一种键盘薄壳体自动测量夹具制造技术

本实用新型专利技术一种键盘薄壳体自动测量夹具，涉及键盘薄壳体夹具的技术领域，包括底座，底座的侧壁上开设有真空接入口；定型板块，定型板块设置在底座顶部，底座和定型板块之间围成真空腔体，定型板块的上表面设有键网区域，定型板块的键网区域的四周边缘开设有多个小方形凹槽，且定型板块的键网区域的四周边缘设置有定位凸台，定型板块的键网区域内开设多个真空孔。本实用新型专利技术的键盘薄壳体自动测量夹具实现三次元测量机和二次元影像测量机的兼用，使用三次元测量机和二次元影像测量机都可以准确的测量产品的尺寸，极大程度上消除了测量误差，确保测量系统的稳定性，减少重复测量误判所带来的故障成本。所带来的故障成本。所带来的故障成本。

【技术实现步骤摘要】
一种键盘薄壳体自动测量夹具


[0001]本技术涉及一种键盘薄壳体的
，尤其涉及一种键盘薄壳体自动测量夹具。

技术介绍

[0002]键盘热成型塑料薄壁件对产品尺寸的测量和评估需要使用到精密的三次元测量机(测针接触)或者二次元影像测量机(非接触)。但是客户端和公司在选择上很难保证使用一样的设备，存在一方使用三次元测量机，另一方使用二次元影像测量机的现象，所以双方在测量这种易形变的薄壁件时，无法实现测量结果一致性的要求。所以需要研究如何通过合适的定型夹具来实现消除设备差异造成的测量差异。
[0003]另外，针对多个项目，使用多套夹具需要频繁切换来测量，造成设备测量和人员大量的效率损失，所以需要考虑多个项目能够使用同一夹具测量，解决此困扰。
[0004]薄壁件结构软，放到夹具会因为未摆放到位造成测量结果有较大偏差，所以测量装夹需要考虑同一产品测量和不同人员测量造成的重复性和再现性的问题。

