基于数据库及统计分析的化成箔生产方法技术

本发明专利技术涉及一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法,该方法包括采集各测试周期内的测试参数数据，所述测试参数数据包括皮膜耐压值、升压时间、化成箔容量、皮膜耐压最大值、皮膜水煮后耐压、皮膜水煮后耐压最大值、皮膜漏电流和皮膜水煮后升压时间；存储各测试周期内的测试参数数据；根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数；通过数据采集装置采集到的测试参数数据以及存储，对数据进行处理，进而根据检测周期内的参数数据走势，判定基础电量供应下的工作状态，并在基础电量供应的基础上启用备用电量供应，并且在对应的使用时间内启用备用电量供应，使得在化成箔的正常生产，提高化成箔的生产效率。生产效率。生产效率。

【技术实现步骤摘要】
基于数据库及统计分析的化成箔生产方法


[0001]本专利技术涉及加工
，尤其涉及一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法。

技术介绍

[0002]化成箔是一种特制的铝箔，是电容器的专用材料，经过电化学腐蚀，达到电容器使用技术指标的一种材料。这种材料的技术性能决定着电容器的基本技术指标，它分为高压，中压，低压等种类，用途广泛。
[0003]但是在实际生产过程中，实际生产中产生的数据参数则直接记录并存储，通常在生产中，只要相应的数据参数在生产要求区间内，生产出来的化成箔的质量满足实际要求即可，完成实际生产就终止生产过程中，在生产过程中记录的数据参数随着过程终止，生产过程中所产生的参数数据则不再发挥实际作用。
[0004]因此，如何更有效的利用生产过程中的数据参数提高化成箔的生产质量成为人们亟需解决的问题。

