设备测试方法和电子设备技术

本申请提供一种设备测试方法和电子设备，涉及终端技术领域。该设备测试方法，包括：测试设备获取测试用例集合。其中，测试用例集合中包括N个测试用例，N为大于1的整数，任一个测试用例中包括的测试目标的数量小于第一阈值，且大于或等于第二阈值。测试设备按照N个测试用例中测试目标的数量由大到小的顺序，测试多个测试样机。由于测试用例包括测试目标的数量小于第一阈值，则输出测试用例对应的测试结果的时长较短。另外，又由于测试用例包括测试目标的数量大于或等于第二阈值。这样，在总的测试目标的数量一定的情况下，可以减少测试用例集合中的测试用例的数量。进而，还可以兼顾节省调度完所有测试用例的总时间损耗。调度完所有测试用例的总时间损耗。调度完所有测试用例的总时间损耗。

【技术实现步骤摘要】
设备测试方法和电子设备


[0001]本申请涉及终端
，尤其涉及一种设备测试方法和电子设备。

技术介绍

[0002]终端设备在出厂前，通常需要对终端设备的测试样机进行模糊测试（fuzz testing），又称为安全性测试。
[0003]目前，对测试样机的模糊测试的方式可以为：测试设备将海量的测试目标编辑为多个测试用例，并选择待测试的测试样机集合。测试设备判断是否存在未执行的测试用例，如果是，则遍历测试样机集合中是否存在空闲的测试样机。如果存在，则将一个测试用例分配该测试样机。进而，测试设备对分配有测试用例的测试样机进行测试。同时，测试设备记录测试样机基于测试用例执行对应的测试功能时的测试日志。在任一个测试用例测试完毕后，解析该测试用例对应的测试日志，并输出测试结果，以便测试人员感知到测试结果。
[0004]通常情况下，在测试的过程中，要么测试设备输出任一个测试用例对应的测试结果的时长较长；或者，将所有测试用例测试完毕后，调度完所有测试用例的总时间损耗较大。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种设备测试方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备测试方法，其特征在于，所述方法包括：测试设备获取测试用例集合，其中，所述测试用例集合中包括N个测试用例，N为大于1的整数，任一个所述测试用例中包括的测试目标的数量小于第一阈值，且大于或等于第二阈值；所述测试设备按照所述N个测试用例中测试目标的数量由大到小的顺序，测试多个测试样机。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试设备获取测试用例集合，包括：所述测试设备获取测试目标集合；所述测试设备按照预设的M个数量维度，将所述测试目标集合编辑为M个测试用例组，得到所述测试用例集合，其中，同一个所述测试用例组中的测试用例对应的数量维度相同，任意两组所述测试用例组之间的测试用例对应的数量维度不同，M为大于1的整数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试设备按照预设的M个数量维度，将所述测试目标集合编辑为M个测试用例组，包括：所述测试设备从所述M个数量维度中，提取第n大的数量维度，其中，n的初始值为1；所述测试设备判断L1/（L2+b）是否大于所述第n大的数量维度，L1为剩余的测试目标的数量，L2为所述测试样机的数量，b为调节因子，且b为整数；如果是，则所述测试设备编辑N1个所述第n大的数量维度对应的测试用例，其中，N1=[L1
‑
K(L2+b)]/K，K为第n大的数量维度；所述测试设备对n的值加1，并返回执行所述从所述M个数量维度中提取第n大的数据维度的步骤，直到所述M个数量维度被提取完毕；如果否，则所述测试设备对n的值加1，并返回执行所述从所述M个数量维度中提取第n大的数据维度的步骤，直到所述M个数量维度被提取完毕。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述M个数量维度之间呈等比数列。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试设备按照预设置的M个数量维度，将所述测试目标集合编辑为M个测试用例组，包括：所述测试设备对满足的N1、N2...N
M
随机选择一组取值，将所述测试目标集合编辑为M个测试用例组，其中，K1、K2...K
M
为不同的数量维度，N1为包括K1个测试目标的测试用例的数量，N2为包括K2个测试目标的测试用例的数量，N
M<...

【专利技术属性】
技术研发人员：周伟萍，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：发明
国别省市：