可校正元件相对位置的光学编码器及其位置校正方法技术

一种可校正元件相对位置的光学编码器，该光学编码器包含编码媒体、检测器封装以及内存。检测器封装包含光二极管阵列及相对编码媒体的两校正光二极管。内存纪录编码媒体与检测器封装位于标准操作位置时，两校正光二极管的输出信号相关的校正图样。当编码媒体与检测器封装不位于标准操作位置时，通过调整编码媒体与检测器封装的目前相对位置以使两校正光二极管的输出信号相关的目前图样相同于校正图样以进行相对位置的校正。样以进行相对位置的校正。样以进行相对位置的校正。

【技术实现步骤摘要】
可校正元件相对位置的光学编码器及其位置校正方法


[0001]本专利技术有关一种光学编码器，更特别有关一种通过预存校正图样来校正元件相对距离的光学编码器及其位置校正方法。

技术介绍

[0002]请参照图1所示，其为已知光学编码器的方框图，该光学编码器包含光源11、编码媒体13、光二极管15以及处理电路17。所述光二极管15检测光源11所发出用于照明编码媒体13的光。转阻放大器(TIA)输出相位差依序为90度的四个信号A、A
’
、B及B
’
。处理电路17比较信号A、A
’
、B及B
’
并产生两个输出信号CHA及CHB，如图2所示。
[0003]图2显示输出信号CHA及CHB的时序图，从图2中可看出由于输出信号CHA及CHB的电压准位的组合在编码媒体13的一个周期具有4个状态，故可用于表示编码媒体13的四个位置。如图2所示，所述4个状态分别具有90度的相位区间。
[0004]请参照图3，其为图1的各元件的相对位置的配置示意图。如欲得到如图2所示的时序图，光源11、编本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学编码器，该光学编码器包含：光检测器，该光检测器用于接收来自编码媒体的调变光，并包含：检测二极管阵列，该检测二极管阵列相对所述编码媒体配置；及第一光二极管及第二光二极管，该第一光二极管及该第二光二极管分别位于所述检测二极管阵列的两侧，且所述第一光二极管及所述第二光二极管的每一者具有梯形检测面。2.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述检测二极管阵列与所述第一光二极管及所述第二光二极管位于相同轨道。3.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述编码媒体具有编码用于调变入射光，所述编码媒体上的所述编码具有反射部及非反射部，且所述检测二极管阵列的每个光二极管的检测面的宽度等于所述反射部及所述非反射部的宽度的一半。4.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述第一光二极管至所述检测二极管阵列的第一侧的第一距离等于所述第二光二极管至所述检测二极管阵列的第二侧的第二距离。5.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述第一光二极管至所述检测二极管阵列的第一侧的第一距离不等于所述第二光二极管至所述检测二极管阵列的第二侧的第二距离。6.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述编码媒体具有编码用于调变入射光，所述编码媒体上的所述编码具有反射部及非反射部，且所述第一光二极管相对所述反射部其中一者而所述第二光二极管相对所述非反射部其中一者。7.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述编码媒体具有编码用于调变入射光，所述编码媒体上的所述编码具有反射部及非反射部，且所述第一光二极管及所述第二光二极管的宽度等于所述反射部及所述非反射部的宽度。8.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述编码媒体具有编码用于调变入射光，所述编码媒体上的所述编码具有反射部及非反射部，且所述第一光二极管及所述第二光二极管的宽度等于所述反射部及所述非反射部的宽度的一半。9.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述第一光二极管及所述第二光二极管的所述梯形检测面的两平行边的长边面对所述检测二极管阵列。10.根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述第一光二极管的所述梯形检测面的两平行边的长边面对所述检测二极管阵列，且所述第二光二极管的所述梯形检测面的两平行边的短边面对所述检测二极管阵列。11.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：涂钟敏，林明艺，
申请(专利权)人：原相科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：