一种测试台制造技术

技术编号:30875346 阅读:18 留言:0更新日期:2021-11-18 15:55
涉及电子件测试技术领域,本申请公开一种测试台,包括插板、第一图示仪和第二图示仪,插板设有多个用于插接待测件的插孔;第一图示仪用于显示待测件的正向电压,与各个所述插孔电连接;第二图示仪与所述第一图示仪并联设置,用于显示待测件的反向电压,与各个所述插孔电连接。本实用新型专利技术,在测试台上分别连接第一图示仪和第二图示仪,利用第一图示仪和第二图示仪测试待测件的正向电压和反向电压,在测试时,正向电压和反向电压应当分别测试,使得测试数据能够通过仪器直观显示,便于测试者实时观察测试过程中的数据变化,从而避免数据产生窜扰和偏差。窜扰和偏差。窜扰和偏差。

【技术实现步骤摘要】
一种测试台


[0001]本申请总体来说涉及一种测试装置,具体而言,涉及一种测试台。

技术介绍

[0002]暗电流存在于光感测器(例如光电倍增管、光电二极管及感光耦合元件),为没有光子通过光感测器时,元件中仍然存在的微小电流。暗电流在所有二极管中都存在,暗电流中形成的原因是元件中耗尽层这个电子以及空穴随机产生造成的,来自元件内部的热噪声。虽然二极管理论上具有正向导通、反向截止的特性,但现实中二极管元件在反向时不能做到真正的截止,因此暗电流无法完全消除。暗电流一般很小,基本在uA和nA量级,但是在工业领域,暗电流属于必测项,该测试指标主要用来判断二极管元件是否击穿以及晶圆工艺是否存在问题。
[0003]目前光通信行业呈爆发式增长,不管是无源的光网络如FTTx、光纤光缆,还是有源的光收发模块、光芯片等都对PD端的灵敏度提出了更高要求,对暗电流的要求也更为苛刻。为了提高量子效率和响应时间,暗电流的测试需要添加一定的反向偏压,现有的手动测试暗电流与测试正反向电压是独立进行,整合到一起测试会有一定的窜扰。
[0004]有鉴于此,亟需对现有的手动暗电流测试台的结构进行改进,以减少测试中的窜扰,提高测试效率。

