测试精确的电流电阻测试仪制造技术

本申请提供了一种测试精确的电流电阻测试仪，属于电阻测试仪技术领域。该测试精确的电流电阻测试仪包括电阻测试仪本体和降温组件，所述降温组件包括降温壳、风扇、制冷板和半导体制冷片，在上述实现过程中，先通过半导体制冷片对若干块制冷板进行冷却，风扇吸取的被冷却的气体会进入电阻测试仪本体的内部，进而对电阻测试仪本体内部进行降温冷却，可向电阻测试仪本体内部的通入冷气，可较为有效的对电阻测试仪本体内部进行降温，可使得电阻测试仪本体内部的电器元件的温度较低，进而可减小温度对电阻测试仪本体检测精确度的影响，可提高电阻测试仪本体检测的精确度。电阻测试仪本体检测的精确度。电阻测试仪本体检测的精确度。

【技术实现步骤摘要】
测试精确的电流电阻测试仪


[0001]本申请涉及电阻测试仪领域，具体而言，涉及一种测试精确的电流电阻测试仪。

技术介绍

[0002]电流电阻测试仪是用于检测物体导电性的仪器，应用非常的广泛如电气安全、接地工程以及变压器在交接、大修和改变分接开关等均需要用到电流电阻测试仪，由于是对导电性进行检测，其检测的精确度非常重要。
[0003]电流电阻测试仪的内部有大量的电器元件，因而电流电阻测试仪在工作时会有热量产生，而在相关的技术中，只是简单的在电流电阻测试仪的外壳设置散热口进行散热，散热的效果较差，会使得电流电阻测试仪内部的电器元件的温度过高，进而会对检测的精确度造成较大的影响，降低了电流电阻测试仪的精确度。

