光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置，该光性能测试线包括主机线组件和标准线组件，主机线组件包括主机线本体，其中，主机线本体设有第一A端和第一B端，第一B端扇出N条分支尾缆，每一分支尾缆具有一路光芯；标准线组件包括标准线本体，标准线本体包括标准线主路，标准线主路设有第二A端，标准线主路以第二A端为端点拆分形成两标准线支路，每一标准线支路包含有标准线主路的N/2路光芯，两标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，第一A端可连接第二A端，第二B1端和第二B2端可连接待测产品线；本发明专利技术能够有效解决工厂预制成端测试效率低的问题，且能够减少标准线修复及重制成本。能够减少标准线修复及重制成本。能够减少标准线修复及重制成本。

【技术实现步骤摘要】
光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置


[0001]本专利技术涉及光性能测试
，尤其涉及光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置。

技术介绍

[0002]多芯光纤阵列连接器由预制高精度MT插芯和导针，弹簧等组成，广泛应用于数据中心SAN、企业/院校专网和电信中心机房设备内高光纤数超高密互联，可实现设备内部跳接和MTP面板法兰直连。多芯光纤连接，大大节省设备空间，具有柔性可拓展管理，提升光电子电路板的高稳定性安装和高耦合效率。100％工厂预制成端并使用高精度设备测试，确保即插即用的传输性能。
[0003]工厂预制成端过程中，高精度测试设备和标准线成本高，工厂往往只投入少量测试设备和标准线，甚至只有一台测试设备，如果标准线受损或者产品线型号变化，需更换测试环境下的标准线，每次切换都需要对设备和标准线进行大量繁琐的清洁工序和归零工序，因此测试效率较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置，能够有效解决工厂预制成端测试效率低的问题，且能够减少标准线修复及重制成本。
[0005]为了实现上有目的，本专利技术公开了一种光性能测试线，其包括主机线组件和标准线组件，所述主机线组件包括内设有N路光芯的主机线本体，其中，N为偶数，所述主机线本体沿轴向设有第一A端和第一B端，所述第一B端扇出N条分支尾缆，每一所述分支尾缆具有一路光芯；所述标准线组件包括标准线本体，所述标准线本体包括内设有N路光芯的标准线主路，所述标准线主路沿轴向设有第二A端，所述标准线主路以所述第二A端为端点沿轴向拆分形成两标准线支路，每一所述标准线支路包含有所述标准线主路的N/2路光芯，两所述标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，所述第一A端可连接所述第二A端，所述第二B1端和第二B2端可连接待测产品线，当所述第一A端连接所述第二A端，及所述第二B1端/第二B2端连接所述待测产品线时，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线共同构成光路。
[0006]与现有技术相比，本专利技术的标准线主路以第二A端为端点沿轴向拆分形成两标准线支路，每一标准线支路包含有标准线主路的N/2路光芯，将两种标准线集成为一体，作为整体进行提前的加工处理，有效减少标准线修复及重制成本；另外，由于本专利技术具有两种标准线，能够适于同时对两个待测产品线进行测试，有效提升工厂预制成端测试效率，且当其中一个标准线支路损坏时，还能保证另一个标准线支路能够正常使用，便于维持检测。
[0007]较佳地，所述主机线组件还包括第一阵列连接器和N个连接端子，所述第一阵列连接器连接所述第一A端，每一所述分支尾缆连接一所述连接端子。
[0008]较佳地，所述标准线组件还包括第二阵列连接器、第三阵列连接器和第四阵列连
接器，所述第二阵列连接器连接所述第二A端，所述第三阵列连接器连接所述第二B1端，所述第四阵列连接器连接所述第二B2端，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器可插接以使所述第一A端连接所述第二A端。
[0009]较佳地，所述待测产品线沿轴向设有第三A端和第三B端，所述第三A端连接有第五阵列连接器，所述第三B端连接有第六阵列连接器，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器可插接以使所述第三A端连接所述第二B1端/第二B2端。
[0010]较佳地，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器通过适配器进行插接，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器通过适配器进行插接，所述适配器具有辅助插接结构。
[0011]较佳地，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器为具有N路光芯的阵列连接器，所述第三阵列连接器、第四阵列连接器、第五阵列连接器和第六阵列连接器为具有N/2路光芯的阵列连接器。
[0012]较佳地，所述主机线本体和标准线主路分别具有24路光芯，所述标准线支路具有12路光芯。
