电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备，涉及测试领域。通过多个故障测试单元对电机进行故障检测，以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据，同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障，在重启次数小于最大重启次数时，指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守，在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因，极大地提高了电机的故障检测效率和准确度。检测效率和准确度。检测效率和准确度。

【技术实现步骤摘要】
电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及测试领域，尤其涉及一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]电机在出厂前需要执行老化测试，老化测试的过程包括：测试人员设置老化测试的测试参数和老化时间段，电机根据测试参数在老化时间段内执行老化测试，在老化测试过程中，测试人员观察通过观察电机的运行状态(是否正常转动)和电机的外观来识别是否发生故障。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及自动测试设备，可以解决相关技术中电机的老化测试效率低和测量结果不准确的问题。所述技术方案如下：
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种电机的老化测试方法，所述方法包括：
[0005]加载老化测试程序对电机进行老化测试；
[0006]在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
[0007]在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
[0008]存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
[0009]根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
[0010]若为是，统计当前的累计重启次数；
[0011]若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
[0012]第二方面，本申请实施例提供了一种电机的老化测试装置，包括：
[0013]加载单元，用于加载老化测试程序对电机进行老化测试；
[0014]检测单元，用于在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
[0015]识别单元，用于在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
[0016]存储单元，用于存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
[0017]所述识别单元，还用于根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
[0018]统计单元，用于若为是，统计当前的累计重启次数；
[0019]重启单元，用于若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执
行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
[0020]第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0021]第四方面，本申请实施例提供一种电子设备，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0022]本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
[0023]在电机的老化测试过程中，通过多个故障测试单元对电机进行故障检测，以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据，同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障，在重启次数小于最大重启次数时，指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守，在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因，极大地提高了电机的故障检测效率和准确度。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1是本申请实施例提供的网络结构图；
[0026]图2是本申请实施例提供的一种电机的老化测试方法的流程示意图；
[0027]图3是本申请实施例提供的故障数据的结构图；
[0028]图4是本申请实施例提供的一种电机的老化测试装置的结构示意图；
[0029]图5是本申请实施例提供的一种装置的结构示意图。
具体实施方式
[0030]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
[0031]下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0032]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0033]参见图1，为本申请实施例提供的一种网络架构图，本申请的网络架构包括：测试设备11、驱动板12和电机13，电机13的数量可以是多个，驱动板12可以批量地对多个电机13
同时进行老化测试。
[0034]其中，本申请的测试设备11具有显示装置。测试设备11、驱动板12和电机13之间的通信的方式可以是有线通信方式(例如：串口通信方式)，有线通信方式包括但不限于USB线缆、URAT线缆、网线、同轴电缆或其他线缆等。
[0035]基于图1的网络架构，请参见图2，为本申请实施例提供的一种电机的老化测试方法的流程示意图。如图2所示，本申请实施例的所述方法可以包括以下步骤：
[0036]S201、加载老化测试程序对电机进行老化测试。
[0037]其中，电机的驱动板内置和存储器和处理器，驱动板加载老化测试程序，老化测试程序定义有老化测试的相关规则，例如：老化时间、电机的输入电气测试和运转方式等。驱动板根据加载的老化测试程序对电机执行老化测试。本申请的驱动板可支持对多个电机进行批量的老化测试，提高测试效率。
[0038]S202、在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对电机进行故障检测。
[0039]其中，在老化测试的时间区间内，驱动板通过多个故障检测单元对电机进行故障检测，每个故障检测单元执行一种故障类型的检测。故障检测单元可以是硬件单元，也可以是软件单元。例如：多个硬件检测单元为：电流检测单元、电压检测单元、堵转检测单元、缺相检测单元、过温检测单元和数据校验单元；电流检测单元和电压检测单元为硬件单元，其余的为软件单元，电流检测单元用于检测电机是否存在电流异常(即电机的工作电流值偏离正常电流范围)，电压检测单元用于检测电机是否存在电压异常(即电机的工作电压值偏离正常电压范围，具体分为过压和欠压)，堵转检测单元用于检测电机是否存在堵转本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电机的老化测试方法，其特征在于，包括：加载老化测试程序对电机进行老化测试；在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；若为是，统计当前的累计重启次数；若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：若所述累计重启次数等于所述最大重启次数时，指示所述电机停止工作。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：若所述第i次故障为不可重启故障，指示所述电机停止工作。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第i次故障的故障数据还关联有CRC校验码。5.根据权利要求1或2或4所述的方法，其特征在于，所述第i次故障的故障数据包括：第一故障日志数据和第二故障日志数据，第一故障日志数据表示温度异常和电压异常，所述第二故障日志数据表示缺相异常和堵转异常。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一故障日志数据包括：电压异常标志位、过压标志位、欠压标志位、电压异常的重启次数、温度异常标志位和温度异常的电压值；所述第二故障日志...

【专利技术属性】
技术研发人员：付国强，黄立伟，李应浪，江华彬，李德森，
申请(专利权)人：珠海泰芯半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：