线圈装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够防止交流损耗的产生，还具有良好的电感特性的线圈装置。线圈装置(10)具有：第一芯(20a)，其具有第一外脚部(22a、22a)；第二芯(20b)，其在与第一外脚部(22a、22a)之间形成间隙(G1、G2)而配置；以及导体(30)，其至少一部分配置于第一芯(20a)和第二芯(20b)之间，在导体(30)，在与间隙(G1、G2)对应的位置形成有外侧切口部(36、37)。37)。37)。

【技术实现步骤摘要】
线圈装置


[0001]本专利技术涉及一种用作例如电感器等的线圈装置。

技术介绍

[0002]作为用作电感器等的线圈装置，已知例如专利文献1所记载的线圈装置。专利文献1所记载的线圈装置具有第一芯构件、相对于第一芯构件夹着间隙而配置的芯主体、以及以面向间隙的方式安装于芯主体的导体。在专利文献1所记载的线圈装置中，通过在导体的安装位置改变芯主体的形状，将导体配置于远离间隙的位置。由此，在间隙内产生的漏磁通难以接触导体的表面，因此，在导体的表面难以产生涡电流，能够防止由涡电流引起的交流损耗的产生。
[0003]但是，在专利文献1所记载的线圈装置中，通过改变芯主体的形状，芯主体的体积减少，电感特性有可能降低。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2019
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129253号公报

