一种点亮测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及治具，特别涉及一种点亮测试治具，包括箱体，箱体为封闭中空结构，至少一个侧面设有透光孔；光源，光源设置在透光孔内侧并固定于箱体内部，用于发射光以照射位于透光孔外侧的产品；电源，电源与光源电连接。本实用新型专利技术提供的点亮测试治具，通过对治具结构的设计，可根据产品的不同来调节出射光的光强和光亮度，并将光源中发散的光集中在小的区域中并使其出射，避免光的发散区域过大而导致来源于不同发散区域的光对产品表面上特定待测区域产生的叠加干扰，使产品的外观质量问题的检测效果更为理想。测效果更为理想。测效果更为理想。

【技术实现步骤摘要】
一种点亮测试治具


[0001]本技术涉及治具，特别涉及一种点亮测试治具。

技术介绍

[0002]为了清楚地观察到产品外观上的一些质量问题，常采用透光箱作为一种测试治具对产品进行检测，透光箱的基本结构包括一个箱体及一个光源，因光源发散区域大，光源不能集中从产品内部照射产品内壁，而是有部分光源从产品外部照射产品外壁，这导致透光箱比较适用于大面积产品上部外观问题的检测及识别，对侧面的外观质量问题检出的效果不理想，经常导致产品侧面的外观质量问题或一些微小的外观质量问题无法检测出。
[0003]2013年8月7日授权公告的授权公告号为CN203117116U的中国专利“一种薄壁部件外观检查辅助治具”公开了一种薄壁部件外观检查辅助治具，用于辅助检查薄壁部件产品外观缺陷，包括箱体，在箱体底部设置有向上照射的光源，箱体上表面设置有透光板，待检查产品放于透光板上。本技术可以使光线从下向上照射待检查产品，更加便于观察产品表面的缺陷不良，降低了漏检率，提高了产品出厂合格率。但因其不能根据产品的不同来调节出射光的光强和光亮度，检测效果可能不理想。

技术实现思路

[0004]为解决现有的外观检测治具不能根据产品的不同来调节出射光的光强和光亮度，对侧面的质量问题以及一些微小的外观质量问题检测效果不理想的问题，本技术提供了一种点亮测试治具，包括箱体，所述箱体为封闭中空结构，至少一个侧面设有透光孔；遮光盖，所述遮光盖扣合在至少一个所述透光孔上，用于遮挡透过所述透光孔发射的光；光源，所述光源设置在所述透光孔内侧并固定于所述箱体内部，用于发射光以照射位于所述透光孔外侧的产品；电源，所述电源与所述光源电连接。
[0005]根据上述技术方案，进一步地，还包括控制开关，所述控制开关与所述电源电连接，用于控制所述光源的光强和光亮度。
[0006]根据上述技术方案，进一步地，所述光源和所述电源通过电路板电连接，所述电路板固定于所述箱体内部。
[0007]优选地，所述电路板为PCB电路板。
[0008]优选地，所述光源为LED灯条，所述LED灯条嵌设在所述电路板上。
[0009]优选地，在未扣合所述遮光盖时，所述透光孔外侧设置透光罩，所述透光罩用于使光聚集后出射。
[0010]优选地，设置透光孔的侧面上的所述透光孔的个数为2至8个。
[0011]优选地，所述设置透光孔的侧面上设置有定位孔。
[0012]优选地，所述定位孔的个数为2至8个。
[0013]根据上述技术方案，进一步地，不包括所述遮光盖。
[0014]本技术提供的点亮测试治具，通过对治具结构的设计，可根据产品的不同来
调节出射光的光强和光亮度，并将光源中发散的光集中在小的区域中并使其出射，避免光的发散区域过大而导致来源于不同发散区域的光对产品表面上特定待测区域产生的叠加干扰，使产品的外观质量问题的检测效果更为理想。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本技术提供的一种点亮测试治具示意图一；
[0017]图2为本技术提供的一种点亮测试治具的电路板和LED电源示意图；
[0018]图3为本技术提供的一种点亮测试治具的电源和控制开关示意图；
[0019]图4为本技术提供的一种点亮测试治具的内部结构示意图。
[0020]附图标记：
[0021]100 箱体
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110 设置透光孔的侧面
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111 透光孔
[0022]112 定位孔
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200 遮光盖
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300 光源
[0023]400 电源
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500 控制开关
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600 电路板
[0024]700 透光罩
具体实施方式
[0025]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0027]本技术提供了一种点亮测试治具，包括箱体100，所述箱体100为封闭中空结构，至少一个侧面设有透光孔111；遮光盖200，所述遮光盖200扣合在至少一个所述透光孔111上，用于遮挡透过所述透光孔111发射的光；光源300，所述光源300设置在所述透光孔111内侧并固定于所述箱体100内部，用于发射光以照射位于所述透光孔111外侧的产品；电源400，所述电源400与所述光源300电连接。
[0028]为了解决现有技术中的治具不能根据产品的不同来调节出射光的光强和光亮度这一问题，具体实施时，如图1至图4所示，本技术提供的点亮测试治具包括箱体100，所述箱体100为封闭中空结构，至少一个侧面设有透光孔111。示例的，所述透光孔111至少为2个。遮光盖200，所述遮光盖200扣合在至少一个所述透光孔111上，用于遮挡透过所述透光孔111发射的光。所述遮光盖200可以遮住所述透光孔111，由于特定所述箱体100上的所述
透光孔111的分布位置特定，当被遮住的所述透光孔111不同时，从所述箱体100中出射光的光强和光亮度的分布也不同，这就可以根据产品的不同形貌来调节出射光的光强和光亮度的分布。光源300，所述光源300设置在所述透光孔111所在的侧面内侧并固定于所述箱体100内部，用于发射光以照射位于所述透光孔111所在的侧面外侧的产品。电源400，所述电源400与所述光源300电连接。示例的，所述光源300可以是LED光源和现有技术中的其他光源，本领域技术人员可以根据实际需要选择现有技术中的光源。示例的，所述电源400可以位于所述箱体100内部，也可以位于所述箱体100外部并与所述箱体100内部的所述光源300电连接。所述电源400可以是现有技术中的电源光源，本领域技术人员可以根据实际需要选择现有技术中的电源。所述透光孔111为通孔。所述透光孔111内侧和所述透光孔111外侧被设置透光孔的侧面分开，所述透光孔111本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种点亮测试治具，其特征在于：包括箱体(100)，所述箱体(100)为封闭中空结构，至少一个侧面设有若干透光孔(111)；遮光盖(200)，所述遮光盖(200)扣合在至少一个所述透光孔(111)上，用于遮挡透过所述透光孔(111)发射的光；光源(300)，所述光源(300)设置在所述透光孔(111)内侧并固定于所述箱体(100)内部，用于发射光以照射位于所述透光孔(111)外侧的产品；电源(400)，所述电源(400)与所述光源(300)电连接。2.根据权利要求1所述的点亮测试治具，其特征在于：还包括控制开关(500)，所述控制开关(500)与所述电源(400)电连接，用于控制所述光源(300)的光强和光亮度。3.根据权利要求2所述的点亮测试治具，其特征在于：所述光源(300)和所述电源(400)通过电路板(600)电连接，所述电路板(600)固定于所述箱体(100)内部。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：王光荣，
申请(专利权)人：普禄达厦门电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：