SSD的温控方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及SSD的温控方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：获取SSD工作时NAND的温度值；判断温度值是否大于设定阈值；若是，则SSD暂停T1时间；设置倒计时T2，在倒计时T2内，SSD处理主机发出的读写数据请求；若倒计时结束，则执行所述获取SSD工作时NAND的温度值。本发明专利技术通过调整SSD内部读写过程中的暂停时间T1及倒计时T2，可以在有效控制SSD工作温度前提下实现SSD性能平滑下降，提升了用户使用体验。使用体验。使用体验。

【技术实现步骤摘要】
SSD的温控方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及SSD的温控
，尤其是指SSD的温控方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前主流的固态硬盘(SSD)基本都有温控方案，为了在SSD内部NAND温度到一定阈值时通过降低SSD性能，来降低SSD工作温度，保证SSD工作稳定性。然而主流SSD采取的方案均是在阈值时，通过内部降频或者限制内部通路节点的数量降低SSD性能，缺陷是性能瞬间突降，严重影响用户使用体验。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供SSD的温控方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]SSD的温控方法，包括以下步骤：
[0006]获取SSD工作时NAND的温度值；
[0007]判断温度值是否大于设定阈值；
[0008]若是，则SSD暂停T1时间；
[0009]设置倒计时T2，在倒计时T2内，SSD处理主机发出的读写数据请求；若倒计时结束，则执行所述获取SSD工作时NAND的温度值。
[0010]其进一步技术方案为：所述设定阈值为60℃
‑
80℃。
[0011]其进一步技术方案为：所述若是，则SSD暂停T1时间步骤中，在暂停T1时间内，SSD不处理主机发出的读写数据请求。
[0012]其进一步技术方案为：所述倒计时T2为30毫秒
‑
600毫秒。
[0013]SSD的温控装置，包括：获取单元，判断单元，暂停单元及设置处理单元；
[0014]所述获取单元，用于获取SSD工作时NAND的温度值；
[0015]所述判断单元，用于判断温度值是否大于设定阈值；
[0016]所述暂停单元，用于SSD暂停T1时间；
[0017]所述设置处理单元，用于设置倒计时T2，在倒计时T2内，SSD处理主机发出的读写数据请求；若倒计时结束，则执行所述获取SSD工作时NAND的温度值。
[0018]其进一步技术方案为：所述设定阈值为60℃
‑
80℃。
[0019]其进一步技术方案为：所述暂停单元中，在暂停T1时间内，SSD不处理主机发出的读写数据请求。
[0020]其进一步技术方案为：所述倒计时T2为30毫秒
‑
600毫秒。
[0021]一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的SSD的温控方法。
[0022]一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的SSD的温控方法。
[0023]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：通过调整SSD内部读写过程中的暂停时间T1及倒计时T2，可以在有效控制SSD工作温度前提下实现SSD性能平滑下降，提升了用户使用体验。
[0024]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本专利技术实施例提供的SSD的温控方法的流程示意图；
[0027]图2为本专利技术实施例提供的SSD的温控方法的温控性能曲线示意图；
[0028]图3为本专利技术实施例提供的SSD的温控装置的示意性框图；
[0029]图4为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0031]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0032]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0033]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0034]请参阅图1到图4所示的具体实施例，请参阅图1至图2所示，本专利技术公开了一种SSD的温控方法，包括以下步骤：
[0035]S1，获取SSD工作时NAND的温度值；
[0036]S2，判断温度值是否大于设定阈值；若否，则执行步骤S5；
[0037]其中，在本实施例中，设定阈值为60℃
‑
80℃，具体数值可以根据实际需要进行设定，例如：76℃，以满足不同地应用场景的需求。
[0038]S3，若是，则SSD暂停T1时间；
[0039]其中，在本实施例中，T1为10ms
‑
40ms，在暂停T1时间内，SSD不处理主机发出的读写数据请求。
[0040]S4，设置倒计时T2，在倒计时T2内，SSD处理主机发出的读写数据请求；若倒计时结束，则执行所述获取SSD工作时NAND的温度值；
[0041]S5，SSD正常处理主机发出的读写数据请求。
[0042]其中，在SSD的内部定时器中设置倒计时T2。倒计时T2为30毫秒
‑
600毫秒，具体数值可以根据实际需要进行设定，以满足不同地应用场景的需求。
[0043]其中，如图2所示，性能曲线对应的T1时间为20ms，T2时间是通过性能数据拟合1分钟平滑下降的抛物曲线，每1秒钟更新一次，对应的时间为：{600ms,600ms,600ms,500ms,500ms,500ms,400ms,400ms,400ms,400ms,380ms,380ms,350ms,170ms,170ms,170ms,160ms,160ms,160ms,160ms,150ms,150ms,120ms,120ms,120ms,110ms,110ms,110ms,110ms,110ms,100ms,100ms,100ms,100ms,90ms,90ms,90ms,80ms,80ms,80ms,70ms,70ms,70ms,60ms,60ms,60ms,60ms,50ms,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.SSD的温控方法，其特征在于，包括以下步骤：获取SSD工作时NAND的温度值；判断温度值是否大于设定阈值；若是，则SSD暂停T1时间；设置倒计时T2，在倒计时T2内，SSD处理主机发出的读写数据请求；若倒计时结束，则执行所述获取SSD工作时NAND的温度值。2.根据权利要求1所述的SSD的温控方法，其特征在于，所述设定阈值为60℃
‑
80℃。3.根据权利要求1所述的SSD的温控方法，其特征在于，所述若是，则SSD暂停T1时间步骤中，在暂停T1时间内，SSD不处理主机发出的读写数据请求。4.根据权利要求1所述的SSD的温控方法，其特征在于，所述倒计时T2为30毫秒
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600毫秒。5.SSD的温控装置，其特征在于，包括：获取单元，判断单元，暂停单元及设置处理单元；所述获取单元，用于获取SSD工作时NAND的温度值；所述判断单元，用于判断温度值是否大于设定阈值；所述暂停单元，用于SSD暂停T1时间；所述设置处理单元，用于设置倒计...

【专利技术属性】
技术研发人员：付东松，韩道静，王飞，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：