【技术实现步骤摘要】
一种电学测量用探针夹具
[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其是涉及一种电学测量用探针夹具。
技术介绍
[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，芯片是集成电路中的一种。集成电路是采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
[0003]在实际的集成电路设计、生产过程中不可避免的会产生各种缺陷，在产品交付客户之前就需要进行电性功能测试，在集成电路检测设备上就需要探针夹具来充当芯片与测试机信号传递的“桥梁”。
[0004]针对上述中的相关技术，由于市场对电子系统运行的要求日益加深，制得的集成电路厚度薄，体积小，当探针夹具加持集成电路进行测量时，存在芯片容易破损的问题。
技术实现思路
[0005]为了保护芯片，本申请提供一种电学测量用探针夹具。
[0006]本申请提供的一种电学测量用探针夹具采用如下的技术方案：
[0007]一种电学测量用探针夹...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电学测量用探针夹具，其特征在于：包括电路板（1）和设置在电路板（1）上的探针（2），所述电路板（1）上固定设置有限位杆（3），所述限位杆（3）顶部固定设置有上挡块（4），所述限位杆（3）底部固定设置有下挡块（5），所述限位杆（3）上设置有位于上挡块（4）和下挡块（5）之间的按压块（6），所述限位杆（3）上套设有位于上挡块（4）和按压块（6）之间的弹簧（7），所述探针（2）固定设置在按压块（6）靠近电路板（1）一侧，且所述探针（2）可伸缩设置。2.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述探针（2）包括固定壳（201）和滑移针头（202），所述固定壳（201）内壁设置有供滑移针头（202）在固定壳（201）内滑移的拉簧（8）。3.根据权利要求2所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述固定壳（201）内壁靠近按压块（6）的一端固定设置固定块（9），所述滑移针头（202）外壁固定设置有滑块（10），所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓婷，
申请(专利权)人：上海柯舜科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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