技术实现思路

[0007]专利技术所要解决的问题
[0008]本专利技术是鉴于这种实际情况而做出的，其目的在于，提供一种能够防止交流损耗的产生，还具有良好的电感特性的线圈装置。
[0009]用于解决问题的技术方案
[0010]为了实现上述目的，本专利技术的线圈装置具有：
[0011]第一芯部，其具有第一脚部；
[0012]第二芯部，其在与所述第一脚部之间形成间隙而配置；以及
[0013]导体，其至少一部分配置于所述第一芯部和所述第二芯部之间，
[0014]在所述导体，在与所述间隙对应的位置形成有切口部。
[0015]在本专利技术的线圈装置中，在导体，在与间隙对应的位置形成有切口部。因此，在与间隙对应的位置，导体的表面以与切口部的深度对应的距离配置于远离间隙的位置，在间隙内产生的漏磁通难以接触导体的表面。因此，在导体的表面难以产生涡电流，能够防止由涡电流引起的交流损耗的产生。
[0016]另外，在本专利技术的线圈装置中，由于在导体，在与间隙对应的位置形成有切口部，因此，与现有技术不同，为了防止在间隙内产生的漏磁通接触导体的表面，也可以改变第一芯部或第二芯部的形状。因此，能够充分确保第一芯部或第二芯部的体积，能够实现具有良好的电感特性的线圈装置。
[0017]优选的是，所述切口部沿着与所述导体相邻的所述第一脚部的边缘形成于所述导体。通过设为这种结构，在沿着第一脚部的边缘延伸的间隙的各部，在间隙内产生的漏磁通
难以接触导体的表面，能够有效地防止在导体的表面产生涡电流。
[0018]优选的是，所述切口部的深度比所述间隙的宽度大。通过设为这种结构，在与间隙对应的位置，能够将导体的表面配置于充分远离间隙的位置。因此，在间隙内产生的漏磁通难以接触导体的表面，能够有效地防止在导体的表面产生涡电流。
[0019]也可以是，所述第二芯部具有与所述第一脚部相对地配置的第二脚部，所述切口部在与形成于所述第一脚部和所述第二脚部之间的所述间隙对应的位置，形成于所述导体。通过设为这种结构，例如，在具有所谓的EE型或UU型等芯的线圈装置中，能够得到上述的各种效果。
[0020]优选的是，所述切口部由凹槽构成。通过设为这种结构，在第一脚部和第二脚部之间形成有间隙的情况下，能够使切口部配置在与该间隙相对的位置。因此，在间隙内产生的漏磁通难以接触导体的表面，能够有效地得到在导体的表面产生涡电流。
[0021]也可以是，所述第二芯部由平板形状构成，所述切口部在与形成于所述第一脚部和该第二芯部之间的所述间隙对应的位置，形成于所述导体。通过设为这种结构，例如，在具有所谓的EI型等的芯的线圈装置中，能够得到上述各种效果。
[0022]优选的是，所述切口部由对所述导体的侧部进行倒角而得的倒角部构成。通过设为这种结构，在第一脚部和由平板形状构成的第二芯部之间形成有间隙的情况下，能够使切口部配置于与该间隙对应的位置。因此，在间隙内产生的漏磁通难以接触导体的表面，能够有效地防止在导体的表面产生涡电流。
[0023]也可以是，所述第一脚部具有一对外脚部、和配置于一对所述外脚部各自之间的中脚部，所述切口部在与形成于所述外脚部及所述中脚部的至少一方和所述第二芯部之间的间隙对应的位置，形成于所述导体。通过设为这种结构，例如，在具有所谓的EE型或EI型等芯的线圈装置中，能够得到上述各种效果。
[0024]也可以是，所述导体由弯曲形状构成，所述切口部形成于该导体的内周侧及外周侧的至少一方。例如，在第一脚部具有外脚部和中脚部的情况下，通过在导体的外周侧形成有切口部，在形成于外脚部和第二芯之间的间隙内产生的漏磁通难以接触导体的外周侧，能够有效地防止在导体的表面产生涡电流。另外，通过在导体的内周侧形成有切口部，在形成于中脚部和第二芯之间的间隙内产生的漏磁通难以接触导体的内周侧，能够有效的防止在导体的表面产生涡电流。
[0025]优选的是，所述导体具有与外部电路连接的安装部，在所述安装部形成有所述切口部的一部分。通过设为这种结构，在间隙内产生的漏磁通难以接触安装部的表面，能够有效地防止在导体的表面产生涡电流。
附图说明
[0026]图1A是本专利技术的第一实施方式的线圈装置的立体图。
[0027]图1B是图1A所示的线圈装置的俯视图。
[0028]图1C是图1A所示的线圈装置的底视图。
[0029]图2是图1A所示的线圈装置的分解立体图。
[0030]图3A是图2所示的线圈的立体图。
[0031]图3B是从另一个角度观察图3A所示的线圈时的立体图。
[0032]图4A表示使间隙的宽度变化时的线路损耗(铜损)的变化的图。
[0033]图4B是表示使流经导体的交流电流的频率变化时的线路损耗(铜损)的变化的图。
[0034]图4C是表示使构成芯的材料的相对导磁率变化时的线路损耗(铜损)的变化的图。
[0035]图4D是表示使流经导体的交流电流的电流值(峰峰值)变化时的线路损耗(铜损)的变化的图。
[0036]图4E是表示导体中的线路损耗(铜损)的分布的图。
[0037]图4F是表示芯中的磁通分布的图。
[0038]图5A是本专利技术的第二实施方式的线圈装置的立体图。
[0039]图5B是图5A所示的线圈装置的侧视图。
[0040]图6是图5A所示的线圈装置的分解立体图。
[0041]图7A是本专利技术的第三实施方式的线圈装置的立体图。
[0042]图7B是图7A所示的线圈装置的侧视图。
[0043]图8是图7A所示的线圈装置的分解立体图。
[0044]图9是表示图8所示的线圈的变形例的立体图。
[0045]图10是本专利技术的第四实施方式的线圈装置的分解立体图。
[0046]图11是从图10所示的线圈装置卸下一个芯时的侧视图。
具体实施方式
[0047]在下文中，基于附图所示的实施方式对本专利技术进行说明。
[0048]第一实施方式
[0049]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种线圈装置，其具有：第一芯部，其具有第一脚部；第二芯部，其在与所述第一脚部之间形成间隙而配置；以及导体，其至少一部分配置于所述第一芯部和所述第二芯部之间，在所述导体，在与所述间隙对应的位置形成有切口部。2.根据权利要求1所述的线圈装置，其中，所述切口部沿着与所述导体相邻的所述第一脚部的边缘形成于所述导体。3.根据权利要求1或2所述的线圈装置，其中，所述切口部的深度比所述间隙的宽度大。4.根据权利要求1或2所述的线圈装置，其中，所述第二芯部具有与所述第一脚部相对地配置的第二脚部，所述切口部在与形成于所述第一脚部和所述第二脚部之间的所述间隙对应的位置，形成于所述导体。5.根据权利要求4所述的线圈装置，其中，所述切口部由凹槽构成。6.根据权利要求1或2所述的线圈装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晨，杉本聪，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：