误码测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术一种误码测试装置，包括PCB电路板、第一光模块插座、第二光模块插座、误码测试模块；所述第一光模块插座与第二光模块插座通过PCB电路板实现电气连接，误码测试模块与第一光模块插座通过金手指连接，第一光模块插座与外部上位机连接，待测光模块通过金手指与第二光模块插座连接；所述误码测试模块包括相互连接的收发芯片和控制单元；控制单元控制收发芯片对产生的伪随机码序列和接收的待比较信号进行比较；误码测试模块通过金手指连接，简化且缩短线缆的连接，降低信号的传输损耗，提高误码测试的准确率；且该方案还能够有效将误码测试设备小型化、便携化，有效降低误码测试仪器的制造成本，方便携带误码测试仪器到现场进行检测。行检测。行检测。

【技术实现步骤摘要】
误码测试装置


[0001]本专利技术涉及数字通信系统的
，特别涉及一种误码测试装置。

技术介绍

[0002]随着信息技术的迅猛发展，信息传递已成为日常生活中重要的一部分，信息传递的可靠性显得原来越重要。数字通信因其通信质量受距离的影响小、通信保密性好、抗干扰能力强等特点而成为传递信息的首选，得到广泛应用和迅速发展。因为误码直接破坏了信息传递的正确性，所以误码是影响数字通信系统的最重要因素，误码仪作为评估数据传输通道质量的重要工具被广泛地应用，特别是近年来，随着信息传输速率的不断提高，误码仪速率已从原来的几百兆到现在的几百吉。但目前国内的误码仪产品品种少，国内高端误码仪市场多被国外产品所垄断。目前专用的误码仪设备都是通过高频电缆把误码仪和测试夹具相联，进行光模块误码测试。在现有的技术方案下，专用的误码测试系统为专用设备，不便于携带，且成本非常高，特别是针对200Gbps、400Gbps、800Gbps及以上速率的高速光模块测试设备，价格更是高昂。测试设备的核心为误码测试模块，与设备一体设置，不仅成高，而且设备本身的检修不方便。采用同轴电缆将误码测试系统与待测光模块连接并进行测试，由于同轴电缆长度长，信号的传输路径很长，信号在同轴线缆中的损耗大，误码测试系统的精度有待进一步提高。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种结构简单的、信号损耗小的误码测试装置。
[0004]本专利技术采用以下技术方案：误码测试装置，包括PCB电路板、第一光模块插座、第二光模块插座、误码测试模块；
[0005]所述第一光模块插座与第二光模块插座通过PCB电路板实现电气连接，误码测试模块与第一光模块插座通过金手指连接，第一光模块插座与外部上位机连接，待测光模块通过金手指与第二光模块插座连接；
[0006]所述误码测试模块包括能够产生伪随机码序列的收发芯片和控制单元；收发芯片与控制单元电气连接；收发芯片接收发出的伪随机码序列经过待测光模块后返回的待比较信号，控制单元控制收发芯片对伪随机码序列和待比较信号进行比较；伪随机码序列与比较信号比较结果通过控制单元输出至上位机。
[0007]进一步，所述第一光模块插座与第二光模块插座设置在PCB电路板的同一面。
[0008]第一光模块插座和第二光模块插座可以并排同向平行设置，也可以在一排的位置开口相背离设置。
[0009]进一步，所述第一光模块插座、第二光模块插座设置在PCB电路板相对应的两侧位置。
[0010]第一光模块插座和第二光模块插座可以设置在PCB电路板同一位置的两侧，最大
限度地缩短连接第一光模块插座和第二光模块插座导线的长度。
[0011]进一步，第一光模块插座和第二光模块插座通过贯穿PCB电路板的导线连接。
[0012]进一步，还包括参考时钟6，参考时钟6与收发芯片41连接，收发芯片41与显示眼图测试结果的上位机相连接。
[0013]进一步，参考时钟6集成在收发芯片41中。
[0014]进一步，所述误码测试模块为一个经过测试合格的光模块。
[0015]本专利技术的有益效果为：误码测试装置通过金手指的连接方式，简化且缩短线缆的连接，降低信号的传输损耗，提高误码测试的准确率；且该方案还能够有效将误码测试设备小型化、便携化，有效降低误码测试装置的制造成本，方便携带误码测试装置到现场进行检测。
[0016]进一步的，第一光模块插座和第二光模块插座通过PCB电路板实现电气连接，第一光模块插座和第二光模块插座可以设置在PCB电路的同侧，方便操作，需要是方便同时更换误码测试模块和误码测试模块。
