一种集束多通道低互调测试转接头连接器制造技术

本实用新型专利技术提供一种集束多通道低互调测试转接头连接器，包括一体式中心针，并保证足够的接触保持力，一体式中心针包括直通型中心针和弯钩型中心针，避免通道之间出现零件干涉，多个天线连接器，其中包括NEX10母头和第一接触头，集束多通道连接器，其中包括MQ4/MQ5母头和第二接触头，天线连接器与集束多通道连接器穿插连接，天线连接器还包括多个绝缘体和外导体，外导体内设有输入通道，输入通道包括直通型通道和弯式通道，本实用新型专利技术能够在有限的测试空间内，完成集束多通道连接器低互调性能测试并保证测试可靠性，节省测试空间和成本，一致性好，使用寿命长。使用寿命长。使用寿命长。

【技术实现步骤摘要】
一种集束多通道低互调测试转接头连接器


[0001]本技术属于转接器
，具体涉及一种集束多通道低互调测试转接头连接器。

技术介绍

[0002]为适应整机设备小型化、模块化、高频化、高精度、高可靠的发展，射频连接器新产品不断被研制出来，使射频连接器不断向小型化、高可靠、高频率、高功率、高集成的方向发展。同时，无源互调要求是同轴连接器的趋势，越来越多的网络运营商、系统设备制造商和射频器件制造商都关注互调性能。多通道的集束射频连接器的设计应预防无源互调干扰的产生，满足市场要求是未来的发展趋势，通信设备越来越小型化、模块化，这种低互调多通道的集束射频连接器将取代常规的多条电缆组件连接方式，具有广泛的市场应用前景。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种集束多通道低互调测试转接头连接器，设计紧凑，节省测试空间和成本，使用方便。
[0004]本技术提供了如下的技术方案：
[0005]一种集束多通道低互调测试转接头连接器，包括一体式中心针；多个天线连接器，包括NEX 10母头和第一接触头，所述第一接触头与一体式中心针连接且均插设于天线连接器内；集束多通道连接器，包括MQ4/MQ5母头和第二接触头，所述天线连接器与集束多通道连接器穿插连接，所述第二接触头与一体式中心针远离第一接触头一端连接。
[0006]优选的，所述天线连接器还包括多个绝缘体和外导体；所述外导体内设有输入通道，所述绝缘体、一体式中心针、NEX 10母头和第一接触头均设于输入通道内，所述绝缘体分段式设于一体式中心针外侧。
[0007]优选的，所述第一接触头设于外导体的内壁上且设于一体式中心针的一端，NEX 10母头设于输入通道远离集束多通道连接器一端，且通过第一接触头与一体式中心针连接。
[0008]优选的，所述集束多通道连接器底部设有多个凹槽，所述天线连接器插设于凹槽内。
[0009]优选的，所述第二接触头设于外导体的内壁上且设于一体式中心针的另一端，MQ4/MQ5母头设于凹槽内远离第一接触头一端，且通过第二接触头与一体式中心针连接。
[0010]优选的，所述一体式中心针包括直通型中心针和弯钩型中心针，所述输入通道包括直通型通道和弯式通道。
[0011]优选的，所述集束多通道连接器外侧还设有保护外壳。
[0012]本技术的有益效果是：在有限的测试空间内，完成集束多通道连接器低互调性能测试并保证测试可靠性，并且产品设计紧凑，节省测试空间和成本，一致性好，使用寿命长。
附图说明
[0013]图1是本技术的整体结构示意图；
[0014]图2是本技术的内部结构示意图；
[0015]图3是本技术的实例二的结构示意图。
[0016]图中标记为：1
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一体式中心针、2
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第一接触头、3
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外导体、4
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NEX 10母头、5
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绝缘体、6
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第二接触头、7
‑
MQ4/MQ5母头、8
‑
天线连接器、9
‑
集束多通道连接器、10
‑
外壳。
具体实施方式
[0017]下面结合具体实施方式对本专利技术的技术方案作进一步详细的说明。
[0018]实施例一
[0019]一种集束多通道低互调测试转接头连接器，包括一体式中心针1；
[0020]如图2所示，多个天线连接器8，包括NEX 10母头4和第一接触头2，第一接触头2与一体式中心针1连接且均插设于天线连接器5内，集束多通道连接器9，包括MQ4/MQ5母头7和第二接触头6，天线连接器8与集束多通道连接器9穿插连接，第二接触头6与一体式中心针1远离第一接触头2一端连接，为了保证优良的低互调性能，采用一体式中心针1结构并保证足够的接触保持力。
[0021]天线连接器8还包括多个绝缘体5和外导体3，外导体3内设有输入通道，绝缘体5、一体式中心针1、NEX 10母头4和第一接触头2均设于输入通道内，绝缘体5分段式设于一体式中心针1外侧。
[0022]第一接触头2设于外导体3的内壁上且设于一体式中心针1的一端，NEX 10母头4设于输入通道远离集束多通道连接器9一端，且通过第一接触头2与一体式中心针1连接。
[0023]如图1所示，集束多通道连接器9底部设有多个凹槽，天线连接器1插设于凹槽内。
[0024]第二接触头6设于外导体3的内壁上且设于一体式中心针1的另一端，MQ4/MQ5母头7设于凹槽内远离第一接触头2一端，且通过第二接触头6与一体式中心针1连接。
[0025]一体式中心针1包括直通型中心针和弯钩型中心针，为了避免通道之间出现零件干涉，输入通道包括直通型通道和弯式通道。
[0026]实施例二
[0027]如图3所示，本实施例与实施例一的区别特征在于：集束多通道连接器9外侧还设有保护外壳10，用于提高设备的使用寿命。
[0028]使用时，集束多通道低互调测试转接头一头是天线连接器8，另外一头是集束多通道连接器9，这种连接方式可以替代现有技术中，大多数产品采用多根电缆组件连接的方式，同时为了避免通道之间出现零件干涉，有的通道是直式连接，有的通道是弯式连接，优化设计内部机械结构，采用一体式中心针1结构并保证足够的接触保持力，保证了设备优良的低互调性能。
[0029]以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集束多通道低互调测试转接头连接器，其特征在于，包括：一体式中心针；多个天线连接器，包括NEX 10母头和第一接触头，所述第一接触头与一体式中心针连接且均插设于天线连接器内；集束多通道连接器，包括MQ4/MQ5母头和第二接触头，所述天线连接器与集束多通道连接器穿插连接，所述第二接触头与一体式中心针远离第一接触头一端连接。2.根据权利要求1所述的一种集束多通道低互调测试转接头连接器，其特征在于，所述天线连接器还包括多个绝缘体和外导体；所述外导体内设有输入通道，所述绝缘体、一体式中心针、NEX 10母头和第一接触头均设于输入通道内，所述绝缘体分段式设于一体式中心针外侧。3.根据权利要求1所述的一种集束多通道低互调测试转接头连接器，其特征在于，所述第一接触头设于外导体的内壁上且设于一体式中心针的一端，NEX 10...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾娟，刘丽，李相峰，于保成，
申请(专利权)人：灏讯电缆连接器制造常州有限公司，
类型：新型
国别省市：