【技术实现步骤摘要】
存储器的修复电路及方法
[0001]本专利技术涉及存储器领域，具体涉及一种存储器的修复电路及方法，特别是涉及一种以位元群组为单位的修复电路及方法。
技术介绍
[0002]存储器会因为在制造过程中的各种非理想因素而产生不佳位元，因此在设计存储器时，除了原本的一般位元之外，还会利用内部的部分空间设置多余位元，当存储器经由测试发现一般位元中具有不佳位元时，可以使用多余位元取代这些不佳位元，以发挥修复效能，提升存储器的制造良率。传统的修复存储器方式是在设计时加入多余列(rowredundancy)或多余行(columnredundancy)的辅助电路，以在发现存储器中具有不佳位元时，可以取代包含该不佳存储器位元的行或列。
[0003]然而，传统的方法是替换一整行或一整列的位元，因此除了替换不佳位元之外，也会替换一行或一列中的良好位元，造成浪费。此外随着存储器尺寸缩小及存储器容量增大，存储器位元阵列密度随之提高，因此不佳存储器位元的数量也随之增多，设置多余行或多余列的空间需求也变多，导致若要配置足够的多余行或多余列的存储器位元...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储器的修复方法，其特征在于，该存储器包括多个一般位元及多个多余位元，该修复方法包括下列步骤：A.将该多个一般位元分成多个第一群组，其中该多个第一群组各具有t个一般位元，t为大于或等于2的整数；B.将该多个多余位元分成多个第二群组，其中该多个第二群组各具有t个多余位元；C.检测该多个第一群组以产生多个第一修补资料，其中该多个第一修补资料用于分别标记该多个第一群组是否具有不佳位元；以及D.使用该多个第二群组中的一个第二群组取代具有不佳位元的第一群组；其中，该多个一般位元及多个多余位元在内部存取时被同时选取。2.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，该多个一般位元及多个多余位元位于同一列。3.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，还包括将该多个一般位元及该多个多余位元连接至一暂存器后，进行步骤A及B。4.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，还包括：检测该多个第二群组以产生多个第二修补资料，其中该多个第二修补资料用于分别标记该多个第二群组是否具有不佳位元；以及根据该多个第二修补资料排除具有不佳位元的第二群组，以避免该具有不佳位元的第二群组被用来取代该具有不佳位元的第一群组。5.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，该步骤B包括将该多个多余位元中的良好位元分成该多个第二群组。6.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，该步骤D包括在该多个第一群组中的第M个第一群组具有不佳位元时，根据对应该第一个第一群组至第M个第一群组的第一修补资料从该多个第二群组中选取其中一个第二群组取代该第M个第一群组，M为大于0的整数。7.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，该步骤D包括在该多个第一群组中的第M个第一群组具有不佳位元时，根据该多个第一修补资料中对应该第M个第一群组的第M个第一修补资料从该多个第二群组中选取其中一个第二群组取代该第M个第一群组，M为大于0的整数。8.根据权利要求7所述的修复方法，其特征在于，该第M个第一修补资料包含要被选取的第二群组的信息。9.根据权利要求7所述的修复方法，其特征在于，还包括解码该第M个第一修补资料产生一选择信号以选取要取代该第M个第一群组的第二群组。10.一种存储器的修复方法，其特征在于，该存储器包括多个一般位元及多个多余位元，该修复方法包括下列步骤：A.将连接至暂存器该多个一般位元分成多个第一群组，其中该多个第一群组各具有t个一般位元，t为大于或等于2的整数；B.将连接至该暂存器该多个多余位元分成多个第二群组，其中该多个第二群组各具有t个多余位元；C.检测该多个第一群组以产生多个第一修补资料，其中该多个第一修补资料用于分别标记该多个第一群组是否具有不佳位元；以及
D.使用该多个第二群组中的一个第二群组取代具有不佳位元的第一群组。11.根据权利要求10所述的修复方法，其特征在于，该多个一般位元及多个多余位元位于同一列。12.根据权利要求10所述的修复方法，其特征在于，还包括：检测该多个第二群组以产生多个第二修补资料，其中该多个第二修补资料用于分别标记该多个第二群组是否具有不佳位元；以及根据该多个第二修补资料排除具有不佳位元的第二群组，以避免该具有不佳位元的...
【专利技术属性】
技术研发人员：林金溪，
申请(专利权)人：珠海南北极科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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