超声波探伤系统及超声波探伤方法技术方案

本发明专利技术公开了超声波探伤系统，属于超声波探测技术领域，包括区域模块和监测分析模块；区域模块用于对工件的表面进行区域划分，得到扫描区域和探伤区域；监测分析模块包含采集单元、处理单元、计算单元和分析单元，超声波探头对工件表面上的探伤区域进行探测前，获取扫描区域的扫描图像，对扫描图像进行分割，得到包含若干个划分图像的分割集，对分割集进行预处理，得到包含待分析图像的扫描信息；计算获取待分析图像的扫分值并对其进行匹配分析；本发明专利技术还公开了超声波探伤方法；本发明专利技术用于解决现有方案中超声波探测前以及探测过程中没有对工件的光洁情况进行分析和提示，导致超声波探测的结果不精准的技术问题。测的结果不精准的技术问题。测的结果不精准的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
超声波探伤系统及超声波探伤方法


[0001]本专利技术涉及超声波
，具体涉及超声波探伤系统及超声波探伤方法。

技术介绍

[0002]超声波探伤是利用超声能透入金属材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法，当超声波自零件表面由超声波探头通至金属内部，遇到缺陷以及零件底面时发生反射波，并在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。
[0003]超声波探测的结果受主观影响较大，缺陷的发现及评定，仅凭借仪器显示的脉冲发射波形，而波形信号的高度、位置和数量等信息，又取决于探伤人员对超声波仪器的调节和判断；并且，通常随着工件光洁度的提高以及投入能量的增加，会使得缺陷检出的效果增加；但是现有的超声波探测前以及探测过程中，没有对工件表面的光洁情况进行监测分析，使得工件表面的异物对超声波探测的结果造成影响。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供超声波探伤系统及超声波探伤方法，解决以下技术问题：如何解决现有方案中超声波探测前以及探测过程中没有对工件的光洁情况本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.超声波探伤系统，包括区域模块和监测分析模块，其特征在于，区域模块用于对工件的表面进行区域划分，得到扫描区域和探伤区域；监测分析模块对扫描区域进行数据采集和处理；其中，超声波探头对工件表面上的探伤区域进行探测前，获取扫描区域的扫描图像，对扫描图像进行分割，得到包含若干个划分图像的分割集，对分割集进行预处理，得到包含待分析图像的扫描信息；包括：统计待分析图像中不同颜色的数量C1；获取待分析图像的面积C2；将待分析图像中面积最大的颜色设定为标准色，并将标准色对应的面积设定为标准面积C3；将其它颜色对应的面积设定为Di，i=1，2，3，...，n；计算获取待分析图像的扫分值；通过公式计算获取待分析图像的扫分值；其中，a1、a2和a3表示为不同的比例系数；对扫分值进行匹配分析，得到包含第一匹配信号、第二匹配信号和第三匹配信号的匹配结果；其中，第一匹配信号和第二匹配信号均表示探测的工件表面光洁情况为合格状态；第三匹配信号表示探测的工件表面光洁情况为不合格状态，扫分值用来表示杂质在工件表面的分布情况，对扫分值进行分析，进而可以获取到工件表面的扫描区域的光洁情况；根据匹配结果对超声波探头的探测进行调整。2.根据权利要求1所述的超声波探伤系统，其特征在于，还包括提示模块和探伤模块，提示模块用于对探伤的环境进行提示和预警；探伤模块包含超声波探头，用于对工件进行超声波探测。3.根据权利要求1所述的超声波探伤系统，其特征在于，对工件的表面进行区域划分的具体步骤包括：获取超声波探头工作时超声波的探伤面积，将工件表面上探伤面积对应的区域设定为探伤区域，根据探伤半径获取正方形的扫描边长以及扫描面积，将工件表面上扫描面积对应的区域设定为扫描区域，对扫描区域的四个顶点分别进行设定，得到第一调节点、第二调节点、第三调节点和第四调节点。4.根据权利要求3所述的超声波探伤系统，其特征在于，对扫描图像进行分割的具体步骤包括：根据扫描图像上探伤区域的四个象限点得到第一定位点、第二定位点、第三定位点和第四定位点，根据第一定位点、第二定位点、第三定位点和第四定位点以及第一调节点、第二调节点、第三调节点和第四调节...

【专利技术属性】
技术研发人员：田代亮，汪幼林，郭棋武，孙圣，雷军军，蔡宇，谢乘勇，
申请(专利权)人：中大检测湖南股份有限公司，
类型：发明
国别省市：