一种通用型测试工装制造技术

一种通用型测试工装，包括机架、下压装置、升降装置和检测台，检测台安装于机架上，下压装置位于检测台上方，且下压装置升降滑动设于机架上，机架安装有滑轨，并且所述下压装置滑动连接滑轨，所述升降装置包括外壳、蜗轮、蜗杆和丝杆，所述外壳固定于机架顶部，所述蜗杆的一端穿入外壳并与蜗轮啮合，所述蜗轮的底部转动连接有轴承，轴承安装于外壳上，所述蜗轮开设有内螺纹，所述丝杆螺纹穿过蜗轮内侧，且丝杆的一端与下压装置连接，另一端升降滑动穿过外壳。本实用新型专利技术具有能够调节测试组件高度进而实现测试更多尺寸的电子元器件的优点。而实现测试更多尺寸的电子元器件的优点。而实现测试更多尺寸的电子元器件的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种通用型测试工装


[0001]本技术涉及测试装置领域，具体涉及一种通用型测试工装。

技术介绍

[0002]电子元器件是电子元件和电小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，电子元器件可以在同类产品中通用,电子元器件常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，如电容、晶体管、游丝、发条等子器件的总称，电子元器件在出厂时需要进行检测，不同的电子元器件通常高度不一致，在测试时，电子元器件相距测试组件的距离过近或过远导致测试效果不好甚至无法测试，这是由于常见的测试工装无法调节测试组件的高度。

