一种光测试一体机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光测试一体机，包括底板、背侧板、前侧板、散热槽、滤波器安置槽、风扇安置槽、前面板安置槽、盖板、左侧板、右侧板、加强条、电源滤波器、风扇、MCU板挡板、电源板、MCU板、光衰减器组模、波分复用器组模、TapPD板、PD支架、前面板、光功率计组模、光开关组模、堵块面板。本实用新型专利技术的有益效果是：集成光测试中常用的五类测试设备为一体，并形成闭环，通过光纤线在同一面板上即可连接；仅需USB连接PC即可上电并实现程序控制。节省了大量设备摆放空间，软件高度集成不需要在不同设备对应的软件中相互切换，大大提高了测试效率，且面板上光纤线的相互连接，避免设备交错导致的测试失误及测试效率低下。试失误及测试效率低下。试失误及测试效率低下。

【技术实现步骤摘要】
一种光测试一体机


[0001]本技术涉及一种光测试机，具体为一种光测试一体机，属于光模块及光器件测试


技术介绍

[0002]随着互联网与无线通信技术的飞速发展，光纤介质逐渐替代铜用于通信传输，而光模块作为光纤系统中的核心器件之一，其质量的好坏直接影响到光纤通信的质量。其中，光器件是光模块中最重要的组成部分，是光传输系统的心脏，因此光测试部分在整个光通信传输测试环节尤为重要。
[0003]为了保证光模块及光器件产品的质量，通常需要对光模块及光器件做多种测量。但是，目前现有的光模块测试设备在对光模块产品进行测量过程中，需要大量的光测试设备，测试项目繁多，设备之间连接复杂，软件程序多并且很难做到联调，如此一来会耗费生产商大量成本和时间。
[0004]因此，设计一种体积小，功能高度集成，测试效率高的光测试设备，成为目前亟需解决的问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的就在于为了解决问题而提供一种光测试一体机。
[0006]本技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种光测试一体机，包括底板.和盖板.；所述底板.的尾端连接有背侧板.，所述底板.的前端连接有前侧板.，且所述背侧板.与前侧板.通过弯折与底板.呈垂直状设置，且所述背侧板.与前侧板.之间连接有加强条，所述盖板.的左侧端连接有左侧板.，所述盖板.的右侧端连接有右侧板.，且所述左侧板.与右侧板.通过弯折与盖板.呈垂直状设置，所述底板.上开设有散热槽.，且所述底板.上安装有电源板、MCU板、光衰减器组模、波分复用器组模、TapPD板和PD支架，所述背侧板.上开设有滤波器安置槽.和风扇安置槽.，所述滤波器安置槽.内安装有电源滤波器，所述风扇安置槽.内安装有风扇，所述背侧板.上还安装有MCU板挡板，所述前侧板.上开设有前面板安置槽.，且所述前侧板.的前面板安置槽.内安装有前面板，所述前面板上设置有光功率计组模和光开关组模，且所述前面板的外侧卡放有堵块面板。
[0007]作为本技术再进一步的方案：所述电源板、MCU板、光衰减器组模、波分复用器组模、TapPD板、光功率计组模和光开关组模通过电源线和排线相连接，其中光衰减器组模、TapPD板、光功率计组模和光开关组模的一端接口连接到前面板对应位置用于和外部光纤接入，另一端通过排线连接到MCU板；波分复用器组模不需要供电和程序控制，仅有一端接口连接到前面板；MCU板通过排线和电源板相连接；光衰减器组模用于吸收多余的光能量；波分复用器组模用于实现波长不同的光信号的耦合与分离；光功率计组模用于读取输入端光的功率值及经过光衰减后的光功率值；光开关组模用于被测光路的切换；TapPD板用于链路分光；电源板用于为主机各模块提供稳定的电流，无需额外配置稳压源；MCU板上设置有
用于通过USB连接线连接PC实现程序控制的USB接口。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述光开关组模采用MEMS微机电系统。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述光衰减器组模是在硅基上制作微反射镜片，且光衰减器组模带MPD光功率监控。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述TapPD板分光比为5：95，光经过TapPD板后分为5％和95％。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述MCU板带中央处理系统，通过软件控制设定目标光功率，再由CPU根据光功率调节电压。
[0012]作为本技术再进一步的方案：该一体机内部器件均采用模块化。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述前面板设有光测试器件的对应接口，各器件的光信号传输都可以从正面的接口通过光纤线相互连接。
