一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法制造技术

本发明专利技术涉及一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法，步骤1，令环境光照度为A，令虚拟ND卡的透过率为T，虚拟ND卡的反射比为R；步骤2，在环境光照度为0LX的暗室中，摄像头采集被测显示屏的辉度信息，步骤3，在环境光照度为0LX的暗室中，摄像头透过设于被测显示屏的前部的虚拟ND卡，采集显示屏的辉度信息,步骤4，在环境光照度为A的暗室中，摄像头获得虚拟ND卡的反射环境光的增加辉度，步骤5，在环境光照度为A的暗室中，由式(2)和式(3)得到摄像头获取的显示屏的实际辉度，步骤6，对多个二维等辉度曲线进行分析，步骤7，设定判定参数K，由判定参数K从多个等辉度曲线中，获得显示屏的显示均匀性测试结果。测试结果。测试结果。

【技术实现步骤摘要】
一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法


[0001]本专利技术涉及LCD屏产品测试
，尤其涉及一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法。

技术介绍

[0002]随着液晶显示屏(液晶显示屏，英文简称为LCD全称是Liquid Crystal Display)的大量应用，解决LCD屏显示不均匀的问题迫在眉睫，液晶屏在生产时由于工艺存在一定的误差，影响显示质量。显示不均匀性也称为Mura(也就是云纹或斑纹的意思)，指在同一光源和相同底色的画面下，因为视觉感受到不同程度的颜色差异，主要表现为对比度低，亮度不均匀，边缘模糊，形状不定，辉度变化范围与正常区域存在差异。显示不均匀性可以发生于任意的灰阶，比较典型的例子有暗态Mura(即斑纹、斑块的意思)及残影Mura等。在工业应用中检测暗态Mura的普遍做法为ND卡(即Neutral Density Filter的英文缩写)人眼检测，此方法基本符合人们使用显示屏的习惯，但此方法受检测员主观因素，环境以及工具的影响，测试结果不很准确，自动化成度低；除了ND卡测试方法外还有全屏扫描/拍照法，即用二维亮度计等设备进行拍照，电脑对拍照结果进行分析，这种方法测试精度高，自动化成度高，是较为先进的方法。但现有的全屏扫描/拍照法的数据处理算法和标准与广泛使用的ND卡测试法不同，且一般不能满足客户对显示屏某些部位的特别要求。对于其它种类Mura，如残影Mura，通常的测量方法也是通过(或不通过)ND卡进行裸眼观测。
[0003]由此可见，现有的LCD屏的显示均匀性测试方法存在以下缺陷：
[0004](1)ND卡人眼检测，受检测员主观因素，环境以及工具的影响，测试结果不很准确，自动化程度低；
[0005](2)全屏扫描/拍照法，虽然测试精度、自动化程度高，但数据处理算法和标准与广泛使用的ND卡测试法不同，且一般不能满足客户对显示屏某些部位的特别要求。
[0006]针对这些问题，我们专利技术了一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法。

