【技术实现步骤摘要】
晶片校正平台
[0001]本申请属于半导体固晶
,更具体地说,是涉及一种晶片校正平台。
技术介绍
[0002]固晶时,一般通过固晶绑头从扩膜供晶机构上吸取晶片,再放置到支架上,以实现固晶。由于扩膜供晶机构一般通过水平移动平台调整蓝膜上晶片的位置,再旋转蓝膜,以校正晶片角度。然后再被固晶绑头吸取安装在支架上。然而扩膜供晶机构是对整个蓝膜上的晶片进行旋转校正。当前一般是在固晶绑头上设置旋转机构,以转动固晶绑头上的吸嘴组件,进而校正晶片。然而这种结构会增加固晶绑头的重量,而降低固晶效率;并且旋转机构运行还会增加固晶绑头的振动,降低固晶精度。
技术实现思路
[0003]本申请实施例的目的在于提供一种晶片校正平台,以解决现有技术中存在的在固晶绑头上设置旋转机构校正晶片角度,增加固晶绑头的重量与振动,而降低固晶效率和固晶精度的问题。
[0004]为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案是:提供一种晶片校正平台,包括用于定位晶片的校正台和驱动所述校正台转动的旋转电机,所述校正台具有用于供所述晶片定位放置的台面, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶片校正平台,其特征在于,包括用于定位晶片的校正台(11)和驱动所述校正台(11)转动的旋转电机(12),所述校正台(11)具有用于供所述晶片定位放置的台面(1101),所述台面(1101)呈水平设置的平面状。2.如权利要求1所述的晶片校正平台,其特征在于:所述校正台(11)中开设有气道(1102),所述晶片校正平台包括用于外接抽气装置的气嘴(14),所述气嘴(14)与所述气道(1102)连通。3.如权利要求2所述的晶片校正平台,其特征在于:所述晶片校正平台还包括支撑所述校正台(11)的校正座(15),所述校正座(15)上开设有定位槽(151),所述校正台(11)的下端安装于所述定位槽(151)中。4.如权利要求3所述的晶片校正平台,其特征在于:所述气嘴(14)安装于所述校正座(15)的侧面,所述气道(1102)沿所述校正台(11)的轴向贯穿所述校正台(11)设置,所述定位槽(151)中开设有连通所述气道(1102)的盲孔(152),所述校正座(15)中开设有连通所述盲孔(152)与所述气嘴(14)的孔道(153)。5.如权利要求4所述的晶片校正平台,其特征在于:所述晶片校正平台还包括设于所述校正台(11)的底面的密封圈(19),所述密封圈(19)围绕所述盲孔(152)设置。6.如权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡新平,梁志宏,
申请(专利权)人:深圳新益昌科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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