技术实现思路

[0005]本申请的一个主要目的在于克服上述现有技术的暗电流测试台存在窜扰的缺陷,提供一种测试台,包括:
[0006]插板,设有多个用于插接待测件的插孔;
[0007]第一图示仪,用于显示待测件的正向电压,与各个所述插孔电连接;以及,
[0008]第二图示仪,与所述第一图示仪并联设置,用于显示待测件的反向电压,与各个所述插孔电连接。
[0009]根据本技术的一实施例,所述第一图示仪设有用于控制其通断的第一开关,所述第二图示仪设有用于控制其通断的第二开关,所述第一开关和所述第二开关择一启动。
[0010]进一步地,在上述实施例中,还包括开关支架,所述开关支架的中部转动设于桩头,所述第一开关设于所述开关支架的第一端,所述第二开关设于所述开关支架的第二端,所述第一开关和所述第二开关对应设有触点,所述第一开关和所述第二开关择一与所述触点抵接。
[0011]进一步地,在上述实施例中,还包括报警器,所述报警器的接线两端分别设于第一图示仪和第二图示仪的并联支路上。
[0012]根据本技术的一实施例,所述第一图示仪和所述第二图示仪均与检测总路连接,所述检测总路与多个并联的检测分路连接,各个所述插孔一一对应设于所述检测分路
上,所述第一图示仪/第二图示仪、所述检测总路和所述检测分路构成闭合电路。
[0013]进一步地,在上述实施例中,还包括用于测试电流的检测表,所述检测表串联于所述检测总路上。
[0014]每个所述检测分路设有第三开关,各所述第三开关与所述插孔串联,所述第三开关择一启动。
[0015]进一步地,在上述实施例中,所述检测总路设有用于控制所述检测表通断的第四开关,所述第四开关与所述检测表并联,所述第四开关断开,电流通过所述检测表。
[0016]进一步地,在上述实施例中,还包括控制板,所述第一图示仪和所述第二图示仪连接于所述控制板,所述第三开关设于所述控制板。
[0017]进一步地,在上述实施例中,所述控制板设有与各个所述第三开关对应连接的第一接口,所述插板设有于所述插孔对应连接的第二接口,所述第一接口和所述第二接口之间设有可插拔的连接线。
[0018]由上述技术方案可知,本申请的测试台的优点和积极效果在于:在测试台上分别连接第一图示仪和第二图示仪,利用第一图示仪和第二图示仪测试待测件的正向电压和反向电压,在测试时,正向电压和反向电压应当分别测试,使得测试数据能够通过仪器直观显示,便于测试者实时观察测试过程中的数据变化,从而避免数据产生窜扰和偏差。
附图说明
[0019]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本技术的实施例,并与说明书一起用于解释本技术的原理。
[0020]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是根据一示例性实施例示出的测试台的结构示意图。
[0022]图2是根据一示例性实施例示出的测试台的电路原理图。
[0023]图3是根据一示例性实施例示出的第一开关和第二开关的结构示意图。
[0024]其中,附图标记说明如下:
[0025]10、第一图示仪;11、第一开关;20、第二图示仪;21、第二开关;30、控制板;31、第三开关;40、插板;41、插孔;50、检测表;51、第四开关;60、连接线;70、支架;71、桩头;72、触点。
具体实施例
[0026]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0027]为了克服现有技术中测试台存在暗电流窜扰导致测试数据出现偏差的缺陷,如图1和图2所示,本技术公开了一种测试台,包括插板40、第一图示仪10和第二图示仪20。插板40设有多个用于插接待测件的插孔41。第一图示仪10用于显示待测件的正向电压,与各个插孔41电连接。第二图示仪20与第一图示仪10并联设置,用于显示待测件的反向电压,
与各个插孔41电连接。
[0028]图示仪对待测件如控制芯片发出的各类脉冲和电平信号实时捕获,并进行分析,通过图形的形式形象地将插补算法、脉冲信号以及运动轨迹之间的关系以一组按比例缩放的脉冲序列和一个坐标图的形式显示出来。
[0029]本技术的技术方案,在测试台上分别连接第一图示仪10和第二图示仪20,利用第一图示仪10和第二图示仪20测试待测件的正向电压和反向电压,在测试时,正向电压和反向电压应当分别测试,使得测试数据能够通过仪器直观显示,便于测试者实时观察测试过程中的数据变化,从而避免数据产生窜扰和偏差。
[0030]优选地,第一图示仪10设有用于控制其通断的第一开关11,第二图示仪20设有用于控制其通断的第二开关21,第一开关11和第二开关21择一启动。在测试时,通过第一开关11来控制开启第一图示仪10,通过第二开关21来控制开启第二图示仪20,从而通过手动切换是正向还是反向电压。
[0031]如图3所示,进一步地,在上述实施例中,还包括开关支架70,开关支架70的中部转动设于桩头71,第一开关11设于开关支架70的第一端,第二开关21设于开关支架70的第二端,第一开关11和第二开关21对应设有触点72,第一开关11和第二开关21择一与触本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试台,其特征在于,包括:插板(40),设有多个用于插接待测件的插孔(41);第一图示仪(10),用于显示待测件的正向电压,与各个所述插孔(41)电连接;以及,第二图示仪(20),与所述第一图示仪(10)并联设置,用于显示待测件的反向电压,与各个所述插孔(41)电连接。2.根据权利要求1所述的测试台,其特征在于,所述第一图示仪(10)设有用于控制其通断的第一开关(11),所述第二图示仪(20)设有用于控制其通断的第二开关(21),所述第一开关(11)和所述第二开关(21)择一启动。3.根据权利要求2所述的测试台,其特征在于,还包括开关支架(70),所述开关支架(70)的中部转动设于桩头(71),所述第一开关(11)设于所述开关支架(70)的第一端,所述第二开关(21)设于所述开关支架(70)的第二端,所述第一开关(11)和所述第二开关(21)对应设有触点(72),所述第一开关(11)和所述第二开关(21)择一与所述触点(72)抵接。4.根据权利要求3所述的测试台,其特征在于,还包括报警器,所述报警器的接线两端分别设于第一图示仪(10)和第二图示仪(20)的并联支路上。5.根据权利要求1所述的测试台,其特征在于,所述第一图示仪(10)和所述第二图示仪(20)均与检测总...

【专利技术属性】
技术研发人员:李根陆一锋
申请(专利权)人:深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司
类型:新型
国别省市:

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