技术实现思路

[0003](一)解决的技术问题
[0004]本技术提供了一种通用型测试工装，至少解决现有测试工装在测试时无法调节测试组件高度的问题，具有能够调节测试组件高度进而实现测试更多尺寸的电子元器件的优点。
[0005](二)技术方案
[0006]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种通用型测试工装，包括机架、下压装置、升降装置和检测台，检测台安装于机架上，下压装置位于检测台上方，且下压装置升降滑动设于机架上，机架安装有滑轨，并且所述下压装置滑动连接滑轨，所述升降装置包括外壳、蜗轮、蜗杆和丝杆，所述外壳固定于机架顶部，所述蜗杆的一端穿入外壳并与蜗轮啮合，所述蜗轮的底部转动连接有轴承，轴承安装于外壳上，所述蜗轮开设有内螺纹，所述丝杆螺纹穿过蜗轮内侧，且丝杆的一端与下压装置连接，另一端升降滑动穿过外壳。
[0007]如此设置，在安装时，需根据下压装置与检测台的距离改变下压装置的安装位置，并且由于下压装置安装于丝杆上，通过转动蜗杆，蜗轮转动进而带动丝杆升降，从而带动下压装置升降，进而实现了下压装置能够改变位置高度，能够位于一个更合适的工作位置。
[0008]进一步设置，所述下压装置包括滑动连接于机架上的连接板、安装于所述连接板上的底座以及铰接于底座上的把手，所述连接板顶部固定设置于所述丝杆的顶端，所述把手上设有折弯部，所述折弯部左右两侧分别铰接有让位板，两个所述让位板的另一端均铰接一压杆，两个所述让位板围成一供把手活动的让位区。
[0009]如此设置，该下压装置操作方便，只需抬起或下拉把手，即可实现压杆的上下移动，另外在把手上设有折弯部，折弯部左右两侧均铰接有让位板，两个让位板间形成一让位区，让位区使得下拉把手时，把手的转动角度更大，压杆能够下压更大距离，进而实现提高下压装置的下压深度的效果。
[0010]进一步设置，所述连接板上开设有若干个第一通槽，所述连接板与底座之间设有锁紧螺栓，锁紧螺栓升降滑动于第一通槽上，所述底座上设有若干螺纹孔，所述锁紧螺栓穿
过第一通槽并螺纹连接螺纹孔，且锁紧螺栓锁紧时，锁紧螺栓的螺帽抵触于连接板上。
[0011]如此设置，通过锁紧螺栓锁固底座，方便且固定效果好，并且第一通槽数量设置至少两个并且两个第一通槽对称设置，能够获得更好地固定效果，进而实现了方便安装下压装置的效果。
[0012]进一步设置，所述压杆下端连接有一安装板，并且所述安装板上开设有若干个用于供治具可拆卸安装的第二通槽。
[0013]如此设置，将不同的检测治具通过螺栓螺母配合固定于第二通槽上，使得安装板上可以更换不同检测治具，进而实现了该测试工装能够测试更多的电子元件。
[0014]进一步设置，所述底座上固定设有一导向通道，所述压杆滑动穿设过导向通道。
[0015]如此设置，压杆滑动穿设于导向通道内，进而实现下压方向固定，提高测试精确度的效果。
[0016]进一步设置，所述蜗杆穿过外壳的一端连接有一用于驱动蜗杆的旋转件。
[0017]如此设置，旋转件可以为电机，将电机安装于机架上，蜗杆转动设置于电机的转轴上，不仅能够减少人工费力还能起到支撑升降装置的作用。
[0018]进一步设置，所述检测台上开设有通孔，所述检测台内还开设有一抽拉式储物槽，所述通孔与抽拉式储物槽相连通。
[0019]如此设置，可以将测试后不合格的电子元件丢入通孔内，分类更加方便快捷，进而提高了测试效率。
[0020](三)有益效果
[0021]与现有技术相比，本技术提供的一种通用型测试工装，具备以下有益效果：
[0022]设置了升降装置，通过蜗杆与蜗轮啮合，蜗轮带动丝杆上下移动，并且下压装置通过连接板连接丝杆的一端，并且连接板的两侧滑动连接于机架的滑轨上，使得连接板能够跟随丝杆上下移动，从而能够改变下压装置的高度，还可以通过在安装下压装置的底座时，将底座锁固于不同位置的第一通槽或者第一通槽上的不同位置来改变下压装置的高度，克服了现有测试工装由于无法改变下压组件高度而且无法测试尺寸过大或过小的电子元件的问题，进而实现了能够通过安装改变下压装置高度或者通过调节升降装置改变下压装置高度的效果，使其能够检测更多尺寸的电子元件。
附图说明
[0023]图1为本技术的整体图；
[0024]图2为本技术的升降装置示意图；
[0025]图3为本技术的下压装置示意图。
[0026]其中：1、机架；2、升降装置；3、检测台；4、下压装置；5、安装板； 6、旋转件；10、滑轨；20、外壳；21、蜗轮；22、蜗杆；23、丝杆；24、轴承；40、连接板；41、底座；42、把手；43、让位板；44、压杆；45、锁紧螺栓；400、第一通槽；410、螺纹孔；411、导向通道；420、折弯部；430、让位区；50、第二通槽；30、通孔；31、储物槽。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行
清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]请参阅图1、图2和图3所示，其中，图1为本技术的整体图；图 2为本技术的升降装置示意图；图3为本技术的下压装置示意图。
[0029]一种通用型测试工装，包括机架1、升降装置2和检测台3，检测台3 安装于机架1上，升降装置2上安装有一配合检测台3用的下压装置4，检测台3上开设有通孔30，检测台3内还开设有一抽拉式储物槽31，通孔30 与抽拉式储物槽31相连通，下压装置4位于检测台3上方，且下压装置4 升降滑动设于机架1上，下压装置4下压配合检测台3测试待测件，对于不合格的产品可直接丢入通孔30内由储物槽31统一储存，分类效率高；
[0030]机架1上安装有滑轨10，并且下压装置4滑动连接滑轨10，使得下压装置4能够上下滑动，升降装置2包括外壳20、蜗轮21、蜗杆22和丝杆 23，外壳20固定于机架1顶部，蜗杆22的一端穿入外壳20并与蜗轮21 啮合，蜗杆22穿过外壳20的一端连接有一旋转件6，旋转件6设置于机架 1上的电机，蜗杆22转动连接于电机的转轴上，为蜗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用型测试工装，其特征在于，包括机架(1)、下压装置(4)、升降装置(2)和检测台(3)，检测台安装于机架(1)上，下压装置(4)位于检测台(3)上方，且下压装置(4)升降滑动设于机架(1)上，机架(1)上安装有滑轨(10)，并且所述下压装置(4)滑动连接滑轨(10)，所述升降装置(2)包括外壳(20)、蜗轮(21)、蜗杆(22)和丝杆(23)，所述外壳(20)固定于机架(1)顶部，所述蜗杆(22)的一端穿入外壳(20)并与蜗轮(21)啮合，所述蜗轮(21)的底部转动连接有轴承(24)，轴承(24)安装于外壳(20)上，所述蜗轮(21)开设有内螺纹，所述丝杆(23)螺纹穿过蜗轮(21)内侧，且丝杆(23)的一端与下压装置(4)连接，另一端升降滑动穿过外壳(20)。2.根据权利要求1所述的一种通用型测试工装，其特征在于，所述下压装置(4)包括滑动连接于机架(1)上的连接板(40)、安装于所述连接板(40)上的底座(41)以及铰接于底座(41)上的把手(42)，所述连接板(40)顶部固定设置于所述丝杆(23)的顶端，所述把手(42)上设有折弯部(420)，所述折弯部(420)左右两侧分别铰接有让位板(43)，两个所述让位板(43)的另一端均铰接一压杆(44)，两个所述让位板(...

【专利技术属性】
技术研发人员：舒云波，姚龙，
申请(专利权)人：厦门凯信博电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：