008]根据所述测试分析请求对测试环境进行初始化，通过测试界面设定串口设备号和波特率，打开串口并通过所述串口加载Debug固件；
[0009]待所述Debug固件加载完成后通过操作界面选择需要测试NAND的物理位置，并开始执行NAND VTH扫描测试；
[0010]待VTH扫描测试结束后输出VTH扫描测试结果，同时输出扫描的VTH可视化判定图，并和预先设置好的标准值作对比绘图。
[0011]在其中一个实施例中，所述待所述Debug固件加载完成后通过操作界面选择需要测试NAND的物理位置，并开始执行NAND VTH扫描测试的步骤还包括：
[0012]对NAND物理地址进行数据写入，并记录初始的数据0/1比例；
[0013]通过调节不同电压档位，获取不同档位下读取之前写入数据0/1翻转比例；
[0014]获取当前档位下VTH的判定影响范围；
[0015]通过所有档位的扫描获取NAND物理块的数据跳变情况，从而绘制出物理块的VTH电压分布情况。
[0016]在其中一个实施例中，在所述通过所有档位的扫描获取NAND物理块的数据跳变情况，从而绘制出物理块的VTH电压分布情况的步骤之后还包括：
[0017]根据比对已有获取的VTH电压分布，判断测试的物理块阈值电压是否异常。
[0018]在其中一个实施例中，所述方法包括：
[0019]所述测试软件界面还提供了串口输入框，通过所述串口输入框获取其他串口Debug指令并在软件界面输出显示。
[0020]一种基于固态硬盘的NAND测试分析装置，所述装置包括：
[0021]搭建模块，所述搭建模块用于搭建测试环境，将待测的盘片装载工装板通过串口连接到主机；
[0022]请求获取模块，所述请求获取模块用于获取基于固态硬盘的NAND测试分析请求；
[0023]初始化模块，所述初始化模块用于根据所述测试分析请求对测试环境进行初始化，通过测试界面设定串口设备号和波特率，打开串口并通过所述串口加载Debug固件；
[0024]VTH测试模块，所述VTH测试模块用于待所述Debug固件加载完成后通过操作界面选择需要测试NAND的物理位置，并开始执行NAND VTH扫描测试；
[0025]结果分析模块，所述结果分析模块用于待VTH扫描测试结束后输出VTH扫描测试结果，同时输出扫描的VTH可视化判定图，并和预先设置好的标准值作对比绘图。
[0026]在其中一个实施例中，所述VTH测试模块还用于：
[0027]对NAND物理地址进行数据写入，并记录初始的数据0/1比例；
[0028]通过调节不同电压档位，获取不同档位下读取之前写入数据0/1翻转比例；
[0029]获取当前档位下VTH的判定影响范围；
[0030]通过所有档位的扫描获取NAND物理块的数据跳变情况，从而绘制出物理块的VTH电压分布情况。
[0031]在其中一个实施例中，所述VTH测试模块还用于：
[0032]根据比对已有获取的VTH电压分布，判断测试的物理块阈值电压是否异常。
[0033]在其中一个实施例中，所述装置包括：
[0034]指令响应模块，所述指令响应模块用于所述测试软件界面还提供了串口输入框，通过所述串口输入框获取其他串口Debug指令并在软件界面输出显示。
[0035]一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
[0036]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
[0037]上述基于固态硬盘的NAND测试分析方法、装置、计算机设备及存储介质通过搭建测试环境，将待测的盘片装载工装板通过串口连接到主机；对测试环境进行初始化，通过测试界面设定串口设备号和波特率，打开串口并通过所述串口加载Debug固件；待所述Debug固件加载完成后开始执行NAND VTH扫描测试；输出VTH扫描测试结果，同时输出扫描的VTH可视化判定图，并和预先设置好的标准值作对比绘图。本专利技术不仅实现了对固态硬盘NAND颗粒的VTH可视化操作，同时针对SSD常用串口分析方法实现统一软件接口，提升了SSD测试的分析效率，有效地进行SSD级别的NAND颗粒分析工作。
附图说明
[0038]图1为一个实施例中NAND VTH测试软件系统架构的示意图；
[0039]图2为一个实施例中基于固态硬盘的NAND测试分析方法的流程示意图；
[0040]图3为另一个实施例中基于固态硬盘的NAND测试分析方法的流程示意图；
[0041]图4为一个实施例中NAND VTH测试软件操作界面的示意图；
[0042]图5为一个实施例中NAND VTH测试结果输出界面的示意图；
[0043]图6为一个实施例中基于固态硬盘的NAND测试分析装置的结构框图；
[0044]图7为另一个实施例中基于固态硬盘的NAND测试分析装置的结构框图；
[0045]图8为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0046]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0047]目前，在SSD测试系统中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于固态硬盘的NAND测试分析方法，其特征在于，所述方法包括：搭建测试环境，将待测的盘片装载工装板通过串口连接到主机；获取基于固态硬盘的NAND测试分析请求；根据所述测试分析请求对测试环境进行初始化，通过测试界面设定串口设备号和波特率，打开串口并通过所述串口加载Debug固件；待所述Debug固件加载完成后通过操作界面选择需要测试NAND的物理位置，并开始执行NAND VTH扫描测试；待VTH扫描测试结束后输出VTH扫描测试结果，同时输出扫描的VTH可视化判定图，并和预先设置好的标准值作对比绘图。2.根据权利要求1所述的基于固态硬盘的NAND测试分析方法，其特征在于，所述待所述Debug固件加载完成后通过操作界面选择需要测试NAND的物理位置，并开始执行NAND VTH扫描测试的步骤还包括：对NAND物理地址进行数据写入，并记录初始的数据0/1比例；通过调节不同电压档位，获取不同档位下读取之前写入数据0/1翻转比例；获取当前档位下VTH的判定影响范围；通过所有档位的扫描获取NAND物理块的数据跳变情况，从而绘制出物理块的VTH电压分布情况。3.根据权利要求2所述的基于固态硬盘的NAND测试分析方法，其特征在于，在所述通过所有档位的扫描获取NAND物理块的数据跳变情况，从而绘制出物理块的VTH电压分布情况的步骤之后还包括：根据比对已有获取的VTH电压分布，判断测试的物理块阈值电压是否异常。4.根据权利要求1
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3中任一项所述的基于固态硬盘的NAND测试分析方法，其特征在于，所述方法包括：所述测试软件界面还提供了串口输入框，通过所述串口输入框获取其他串口Debug指令并在软件界面输出显示。5.一种基于固态硬盘的NAND测试分析装置，其特征在于，所述装置包括：搭建模块，所述搭建模块用于搭建测试环境，将待测的盘片装载工装板通过串口连接到主机；请求获取模块，所述请...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭李乔，赵军委，贾宗铭，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：