技术实现思路

[0007]本专利技术的专利技术目的在于解决现有的LCD屏的显示均匀性测试方法，存在ND卡人眼检测，受检测员主观因素，环境以及工具的影响，测试结果不很准确，自动化程度低，全屏扫描/拍照法的数据处理算法和标准与广泛使用的ND卡测试法不同，且一般不能满足客户对显示屏的特别要求的问题。其具体解决方案如下：
[0008]一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法，按照以下步骤进行：步骤1，令环境光照度为A，令虚拟ND卡的透过率为T，虚拟ND卡的反射比为R；
[0009]步骤2，在环境光照度为0LX的暗室中，使用摄像头模拟人眼直接采集被测显示屏的辉度信息，摄像头获取的显示屏的辉度为
[0010]L(i,j)
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(1)，
[0011]其中i、j为显示屏的二维坐标；
[0012]步骤3，在环境光照度为0LX的暗室中，使用摄像头模拟人眼透过设于被测显示屏的前部的虚拟ND卡，采集显示屏的辉度信息，摄像头获取的显示屏的辉度为
[0013]L(i,j)
×
T
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(2)；
[0014]步骤4，在环境光照度为A的暗室中，使用摄像头模拟人眼获得设于被测显示屏的前部的虚拟ND卡的反射环境光的增加辉度为
[0015]L'＝A
×
R
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(3)；
[0016]步骤5，在环境光照度为A的暗室中，由式(2)和式(3)得到摄像头获取的显示屏的实际辉度为
[0017]L”＝L(i,j)
×
T+A
×
R
ꢀꢀꢀ
(4)；
[0018]步骤6，对式(4)或者式(1)多个二维等辉度曲线进行分析，每个等辉度曲线代表人眼可分辨的辉度边界；
[0019]步骤7，依照客户对显示屏的Mura要求设定判定参数K，由判定参数K从多个等辉度曲线中，获得显示屏的显示均匀性测试结果。
[0020]进一步地，所述辉度信息包括数据和图像。
[0021]当所述摄像头的规格型号及拍摄参数不同时，摄像头获取的显示屏的实际辉度为L”＝[L(i,j)
×
T]×
λ+A
×
R，其中λ为摄像头的修正系数。
[0022]进一步地，所述拍摄参数包括拍摄环境、对焦方式AF、白平衡AWB、光圈AV、焦距f、曝光时间S、感光度ISO和曝光补偿EV参数。
[0023]所述显示屏的辉度L(i,j)为一组随着坐标i、j不同的数据。
[0024]所述辉度L(i,j)为摄像头的从显示屏获得的各个感光单元，显示屏的辉度L(i,j)计量单位为cd/m2；辉度L(i,j)对应被测显示屏的实际面积。
[0025]所述透过率T随ND卡的规格不同而不同，通过其规格书查得或者实测获得。
[0026]所述反射比R通过实际测量获得。
[0027]进一步地，所述二维等辉度曲线进行分析的方法为：对每个人眼可分辨的二维等辉度曲线的辉度边界，采用等JND分析法来定量计算，该定量计算包括每个曲线间隔的位置、面积。
[0028]进一步地，所述设定判定参数K的方法如下：
[0029]步骤7
‑
1，针对Mura的面积以及区域，设定一个待测试面积的判定参数K；
[0030]步骤7
‑
2，令聚焦面积为ND卡的可视区域面积为S，令ND卡对角线长度为ΔL，以S面积为标准测试单位，均匀测试整个被测显示屏，令S面积内出现的辉度梯度为ΔJND；
[0031]步骤7
‑
3，得到判定参数K为
[0032][0033]综上所述，采用本专利技术的技术方案具有以下有益效果：
[0034]本专利技术解决了现有的LCD屏的显示均匀性测试方法，存在ND卡人眼检测，受检测员主观因素，环境以及工具的影响，测试结果不很准确，自动化程度低，全屏扫描/拍照法的数据处理算法和标准与广泛使用的ND卡测试法不同，且一般不能满足客户对显示屏的特别要求的问题。本专利技术的一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法，用摄像头取代人眼，计算机图像处理取代人脑判断，将环境光和ND卡等的影响用理论模型取代，通过辉度的等JND数值
方法对非均匀性进行定量分析，有明确的物理意义，可根据量化结果对LCD屏幕划分等级，并且符合人的主观一致性，实用性强，适合于批量生产，能提高产品合格率。本方案针对LCD显示屏的非均匀性测试分析需求，用定量测试仿真和取代裸眼(含通过ND卡)观测判断，提高了判断的精准性，确保产品符合用户的使用要求。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法，其特征在于，按照以下步骤进行：步骤1，令环境光照度为A，令虚拟ND卡的透过率为T，虚拟ND卡的反射比为R；步骤2，在环境光照度为0LX的暗室中，使用摄像头模拟人眼直接采集被测显示屏的辉度信息，摄像头获取的显示屏的辉度为L(i,j) (1)，其中i、j为显示屏的二维坐标；步骤3，在环境光照度为0LX的暗室中，使用摄像头模拟人眼透过设于被测显示屏的前部的虚拟ND卡，采集显示屏的辉度信息，摄像头获取的显示屏的辉度为L(i,j)
×
T (2)；步骤4，在环境光照度为A的暗室中，使用摄像头模拟人眼获得设于被测显示屏的前部的虚拟ND卡的反射环境光的增加辉度为L'＝A
×
R
ꢀꢀꢀ
(3)；步骤5，在环境光照度为A的暗室中，由式(2)和式(3)得到摄像头获取的显示屏的实际辉度为L”＝L(i,j)
×
T+A
×
R (4)；步骤6，对式(4)或者式(1)多个二维等辉度曲线进行分析，每个等辉度曲线代表人眼可分辨的辉度边界；步骤7，依照客户对显示屏的Mura要求设定判定参数K，由判定参数K从多个等辉度曲线中，获得显示屏的显示均匀性测试结果。2.根据权利要求1所述一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法，其特征在于：所述辉度信息包括数据和图像。3.根据权利要求1所述一种针对LCD屏的显示均匀性自动测试法，其特征在于：当所述摄像头的规格型号及拍摄参数不同时，摄像头获取的显示屏的实际辉度为L”＝[L(i,j)
×
T]
×
λ+A
×
R，其中λ为摄像头的修正系...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭建新，陈璐璐，
申请(专利权)人：惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：