技术实现思路

[0004]为了弥补以上不足，本申请提供了一种测试精确的电流电阻测试仪，旨在改善散热的效果较差，会使得电流电阻测试仪内部的电器元件的温度过高，进而会对检测的精确度造成较大的影响，降低了电流电阻测试仪精确度的问题。
[0005]本申请实施例提供了一种测试精确的电流电阻测试仪，包括电阻测试仪本体和降温组件。
[0006]所述电阻测试仪本体一侧开设有出气口。
[0007]所述降温组件包括降温壳、风扇、制冷板和半导体制冷片，所述降温壳连接于所述电阻测试仪本体的外壁，所述降温壳底部的一侧开设有进气口，所述制冷板设置有若干块，若干块所述制冷板的板体均位于所述降温壳的内部，若干块所述制冷板的一侧均固定贯穿于所述降温壳的一侧，若干块所述制冷板均匀排列，所述半导体制冷片的吸热面与若干块所述制冷板的一侧均相连接，所述风扇与所述电阻测试仪本体的外壁相连，所述风扇的吸风口与所述降温壳的顶部相连通，所述风扇的出风口与所述电阻测试仪本体的内部相连通。
[0008]在上述实现过程中，当电阻测试仪本体工作时，先通过半导体制冷片对若干块制冷板进行冷却，进而会对降温壳的内部进行冷却，然后通过风扇吸取降温壳内部的被冷却的气体，风扇吸取的被冷却的气体会进入电阻测试仪本体的内部，进而对电阻测试仪本体内部进行降温冷却，而电阻测试仪本体内部的气体会从出气口排出，而外界的气体会从进气口进入降温壳内部，进入降温壳内部的气体会被若干块制冷板降温冷却，可向电阻测试仪本体内部的通入冷气，可较为有效的对电阻测试仪本体内部进行降温，可使得电阻测试仪本体内部的电器元件的温度较低，进而可减小温度对电阻测试仪本体检测精确度的影响，可提高电阻测试仪本体检测的精确度。
[0009]在一种具体的实施方案中，所述出气口内部设置有第一过滤网，所述进气口内部设置有第二过滤网。
[0010]在上述实现过程中，第一过滤网用于防止外界的灰尘进入电阻测试仪本体，第二过滤网用于防止外界的灰尘进入降温壳的内部。
[0011]在一种具体的实施方案中，所述降温壳连接于所述电阻测试仪本体远离所述出气口一侧的外壁，所述降温壳内部的底面倾斜设置。
[0012]在上述实现过程中，降温壳内部的底面倾斜设置方便降温壳内部的水从进气口排出。
[0013]在一种具体的实施方案中，若干块所述制冷板的板体均开设有通孔，所述通孔均开设有若干个，若干个所述通孔均匀分布。
[0014]在上述实现过程中，设置若干个通孔可增加制冷板位与降温壳内部的表面积。可进一步的增加制冷板冷却降温壳内部气体的效果。
[0015]在一种具体的实施方案中，相邻两块所述制冷板板体上的若干个所述通孔一一对应的相互交错设置。
[0016]在上述实现过程中，可以延长降温壳内部的气体处于降温壳内部的时间，可更进一步的增加制冷板冷却降温壳内部气体的效果。
[0017]在一种具体的实施方案中，所述半导体制冷片的吸热面设置有导冷板，若干块所述制冷板的一侧均与所述导冷板的一面相连。
[0018]在一种具体的实施方案中，所述导冷板的外壁套设有隔热罩，所述隔热罩的一侧与所述降温壳的一侧壁相连，所述半导体制冷片的片体贯穿于所述隔热罩。
[0019]在上述实现过程中，隔热罩用于对导冷板进行隔热，可减小外界的热量对导冷板的影响。
[0020]在一种具体的实施方案中，所述风扇的出风口连通有出风管，所述出风管的一端固定贯穿于所述电阻测试仪本体的侧壁。
[0021]在一种具体的实施方案中，所述出风管的一端设置有排风管，所述排风管连接于所述电阻测试仪本体的内壁，所述排风管的管体开设有排风口，所述排风口开设有若干个，若干个所述排风口均匀排列。
[0022]在上述实现过程中，设置若干个排风口可使风扇吸取的冷风较为分散的进入电阻测试仪本体，可更进一步的增加降温的效果。
[0023]在一种具体的实施方案中，所述降温组件还包括通风管，所述通风管的一端与所述出风管相连通，所述通风管的另一端位于所述半导体制冷片吸热面的一侧。
[0024]在上述实现过程中，风扇吸取的冷风会有一部分通过通风管吹向半导体制冷片的吸热面，会对半导体制冷片的吸热面进行降温，可增加半导体制冷片的制冷效果。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0026]图1是本申请实施方式提供的测试精确的电流电阻测试仪结构示意图；
[0027]图2为本申请实施方式提供的电阻测试仪本体结构示意图；
[0028]图3为本申请实施方式提供的降温组件结构示意图；
[0029]图4为本申请实施方式提供的降温壳、制冷板和半导体制冷片部分结构示意图；
[0030]图5为本申请实施方式提供的半导体制冷片、隔热罩和导冷板部分结构示意图。
[0031]图中：100
‑
电阻测试仪本体；111
‑
第一过滤网；200
‑
降温组件；210
‑
降温壳；212
‑
第二过滤网；220
‑
风扇；221
‑
出风管；222
‑
排风管；2221
‑
排风口；230
‑
制冷板；231
‑
通孔；240
‑
半导体制冷片；241
‑
导冷板；2411
‑
隔热罩；250
‑
通风管。
具体实施方式
[0032]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
[0033]为使本申请实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试精确的电流电阻测试仪，其特征在于，包括电阻测试仪本体(100)，所述电阻测试仪本体(100)一侧开设有出气口；降温组件(200)，所述降温组件(200)包括降温壳(210)、风扇(220)、制冷板(230)和半导体制冷片(240)，所述降温壳(210)连接于所述电阻测试仪本体(100)的外壁，所述降温壳(210)底部的一侧开设有进气口，所述制冷板(230)设置有若干块，若干块所述制冷板(230)的板体均位于所述降温壳(210)的内部，若干块所述制冷板(230)的一侧均固定贯穿于所述降温壳(210)的一侧，若干块所述制冷板(230)均匀排列，所述半导体制冷片(240)的吸热面与若干块所述制冷板(230)的一侧均相连接，所述风扇(220)与所述电阻测试仪本体(100)的外壁相连，所述风扇(220)的吸风口与所述降温壳(210)的顶部相连通，所述风扇(220)的出风口与所述电阻测试仪本体(100)的内部相连通。2.根据权利要求1所述的一种测试精确的电流电阻测试仪，其特征在于，所述出气口内部设置有第一过滤网(111)，所述进气口内部设置有第二过滤网(212)。3.根据权利要求1所述的一种测试精确的电流电阻测试仪，其特征在于，所述降温壳(210)连接于所述电阻测试仪本体(100)远离所述出气口一侧的外壁，所述降温壳(210)内部的底面倾斜设置。4.根据权利要求1所述的一种测试精确的电流电阻测试仪，其特征在于，若干块所述制冷板(230)的板体均开设有通孔(231)，所述通孔(231)均开设有若干个，若干个所述通孔(231)...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄美红，陈润芝，王娇，
申请(专利权)人：天津环通检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：