技术实现思路

[0005]为此，本专利技术提供一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，可以解决现有技术中对于生产过程中的数据参数利用不充分的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，包括：
[0007]采集各测试周期内的测试参数数据，利用测试参数数据组建参数数据库，所述参数数据库内的测试参数数据包括皮膜耐压值、升压时间、化成箔容量、皮膜耐压最大值、皮膜水煮后耐压、皮膜水煮后耐压最大值、皮膜漏电流和皮膜水煮后升压时间；
[0008]存储各测试周期内的测试参数数据；
[0009]根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数；
[0010]根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数包括：
[0011]在测试周期内，获取测试周期内实时皮膜漏电流LC并将该数据参数通过所述通信网络传递至中控模块，所述中控模块内设有第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2，所述中控模块将获取的实时皮膜漏电流LC与第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2，
[0012]当LC≤LC1时，所述中控模块判定皮膜漏电流过低，化成机出现单点异常，中控模块向所述备用电量供应发出指令，备用电量供应进行启动；
[0013]当LC1＜LC≤LC2时，所述中控模块判定皮膜漏电流正常，中控模块将对所述存储模块发出指令对皮膜漏电流LC进行存储；
[0014]当LC＞LC2时，所述中控模块判定皮膜漏电流过高，化成机出现单点异常，中控模块向所述备用电量供应发出指令，备用电量供应进行启动。
[0015]进一步地，在某一测试周期内皮膜漏电流LC范围正常且皮膜漏电流LC的下一个测试周期内的皮膜漏电流LC
′
范围正常时，所述中控模块计算某一测试周期内的皮膜漏电流LC与下一测试周期内的皮膜漏电流LC
′
的差值的绝对值ΔLC1，ΔLC1＝∣LC
‑
LC
′
∣，中控模块内还设有皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz，中控模块将计算的差值的绝对值ΔLC1与皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz进行对比，
[0016]当ΔLC1≤ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内的皮膜漏电流LC与LC
′
的变化值在合理范围内；
[0017]当ΔLC1＞ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内皮膜漏电流LC与LC
′
的变化值不在合理范围内，中控模块向所述备用电量供应发出指令，启用备用电量供应。
[0018]进一步地，所述当ΔLC1＞ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内皮膜漏电流LC与LC
′
的变化值不在合理范围内，中控模块向所述备用电量供应发出指令，启用备用电量供应包括：
[0019]获取基础电量供应的电压值，根据基础电量供电的电压值获取该基础电量供应的最大使用时间，并根据实际使用时间与最大使用时间，判定该基础电量供应是否能满足要求；
[0020]根据基础电量供应的实际使用时间预测该基础电量供应内的电量的标准使用时间；
[0021]在测试周期内，若经过该测试周期内的实际使用时间≤最大使用时间，则无需对标准使用时间进行调整；
[0022]若该测试周期内的化基础电量供应内电量的实际使用时间>最大使用时间，则需要对标准使用时间进行一次调整。
[0023]进一步地，若该测试周期内的基础电量供应内电量的实际使用时间>最大使用时间，则需要对标准使用时间进行一次调整包括：
[0024]根据经过该测试周期内的基础电量供应的实际使用时间超出预设的标准时间的程度，选择对标准使用时间延长得多少。
[0025]进一步地，所述根据经过该测试周期内的基础电量供应的实际使用时间超出预设的标准时间的程度，，选择对标准使用时间延长得多少包括：
[0026]设置标准使用时间为TO，在预设测试周期内的化基础电量供应内电量的实际使用时间长度为L，预设的最大使用时间长度为L0，若L
‑
L0>0.5
×
L0，则延长标准使用时间为第一标准使用时间T1＝2
×
T0
×
(1+(L
‑
L0)/L0)；
[0027]若L
‑
L0>0.8
×
L0，则延长标准使用时间为第二标准使用时间T2＝1.8
×
T0
×
(1+(L
‑
L0)/L0)；
[0028]若L
‑
L0>L0，则延长标准使用时间为第三标准使用时间T3＝T0
×
(1+(L
‑
L0)/L0)。
[0029]进一步地，还包括在对备用电量供应进行启动的过程中，根据测试周期内的基础电量供应的使用情况二次调整生产周期内的标准使用时间；
[0030]而对备用电量供应进行启动的时间为一次调整和二次调整的叠加，其中二次调整的基础为一次调整的结果，而一次调整的基础为标准使用时间。
[0031]进一步地，所述根据测试周期内的基础电量供应的使用情况二次调整生产周期内的标准使用时间包括：
[0032]处理单元内设置有第一调整系数k1、第二调整系数k2和第三调整系数，且k1>k2>k3，若测试周期内的基础电量供应内电量使用状态良好，则采用第一调整系数k1对生产周期内的标准使用时间进行调整；
[0033]若测试周期内的基础电量供应内电量使用状态一般，则采用第二调整系数k2对生产周期内的标准使用时间进行调整；
[0034]若测试周期内的基础电量供应内电量使用状态差，则采用第三调整系数k3对生产周期内的标准使用时间进行调整。
[0035]进一步地，所述对备用电量供应进行启动的时间为一次调整和二次调整的叠加包括：
[0036本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，包括：采集各测试周期内的测试参数数据，利用测试参数数据组建参数数据库，所述参数数据库内的测试参数数据包括皮膜耐压值、升压时间、化成箔容量、皮膜耐压最大值、皮膜水煮后耐压、皮膜水煮后耐压最大值、皮膜漏电流和皮膜水煮后升压时间；存储各测试周期内的测试参数数据；根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数；根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数包括：在测试周期内，获取测试周期内实时皮膜漏电流LC并将该数据参数通过所述通信网络传递至中控模块，所述中控模块内设有第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2，所述中控模块将获取的实时皮膜漏电流LC与第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2，当LC≤LC1时，所述中控模块判定皮膜漏电流过低，化成机出现单点异常，中控模块向所述备用电量供应发出指令，备用电量供应进行启动；当LC1＜LC≤LC2时，所述中控模块判定皮膜漏电流正常，中控模块将对所述存储模块发出指令对皮膜漏电流LC进行存储；当LC＞LC2时，所述中控模块判定皮膜漏电流过高，化成机出现单点异常，中控模块向所述备用电量供应发出指令，备用电量供应进行启动。2.根据权利要求1所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，在某一测试周期内皮膜漏电流LC范围正常且皮膜漏电流LC的下一个测试周期内的皮膜漏电流LC
′
范围正常时，所述中控模块计算某一测试周期内的皮膜漏电流LC与下一测试周期内的皮膜漏电流LC
′
的差值的绝对值ΔLC1，ΔLC1＝∣LC
‑
LC
′
∣，中控模块内还设有皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz，中控模块将计算的差值的绝对值ΔLC1与皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz进行对比，当ΔLC1≤ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内的皮膜漏电流LC与LC
′
的变化值在合理范围内；当ΔLC1＞ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内皮膜漏电流LC与LC
′
的变化值不在合理范围内，中控模块向所述备用电量供应发出指令，启用备用电量供应。3.根据权利要求2所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，所述当ΔLC1＞ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内皮膜漏电流LC与LC
′
的变化值不在合理范围内，中控模块向所述备用电量供应发出指令，启用备用电量供应包括：获取基础电量供应的电压值，根据基础电量供电的电压值获取该基础电量供应的最大使用时间，并根据实际使用时间与最大使用时间，判定该基础电量供应是否能满足要求；根据基础电量供应的实际使用时间预测该基础电量供应内的电量的标准使用时间；在测试周期内，若经过该测试周期内的实际使用时间≤最大使用时间，则无需对标准使用时间进行调整；若该测试周期内的化基础电量供应内电量的实际使用时间>最大使用时间，则需要对标准使用时间进行一次调整。4.根据权利要求3所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，
若该测试周期内的基础电量供应内电量的实际使用时间>最大使用时间，则需要对标准使用时间进行一次调整包括：根据经过该测试周期内的基础电量供应的实际使用时间超出预设的标准时间的程度，选择对标准使用时间延长得多少。5.根据权利要求4所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，所述根据经过该测试周期内的基础电量供应的实际使用时间超出预设的标准时间的程度，，选择对标准使用时间延长得多少包括：设置标准使用时间为TO，在预设测试周期内的化基础电量供应内电量的实际使用时间长度为L，预设的最大使用时间长度为L0，若L
‑
L0>0.5
×

【专利技术属性】
技术研发人员：李三华，朱益辉，
申请(专利权)人：内蒙古海立电子材料有限公司，
类型：发明
国别省市：