技术实现思路

[0005]针对上述问题，本技术的目的在于提供一种键盘薄壳体自动测量夹具，解决了采用不同设备导致测量结果不一致，以及软质的键盘薄壳体未摆放到位造成测量结果有偏差的技术问题。
[0006]为了实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0007]一种键盘薄壳体自动测量夹具，包括：底座，所述底座的侧壁上开设有真空接入口；定型板块，所述定型板块设置在所述底座顶部，所述底座和所述定型板块之间围成真空腔体，所述定型板块的上表面设有键网区域，所述定型板块的键网区域的四周边缘开设有多个小方形凹槽，且所述定型板块的键网区域的四周边缘设置有定位凸台，所述定型板块的键网区域内开设多个真空孔。
[0008]上述的键盘薄壳体自动测量夹具，其中，多个所述真空孔均贯穿所述定型板块与所述真空腔体连通，多个所述真空孔的内径均为0.5mm。
[0009]上述的键盘薄壳体自动测量夹具，其中，所述真空接入口与所述真空腔体连通。
[0010]上述的键盘薄壳体自动测量夹具，其中，所述底座和所述定位板块之间通过多个螺钉连接。
[0011]上述的键盘薄壳体自动测量夹具，其中，所述底座和所述定型板块均采用铝制材料。
[0012]本技术由于采用了上述技术，使之与现有技术相比具有的积极效果是：
[0013]1、本技术的键盘薄壳体自动测量夹具实现三次元测量机和二次元影像测量机的兼用，使用三次元测量机和二次元影像测量机都可以准确的测量产品的尺寸。
[0014]2、本技术的键盘薄壳体自动测量夹具极大程度上消除了测量误差，确保测量
系统的稳定性，减少重复测量误判所带来的故障成本。
附图说明
[0015]图1为本技术的键盘薄壳体自动测量夹具的示意图；
[0016]图2为本技术的底座和定型板块分离后的示意图。
[0017]附图标记：1、底座；11、真空接入口；2、定型板块；21、小方形凹槽；22、定位凸台。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所述描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参见图1、图2所示，图1为本技术的键盘薄壳体自动测量夹具的示意图；图2为本技术的底座和定型板块分离后的示意图。
[0020]本技术实施例提供的一种键盘薄壳体自动测量夹具，包括：底座1和定型板块2。
[0021]其中，定型板块2设置在底座1顶部，底座1和定位板块之间通过多个螺钉连接，底座1和定型板块2之间围成真空腔体，真空接入口11与真空腔体连通，定型板块2的上表面设有用于卡设键盘薄壳体的键网区域，定型板块2的键网区域的四周边缘开设有多个小方形凹槽21，且定型板块2的键网区域的四周边缘设置有定位凸台22，定型板块2的键网区域内开设多个真空孔，用于吸附被测的键盘薄壳体。
[0022]进一步，多个真空孔均贯穿定型板块2与真空腔体连通，多个真空孔的内径均为0.5mm。
[0023]还有，底座1和定型板块2均采用符合国标的铝制材料，整体相比钢材更轻便，加工形变也比塑料材料更小，考虑多个项目的频繁切换夹具造成设备和人员的效率损失，该自动测量夹具设计时真空定型区域全部选择多项目的共同特征进行定型，所以实现了多个项目的共用夹具的需求，实现了多项目的自由切换。
[0024]测量键盘薄壳体的三次元测量机通过测针接触测量，二次元影像测量机采用影像非接触测量，对于三次元测量机，被测物测量位置必须要有空间给测针触碰的，对于二次元影像测量机则需要能够通过相机清楚地抓取影像用于评估，对于本技术的自动测量夹具上的键盘薄壳体，三次元测量机的测针可以下降到小方形凹槽21内，可以顺利触测产品边缘，使用二次元影像测量机也可以顺利拍照通过影像进行测量，被测产品通过自动测量夹具定型后，因为自身结构软产生的形变都被消除了，使用三次元测量机和二次元影像测量机都可以准确的测量产品的尺寸。
[0025]在定型板块2上设置三个定位凸台22，起到产品的初定位基准的作用，不同的人员在操作放置和测量产品，即使是同一个产品重复放置测量或者是不同产品的重复测量也可以保证产品关键尺寸的重复波动偏差不超过0.008mm。通过这个定位凸台22也可以实现产品的快速放置和切换，大大的提高产品测量的效率。
[0026]与现有技术相比，本技术的提供键盘薄壳体自动测量夹具，在应用时，将键盘
薄壳体放置到定型板块2上表面的键网区域上，将真空接入口11接通负压真空，对真空腔体内抽真空形成负压，此时多个真空孔在负压真空的作用下吸附着键盘薄壳体，使其固定在定型板块2上，定位凸台22进行初始定位，三次元测量机的测针能够伸入小方形凹槽21内触测产品边缘，二次元影像测量机能够拍照通过影像进行测量。由此可见，上述的键盘薄壳体自动测量夹具能够实现三次元测量机和二次元影像测量机兼用，提高了多项目测量和切换的效率，极大程度上消除了测量误差，确保测量系统的稳定性，减少重复测量误判所带来的故障成本。
[0027]以上仅为本技术较佳的实施例，并非因此限制本技术的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本技术说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本技术的保护范围内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种键盘薄壳体自动测量夹具，其特征在于，包括：底座(1)，所述底座(1)的侧壁上开设有真空接入口(11)；定型板块(2)，所述定型板块(2)设置在所述底座(1)顶部，所述底座(1)和所述定型板块(2)之间围成真空腔体，所述定型板块(2)的上表面设有键网区域，所述定型板块(2)的键网区域的四周边缘开设有多个小方形凹槽(21)，且所述定型板块(2)的键网区域的四周边缘设置有定位凸台(22)，所述定型板块(2)的键网区域内开设多个真空孔。2.根据权利要求1所述的键盘...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘振飞，钟群华，王世斌，冯彬，王胜，顾星桓，梁欣宇，徐本胜，徐中涛，吴晓华，
申请(专利权)人：鹏达精密包装材料上海有限公司，
类型：新型
国别省市：