基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备，该方法通过获取垂直剖面上不同高度的N个样品，对N个样品进行分析、处理，得到符合需求的样品，通过符合需求每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果，该热史模拟结果准确率高；该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法在地质的热史模拟中不受地质类型的限制，使用广泛，解决了现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法及系统


[0001]本专利技术涉及地质
，尤其涉及一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备。

技术介绍

[0002]近年来，低温热年代学方法在地质理论研究及能源勘探等方面都得到了广泛的应用。其中低温热年代学方法包含的裂变径迹方法是最常用的一种低温年代学方法。
[0003]传统的低温年代学热史模拟主要是通过裂变径迹方法为其提供了数据参数进行热史模拟的，而采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备，用于解决现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟，该热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：
[0006]一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，包括以下步骤：
[0007]获取待模拟地质在垂本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个所述样品的围限径迹长度分布；基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在所述第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N
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1个所述样品对应的假设热史曲线；依据每个所述样品的所述假设热史曲线计算，得到对应所述样品的模拟长度分布；采用K
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S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度；对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度；依据所述总体拟合优度对每个所述样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个所述样品的热史曲线；根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。2.根据权利要求1所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度的步骤包括：对每个所述样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；对所有所述样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有所述样品的平均标准误差倍数；将所述平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。3.根据权利要求2所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，对每个所述样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；所述第一转换公式为：式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。4.根据权利要求2所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，将所述平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；所述第二转换公式为：式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。5.根据权利要求1所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征
在于，根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果包括：在同一时间点上，对筛选后所有热史曲线上的每个数据求取平均，得到每个数据的平均值；按时间顺序将所有所述数据的平均值连接成曲线，该曲线作为待模拟地质最终的热史模拟结果。6.根据权利要求1所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，包括：基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设至少10000条热史曲线。7.一种基于垂直剖...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁汝鑫，
申请(专利权)人：中山大学，
类型：发明
国别省市：