射频测试座、探针、射频电路以及电子设备制造技术

本申请实施例提供了一种射频测试座、探针、射频电路以及电子设备。所述射频测试座具体包括：外框、第一绝缘固定件和第二绝缘固定件；其中，所述外框上设置有用于容纳所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件的容纳空间；所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件设置于所述容纳空间内，所述第一绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚；第一测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，第二测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第二工作状态切换至第二测试状态。第二测试状态。第二测试状态。

【技术实现步骤摘要】
射频测试座、探针、射频电路以及电子设备


[0001]本申请属于通信
，具体涉及一种射频测试座、一种探针、一种射频电路以及一种电子设备。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，随着通信技术的发展，手机、平板电脑等电子设备对网络功能的要求也越来越高，需要支持的网络制式也越来越多，相应的，电子设备上的天线通路也越来越多。
[0003]在先的技术中，每个天线通路中都需要设置射频测试座来对该天线通路的射频性能进行调试和测试，因此，随着电子设备中天线通路的增加，射频测试座的数量也相应增加。
[0004]然而，由于射频测试座需要一定的结构避空区域，因此，射频测试座在电路板上占据的空间较大，很容易导致电路板的空间很难得到有效的利用。

技术实现思路

[0005]本申请旨在提供一种射频测试座、一种探针、一种射频电路以及一种电子设备，以解决现有的射频测试座在电路板上占据的空间较大，电路板的空间很难得到有效的利用的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：
[0007]第一方面，本申请公开了一种射频测试座，所述射频测试座包括：外框、第一绝缘固定件和第二绝缘固定件；其中，
[0008]所述外框上设置有用于容纳所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件的容纳空间；
[0009]所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件设置于所述容纳空间内，所述第一绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚；
[0010]第一测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，第二测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第二工作状态切换至第二测试状态；
[0011]其中，在所述第一工作状态，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚导通，在所述第一测试状态，所述第二信号弹脚与所述第二测试探针抵接，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚断开；在所述第二工作状态，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚导通，在所述第二测试状态，所述第四信号弹脚与所述第二测试探针抵接，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚断开。
[0012]第二方面，本申请实施例还公开了一种探针，所述探针包括：第一测试探针和第二测试探针；其中，
[0013]所述第一测试探针和所述第二测试探针为一体结构；其中，
[0014]所述第二测试探针内设置有空腔，所述第一测试探针设置于所述空腔内且至少部分从所述空腔中伸出。
[0015]第三方面，本申请还公开了一种射频电路，所述射频电路包括：收发器、第一射频输入电路、第一射频输出电路、第二射频输入电路、第二射频输出电路以及上述任一项所述的射频测试座；
[0016]所述第一射频输入电路的一端、所述第二射频输入电路的一端分别与所述收发器电连接，所述第一射频输入电路的另一端与所述射频测试座的第二信号弹脚电连接，所述第一射频输出电路与所述射频测试座的第一信号弹脚电连接；所述第二射频输入电路的另一端与所述射频测试座的第四信号弹脚电连接，所述第二射频输出电路与所述射频测试座的第三信号弹脚电连接。
[0017]第四方面，本申请还公开了一种电子设备，所述电子设备包括：上述射频测试座。
[0018]本申请实施例中，所述射频测试座的第一绝缘固定件上设置第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚。通过将第一测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，实现第一射频信号的传输或者测试。通过将第二测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由所述第二工作状态切换至第二测试状态，以实现所述第二射频信号的传输或者测试。也即，所述第一射频信号的天线通路和所述第二射频信号的天线通路可以共用一个射频测试座，这样，就可以减少电子设备中的射频测试座的数量，减小所述射频测试座在所述电子设备的电路板中占据的空间，提高所述电路板的空间利用率。
[0019]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0020]本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0021]图1是现有的一种射频电路的结构示意图；
[0022]图2是本申请实施例所述的一种射频测试座某一角度的结构示意图；
[0023]图3是图1所示的射频测试座另一角度的结构示意图；
[0024]图4是图1所示的射频测试座的分解结构示意图；
[0025]图5是图1所示的射频测试座处于第一工作状态的结构示意图；
[0026]图6是图1所示的射频测试座处于第一测试状态的结构示意图；
[0027]图7是图1所示的射频测试座处于第二工作状态的结构示意图；
[0028]图8是图1所示的射频测试座处于第二测试状态的结构示意图；
[0029]图9是本申请实施例的探针与射频测试座配合使用的某一角度的结构示意图；
[0030]图10图9所示的结构另一角度的结构示意图；
[0031]图11是本申请实施例所述的一种射频电路的结构示意图；
[0032]附图标记：10－外框，11－第一绝缘固定件，111－第一信号弹脚，112－第二信号弹脚，113－支撑部，12－第二绝缘固定件，121－第三信号弹脚，122－第四信号弹脚，
1221－通孔，13－第一测试探针，14－第二测试探针，15－内框，20－收发器，21－天线通路，210－传统射频测试座，22－第一射频输入电路，23－第一射频输出电路，24－第二射频输入电路，25－第二射频输出电路，26－射频测试座，27－第一天线，28－第二天线。
具体实施方式
[0033]下面将详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0034]本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0035]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频测试座，其特征在于，所述射频测试座包括：外框、第一绝缘固定件和第二绝缘固定件；其中，所述外框上设置有用于容纳所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件的容纳空间；所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件设置于所述容纳空间内，所述第一绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚；第一测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，第二测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第二工作状态切换至第二测试状态；其中，在所述第一工作状态，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚导通，在所述第一测试状态，所述第二信号弹脚与所述第一测试探针抵接，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚断开；在所述第二工作状态，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚导通，在所述第二测试状态，所述第四信号弹脚与所述第二测试探针抵接，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚断开。2.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述第一测试探针、所述第二测试探针可从第一方向插入所述射频测试座中；所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件沿所述第一方向堆叠设置于所述容纳空间内，且所述第一绝缘固定件设置于所述第二绝缘固定件远离所述第一测试探针和所述第二测试探针的一侧。3.根据权利要求2所述的射频测试座，其特征在于，沿所述第一方向的投影方向，所述第一信号弹脚的投影和所述第二信号弹脚的投影至少部分重合，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚至少部分重合；其中，在所述第一工作状态，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚至少部分搭接，在所述第一测试状态，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚解除搭接；在所述第二工作状态，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚至少部分搭接，在所述第二测试状态，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚解除搭接。4.根据权利要求3所述的射频测试座，其特征在于，所述外框...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈其兴，王利荣，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：