[0017]进一步的，第一光模块插座和第二光模块插座设置在PCB电路板的两侧相应的位置，可以最大限度缩短第一光模块插座和第二光模块插座间导线的长度，降低信号在导线上的损耗，降低信号因导线损耗带来的信号误码，提高误码测试装置的精度。
[0018]进一步的，第一光模块插座和第二光模块插座设置在PCB电路板的两侧相应的位置，第一光模块插座和第二光模块插座间的导线通过贯穿PCB电路板设置，可以使第一光模块插座和第二光模块插座间的导线最短，降低信号的传输损耗，提高误码测试装置的精度。
[0019]进一步的，参考时钟可以使得误码测试装置提供眼图测试所需的同步参考时钟，能够提供眼图测试，丰富误码测试装置的功能。
[0020]进一步的，参考时钟集成在收发芯片中，简化电路结构，同时丰富误码测试设备的功能。
[0021]进一步的，经过测试的功能完好的光模块，直接作为误码测试模块使用，可以有效降低误码测试装置的制造成本，以及误码测试模块的成本，而且还可以就地取材，极大地提升了误码测试装置的使用便利性。
附图说明
[0022]图1是本专利技术误码测试装置的一种实施例的结构示意图；
[0023]图2是图1所示误码测试装置的A方向的结构示意图；
[0024]图3是图1所示误码测试装置的B方向的结构示意图；
[0025]图4是图1中所示误码测试模块的一种实施方式的结构示意图；
[0026]图5是本专利技术误码测试装置的另一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0027]实施例1
[0028]图1为本专利技术误码测试装置的一种实施例的结构示意图。如图1所示，该实施例包括PCB电路板1、第一光模块插座2、第二光模块插座3、误码测试模块4；所述第一光模块插座2与第二光模块插座3通过PCB电路板1实现电气连接，误码测试模块4与第一光模块插座2通
过金手指连接，第一光模块插座2与外部上位机连接，待测光模块5通过金手指与第二光模块插座3连接；所述误码测试模块4包括能够产生伪随机码序列的收发芯片41和控制单元42；收发芯片41与控制单元42电气连接；收发芯片41接收发出的伪随机码序列经过待测光模块5后返回的待比较信号，控制单元42控制收发芯片41对伪随机码序列和待比较信号进行比较；伪随机码序列与比较信号比较结果通过控制单元42输出至上位机。待测光模块、第一光模块插座2、PCB电路板1、第二光模块插座3和误码测试模块4之间无同轴电缆连接。
[0029]本专利技术可应用于光模块的测试使用；使用时，误码测试装置与上位机连接；上位机可以是个人电脑，进一步的，上位机采用方便携带的笔记本电脑，使得误码测试装置和上位机均方便，能够在实验室、工厂、用户现场等各个环境使用。
[0030]在本实例中在使用时，误码测试模块4通过金手指插入第一光模块2，将待测光模块5插入第二光模块插座3，待测光模块5连接光纤；上位机与误码测试装置连接，用于设置和显示测试结果。误码测试装置供电后，通过，控制单元42对收发芯片41控制，并由收发芯片41产生伪随机码序列，伪随机码经第一光模块插座2、PCB电路板1、第二光模块插座3到达待测光模块5，伪随机码经过待测光模块的光电转换成光信号输出至光纤接口，经过光纤回路后光信号返回至待测光模块5，再经光电转换成电信号，即待比本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.误码测试装置，其特征在于，包括PCB电路板(1)、第一光模块插座(2)、第二光模块插座(3)、误码测试模块(4)；所述第一光模块插座(2)与第二光模块插座(3)通过PCB电路板(1)实现电气连接，误码测试模块(4)与第一光模块插座(2)通过金手指连接，第一光模块插座(2)与外部上位机连接，待测光模块(5)通过金手指与第二光模块插座(3)连接；所述误码测试模块(4)包括能够产生伪随机码序列的收发芯片(41)和控制单元(42)；收发芯片(41)与控制单元(42)电气连接；收发芯片(41)接收发出的伪随机码序列经过待测光模块(5)后返回的待比较信号，控制单元(42)控制收发芯片(41)对伪随机码序列和待比较信号进行比较；伪随机码序列与比较信号比较结果通过控制单元(42)输出至上位机。2.根据权利要求1所述的误码测试装置，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：章飞，
申请(专利权)人：铎铎电子科技杭州有限公司，
类型：发明
国别省市：