【技术实现步骤摘要】
投影机系统的投影方法
[0001]本专利技术关于图像处理,特别是一种投影机系统的投影方法。
技术介绍
[0002]投影机为一种将影像投射于投射表面的光学装置。在使用上,会因为投影机倾斜摆放或投射于不平整或倾斜的表面而造成不规则影像。投影机的梯形校正传统上是采用人工定位与观察法来获得最佳观赏的投射校正,当投射表面为不平整平面或是曲面,传统的方式将无法克服影像变形的问题。若投射布幕过大而需要数台投影机搭配投射,更会造成变形校正及共同投射的困难。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例提供一种投影机系统的投影方法,投影机系统包含投影机、相机及处理器,投影机及相机分开设置,投影方法包含投影机投影第一投影影像至投影表面,相机撷取投影表面上的显示影像,处理器依据投影影像中的多个特征点及显示影像中的多个对应特征点产生该些特征点及该些对应特征点之间的变换矩阵,处理器依据变换矩阵预扭转投影影像以产生预扭转影像,及投影机投影预扭转影像至投影表面。
[0004]本专利技术实施例提供另一种投影机系统的投影方法,投影机系统包含投影机、深度传感器、惯性测量单元及处理器,深度传感器及惯性测量单元固定于投影机,投影方法包含惯性测量单元进行三轴加速度测量以产生投影机的方位,深度传感器侦测投影表面的多个点相对于参考点的多个坐标,处理器至少依据投影表面的多个点相对于参考点的该些坐标进行梯形校正以产生校正投影范围,处理器至少依据投影机的方位、校正投影范围及该些坐标产生一组三维空间转二维影像坐标的对应数据,及投影机依据该组三维空间 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种投影机系统的投影方法,所述投影机系统包含投影机、相机及处理器,所述投影机及所述相机分开设置,所述投影方法包含:所述投影机投影投影影像至投影表面;所述相机撷取所述投影表面上的显示影像;所述处理器依据所述投影影像中的多个特征点及所述显示影像中的多个对应特征点产生所述多个特征点及所述多个对应特征点之间的变换矩阵;所述处理器依据所述变换矩阵预扭转一组投影影像数据以产生一组预扭转影像数据;及所述投影机投影依据所述组预扭转影像数据将预扭转影像投影至所述投影表面。2.一种投影机系统的投影方法,所述投影机系统包含第一投影机、第一深度传感器、第一惯性测量单元及处理器,所述第一深度传感器及所述第一惯性测量单元固定于所述第一投影机,所述投影方法包含:所述第一惯性测量单元进行三轴加速度测量以产生所述第一投影机的方位;所述第一深度传感器侦测第一投影表面的多个点相对于第一参考点的多个坐标;所述处理器至少依据所述第一投影表面的多个点相对于所述第一参考点的所述多个坐标进行梯形校正以产生第一校正投影范围;所述处理器至少依据所述第一投影机的所述方位、所述多个坐标及所述第一校正投影范围产生第一组影像数据;及所述第一投影机依据所述第一组影像数据将第一预扭转影像投影至所述第一投影表面。3.根据权利要求2所述的投影方法,其中所述第一参考点为所述第一深度传感器。4.根据权利要求2所述的投影方法,其中所述处理器至少依据所述第一投影机的所述方位、所述多个坐标及所述第一校正投影范围产生所述第一组影像数据包含:所述处理器依据所述第一投影机的所述方位、所述第一深度传感器相对于所述第一参考点的位置、所述多个坐标及所述第一校正投影范围产生所述第一组影像数据。5.根据权利要求4所述的投影方法,其中所述第一参考点为所述第一投影机的焦点。6.根据权利要求4所述的投影方法,其中所述第一参考点介于所述第一投影机的焦点及所述第一深度传感器之间。7.根据权利要求2至6任一项所述的投影方法,其中所述第一投影机的所述方位包含所述第一投影机的一组三轴旋转变换参数。8.根据权利要求2所述的投影方法,其中所述第一深度传感器为相机,所述第一深度传感器侦测所述第一投影表面的所述多个点相对于所述第一参考点的所述多个坐标包含:所述第一投影机投影第一投影影像至所述第一投影表面;所述相机撷取显示于所述投影表面的显示影像;及所述处理器依据所述第一投影影像及所述显示影像产生所述第一投影表面的所述多个点相对于所述第一参考点的所述多个坐标。9.根据权利要求2所述的投影方法,其中所述第一深度传感器为三维飞时测距传感器,所述第一深度传感器侦测所述第一投影表面的所述多个点相对于所述第一参考点的所述多个坐标包含:
所述三维飞时测距传感器发射传送信号至所述第一投影表面;所述三维飞时测距传感器响应于所述传送信号接收由所述第一投影表面反射的反射信号;及所述处理器依据所述传送信号及所述反射...
【专利技术属性】
技术研发人员:冼达,高铭鸿,蔡孟哲,
申请(专利权)人:伟诠电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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