光调制控制装置及马赫曾德干涉装置制造方法及图纸

光调制控制装置(5)构成为，具备：光检测器(21)或光检测器(29)，其检测从马赫曾德干涉仪(4)出射的光，输出表示光的强度的强度信号；以及相位偏置搜索部(22)，其调整向马赫曾德干涉仪(4)的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从光检测器(21)输出的强度信号成为极小值时的相位偏置、或者从光检测器(29)输出的强度信号成为极大值时的相位偏置，记录搜索到的相位偏置和光的波长的组。置和光的波长的组。置和光的波长的组。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光调制控制装置及马赫曾德干涉装置


[0001]本专利技术涉及搜索相位偏置的光调制控制装置及马赫曾德干涉装置。

技术介绍

[0002]在光纤通信的领域中，以提高每1个信道的传输容量为目的，有时使用利用QAM(Quadrature Amplitude Modulation：正交调幅)等调制方式的调制器。
[0003]在以下的非专利文献1中，公开了一种对从光源出射的光进行调制的马赫曾德调制器。
[0004]在以下的非专利文献1所公开的马赫曾德调制器中，使用磷化铟(InP)等半导体材料。
[0005]通过使用InP等半导体材料，能够使马赫曾德调制器与光源一体化，因此，能够实现具备马赫曾德调制器和光源的装置整体的小型化。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]非专利文献1：川西哲也，“超高速
·
大容量光伝送
を
実現
する
高速高精度光変調技術,”光学/应用物理学会分科会日本光学会，第38卷5号，pp.246
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光调制控制装置，其中，所述光调制控制装置具备：光检测器，其检测从马赫曾德干涉仪出射的光，输出表示所述光的强度的强度信号；以及相位偏置搜索部，其调整向所述马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从所述光检测器输出的强度信号成为极小值时的相位偏置或者所述强度信号成为极大值时的相位偏置，记录搜索到的所述相位偏置与所述光的波长的组。2.根据权利要求1所述的光调制控制装置，其特征在于，所述马赫曾德干涉仪具有出射光的第1输出端口、以及出射与从所述第1输出端口出射的光反相的光的第2输出端口，如果由所述光检测器检测到的光是从所述第1输出端口出射的光，则所述相位偏置搜索部搜索从所述光检测器输出的强度信号成为极小值时的相位偏置，如果由所述光检测器检测到的光是从所述第2输出端口出射的光，则所述相位偏置搜索部搜索从所述光检测器输出的强度信号成为极大值时的相位偏置。3.根据权利要求1所述的光调制控制装置，其特征在于，所述相位偏置搜索部具备：相位偏置调整部，其调整向所述马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置；延迟器，其将从所述光检测器输出的强度信号保持延迟时间之后输出；放大器，其放大从所述光检测器输出的强度信号，输出放大后的强度信号；比较器，其输出差分信号，该差分信号表示从所述延迟器输出的强度信号与从所述放大器输出的强度信号的差分；以及相位偏置记录部，其从注入到所述光路的相位偏置中搜索从所述比较器输出的差分信号的绝对值小于阈值时的1个以上的相位偏置，在从所述光检测器输出的强度信号中的与搜索到的1个以上的相位偏置对应的强度信号中搜索最小的强度信号或最大的强度信号，使与搜索到的最小的强度信号对应的相位偏置和所述光的波长的组、或者与搜索到的最大的强度信号对应的相位偏置和所述光的波长的组被记录。4.根据权利要求3所述的光调制控制装置，其特征在于，所述相位偏置调整部按照从所述比较器输出的差分信号，调整所述放大器中的强度信号的放大率。5.根据权利要求3所述的光调制控制装置，其特征在于，所述马赫曾德干涉仪将入射光分配为2个光，将分配后的2个光的合成光向所述光检测器出射，所述马赫曾德干涉仪具有分别传输所述2个光的2个光路作为所述内部的光路，所述相位偏置调整部按照从所述比较器输出的差分信号，调整向所述2个光路中的一方的光路注入的相位偏置。6.根据权利要求3所述的光调制控制装置，其特征在于，所述马赫曾德干涉仪将入射光分配为2个光，将分配后的2个光的合成光向所述光检测器出射，所述马赫曾德干涉仪具有分别传输所述2个光的2个光路作为所述内部的光路，
所述相位偏置调整部按照从所述比较器输出的差分信号，调整向所述2个光路分别注入的相位偏置。7.根据权利要求1所述的光调制控制装置，其特征在于，所述相位偏置搜索部调整向所述马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从所述光检测器输出的强度信号成为极小值时的相位偏置和所述强度信号成为极大值时的相位偏置，使成为所述极小值时的相位偏置、所述强度信号成为极大值时的相位偏置以及所述光的波长的组被记录。8.根据权利要求1所述的光调制控制装置，其特征在于，所述马赫曾德干涉仪具备：第1马赫曾德干涉仪，其将入射光分配为2个光，且具有分别传输分配后的2个光的2个光路；第2马赫曾德干涉仪，其被插入到所述第1马赫曾德干涉仪具有的2个光路中的一方的光路；以及第3马赫曾德干涉仪，其被插入到所述第1马赫曾德干涉仪具有的2个光路中的另一方的光路，所述光检测器检测从所述第1马赫曾德干涉仪、所述第2马赫曾德干涉仪及所述第3马赫曾德干涉仪分别出射的光，所述相位偏置搜索部调整向所述第2马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从所述光检测器输出的强度信号中的表示从所述第2马赫曾德干涉仪出射的光的强度的第2强度信号成为极小值时的相位偏置或者所述第2强度信号成为极大值时的相位偏置，记录所述第2强度信号成为极小值或极大值时的相位偏置和所述光的波长的组，所述相位偏置搜索部调整向所述第3马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从所述光检测器输出的强度信号中的表示从所述第3马赫曾德干涉仪出射的光的强度的第3强度信号成为极小值时的相位偏置或者所述第3强度信号成为极大值时的相位偏置，记录所述第3强度信号成为极小值或极大值时的相位偏置和所述光的波长的组，所述相...

【专利技术属性】
技术研发人员：三浦浩志，铃木巨生，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：