[0013]较佳地，所述第一阵列连接器具有长导针结构，所述第二阵列连接器具有导针架结构；所述第三阵列连接器和第四阵列连接器中的一者具有长导针结构，另一者具有导针架结构。
[0014]较佳地，所述标准线组件的光芯为扁形光芯，所述标准线组件的外表面包覆有扁形的低烟无卤型光缆护套。
[0015]相应地，本专利技术还公开了一种多芯光纤阵列连接器光学测试装置，其包括测试仪和如上所述的光性能测试线，所述测试仪设有光损耗计输入端口、光功率器输出端口、光开关输入端口和N个与分支尾缆一一对应的光开关输出端口，所述待测产品线接入所述光损耗计输入端口，所述光功率器输出端口和光开关输入端口通过单芯线缆连接，所述分支尾缆接入对应的光开关输出端口，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线和测试仪共同构成光回路，所述测试仪从所述光功率器输出端口发出光束并传输至所述光开关输入端口后分发至各个所述光功率器输出端口，所述测试仪检测所述光束在所述光回路的强度以获得所述待测产品线的插入损耗和回波损耗。
附图说明
[0016]图1是本专利技术的多芯光纤阵列连接器光学测试装置的结构图。
具体实施方式
[0017]为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
[0018]请参阅图1所示，本实施例的光性能测试线包括主机线组件10和标准线组件，主机线组件10包括内设有24路光芯的主机线本体11。主机线本体11沿轴向设有第一A端111和第一B端112，第一B端112扇出24条分支尾缆113，每一分支尾缆113具有一路光芯。具体地，第一A端111和第一B端112分别设在主机线本体11沿轴向的两端，分支尾缆113的线径为0.9mm，以降低分支尾缆113后续插接的占用空间。优选地，为了便于后续进行通道的使用区
分，将24条分支尾缆113采用颜色进行区分，具体地，采用12色标准色和12色标准色带相间色环对所有分支尾缆113进行通道区分，以便于后续分线插接。
[0019]标准线组件包括标准线本体21，标准线本体21包括内设有24路光芯的标准线主路211，标准线主路211沿轴向设有第二A端2111，标准线主路211以第二A端2111为端点沿轴向拆分形成两标准线支路212，每一标准线支路212包含有标准线主路211的12路光芯，两标准线支路212中的一者设有第二B1端2121，另一者设有第二B2端2122。具体地，第二B1端2121和第二B2端2122分别设在对应标准线支路212的自由端。
[0020]可以理解的是，上述设计的目的在于将两种标准线集成为一体，作为整体进行提前的加工处理，有效减少标准线修复及重制成本；另外，由于本实施例具有两种标准线，能够适于同时对两个待测产品线1进行测试，有效提升工厂预制成端测试效率，且当其中一个标准线支路212损坏时，还能保证另一个标准线支路212能够正常使用，便于维持检测。值得注意的是，本实施例的两标准线支路212可以为同类型的标准线，也可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光性能测试线，其特征在于：包括主机线组件和标准线组件，所述主机线组件包括内设有N路光芯的主机线本体，其中，N为偶数，所述主机线本体沿轴向设有第一A端和第一B端，所述第一B端扇出N条分支尾缆，每一所述分支尾缆具有一路光芯；所述标准线组件包括标准线本体，所述标准线本体包括内设有N路光芯的标准线主路，所述标准线主路沿轴向设有第二A端，所述标准线主路以所述第二A端为端点沿轴向拆分形成两标准线支路，每一所述标准线支路包含有所述标准线主路的N/2路光芯，两所述标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，所述第一A端可连接所述第二A端，所述第二B1端和第二B2端可连接待测产品线，当所述第一A端连接所述第二A端，及所述第二B1端/第二B2端连接所述待测产品线时，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线共同构成光路。2.如权利要求1所述的光性能测试线，其特征在于：所述主机线组件还包括第一阵列连接器和N个连接端子，所述第一阵列连接器连接所述第一A端，每一所述分支尾缆连接一所述连接端子。3.如权利要求2所述的光性能测试线，其特征在于：所述标准线组件还包括第二阵列连接器、第三阵列连接器和第四阵列连接器，所述第二阵列连接器连接所述第二A端，所述第三阵列连接器连接所述第二B1端，所述第四阵列连接器连接所述第二B2端，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器可插接以使所述第一A端连接所述第二A端。4.如权利要求3所述的光性能测试线，其特征在于：所述待测产品线沿轴向设有第三A端和第三B端，所述第三A端连接有第五阵列连接器，所述第三B端连接有第六阵列连接器，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器可插接以使所述第三A端连接所述第二B1端/第二B2端。5.如权利要求4所述的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁奇桐，叶建超，刘佑新，尹培安，叶灿国，
申请(专利权)人：广东亨通光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：