[0014]作为本技术再进一步的方案：所述背侧板.上设有方口USB接口，并由MCU板控制，用于连接PC端，为一体机提供外部电流和PC端信号传输。
[0015]本技术的有益效果是：该光测试一体机设计合理，集成光测试中常用的五类测试设备为一体，并形成闭环，通过光纤线在同一面板上即可连接；并且本技术主机内置电源板，仅需USB连接PC即可上电并实现程序控制。相较于传统测试中需要大量光测试设备及稳压源，本技术节省了大量设备摆放空间，软件高度集成不需要在不同设备对应的软件中相互切换，大大提高了测试效率，且面板上光纤线的相互连接，避免了传统测试方法中面板排线凌乱，设备交错导致的测试失误及测试效率低下。
附图说明
[0016]图1为本技术内部结构示意图；
[0017]图2为本技术底板连接结构示意图；
[0018]图3为本技术盖板连接结构示意图；
[0019]图4为本技术加强条安装结构示意图；
[0020]图5为本技术前面板与堵块面板结构示意图。
[0021]图中：1.1、底板，1.2、背侧板，1.3、前侧板，1.11、散热槽，1.21、滤波器安置槽，1.22、风扇安置槽，1.31、前面板安置槽，2.1、盖板，2.2、左侧板，2.3、右侧板，2、加强条，3、电源滤波器，4、风扇，5、MCU板挡板，6、电源板，7、MCU板，8、光衰减器组模，9、波分复用器组模，10、TapPD板，11、PD支架，12、前面板，13、光功率计组模，14、光开关组模和15、堵块面板。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]请参阅图1～5，一种光测试一体机，包括底板1.1和盖板2.1；所述底板1.1的尾端连接有背侧板1.2，所述底板1.1的前端连接有前侧板1.3，且所述背侧板1.2与前侧板1.3通过弯折与底板1.1呈垂直状设置，且所述背侧板1.2与前侧板1.3之间连接有加强条2，所述
盖板2.1的左侧端连接有左侧板2.2，所述盖板2.1的右侧端连接有右侧板2.3，且所述左侧板2.2与右侧板2.3通过弯折与盖板2.1呈垂直状设置，所述底板1.1上开设有散热槽1.11，且所述底板1.1上安装有电源板6、MCU板7、光衰减器组模8、波分复用器组模9、TapPD板10和PD支架11，所述背侧板1.2上开设有滤波器安置槽1.21和风扇安置槽1.22，所述滤波器安置槽1.21内安装有电源滤波器3，所述风扇安置槽1.22内安装有风扇4，所述背侧板1.2上还安装有MCU板挡板5，所述前侧板1.3上开设有前面板安置槽1.31，且所述前侧板1.3的前面板安置槽1.31内安装有前面板12，所述前面板12上设置有光功率计组模13和光开关组模14，且所述前面板12的外侧卡放有堵块面板15。
[0024]在本技术实施例中，所述电源板6、MCU板7、光衰减器组模8、波分复用器组模9、TapPD板10、光功率计组模13和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光测试一体机，包括底板(1.1)和盖板(2.1)；其特征在于：所述底板(1.1)的尾端连接有背侧板(1.2)，所述底板(1.1)的前端连接有前侧板(1.3)，且所述背侧板(1.2)与前侧板(1.3)通过弯折与底板(1.1)呈垂直状设置，且所述背侧板(1.2)与前侧板(1.3)之间连接有加强条(2)，所述盖板(2.1)的左侧端连接有左侧板(2.2)，所述盖板(2.1)的右侧端连接有右侧板(2.3)，且所述左侧板(2.2)与右侧板(2.3)通过弯折与盖板(2.1)呈垂直状设置，所述底板(1.1)上开设有散热槽(1.11)，且所述底板(1.1)上安装有电源板(6)、MCU板(7)、光衰减器组模(8)、波分复用器组模(9)、TapPD板(10)和PD支架(11)，所述背侧板(1.2)上开设有滤波器安置槽(1.21)和风扇安置槽(1.22)，所述滤波器安置槽(1.21)内安装有电源滤波器(3)，所述风扇安置槽(1.22)内安装有风扇(4)，所述背侧板(1.2)上还安装有MCU板挡板(5)，所述前侧板(1.3)上开设有前面板安置槽(1.31)，且所述前侧板(1.3)的前面板安置槽(1.31)内安装有前面板(12)，所述前面板(12)上设置有光功率计组模(13)和光开关组模(14)，且所述前面板(12)的外侧卡放有堵块面板(15)。2.根据权利要求1所述的一种光测试一体机，其特征在于：所述电源板(6)、MCU板(7)、光衰减器组模(8)、波分复用器组模(9)、TapPD板(10)、光功率计组模(13)和光开关组模(14)通过电源线和排线相连接，其中光衰减器组模(8)、TapPD板(...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴丁伢，
申请(专利权)人：上海乘讯信息科技有限公司，
类型：新型
国别省市：