测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：构建测试指令集；其中，测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，测试指令集中任意两个测试指令均不相同；多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现；根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果；解决了现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题，提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。进而提高了故障修复效率。进而提高了故障修复效率。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及电子
，尤其涉及一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在集成芯片的制造工艺不断进步，且得到广泛应用的同时，集成芯片中存储器的故障类型也在增加，为了对存储器的多种故障类型进行测试，需要在存储器内建多种类型的测试指令；其中，不同的故障类型对应有不同类型的测试指令。
[0003]在现有技术中，通过主状态机控制各子状态机是否执行与其对应的测试指令；一般的，当需要对不同测试类型的测试进行切换时，主状态机需要根据切换的测试类型进行参数配置，在每个测试类型的测试运行完毕后，均会获得一组测试结果。
[0004]但是，不同测试类型的测试中可能存在冗余的测试指令，所以在运行完毕多个测试后，所获得的多组测试结果中可能含有重复报出的故障信息，对后续的故障修复工作造成影响。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题。
>[0006]本申请本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：构建测试指令集；其中，所述测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；其中，所述配置参数适用于所述多种测试；根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集中的测试指令，以对所述测试对象进行所述多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行所述测试指令集中的一种测试的测试指令，且不同子状态机执行的测试指令不同。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述构建测试指令集，包括：构建测试指令全集，所述测试指令全集中包括对所述测试对象进行的所有测试的全部测试指令；确定各种测试之间的测试顺序；并根据所述测试顺序，对所述测试指令全集中全部测试指令进行排序；对所述全部测试指令进行去重处理，得到所述测试指令集。3.根据权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，所述构建测试指令集，还包括：在所述测试指令集的不同测试之间插入复原指令，所述复原指令用于在对所述测试对象执行完前一种测试之后，对所述测试对象的状态进行还原，和/或，在对所述测试对象执行下一种测试之前，对执行所述复原指令的子状态机进行初始化。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述复原指令包括：空操作指令，和/或，不关心操作指令。5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述确定测试的配置参数，包括：分别确定主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数；当确定各原始配置参数存在冲突参数时，调整各原始配置参数，以使调整后得到的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制。6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数，还包括：根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘毅，许超，
申请(专利权)人：龙芯中科技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：