用于检测薄壁环上孔位置的测具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于检测薄壁环上孔位置的测具，包括夹持组件，所述夹持组件用于将零件固定并进行定位；测量组件，所述测量组件穿过所述夹持组件并与待测零件上的加工孔配合用于判断零件是否合格，具有方便对零件进行测量，提高了检测效率，加快了零件的生产进度。进度。进度。

【技术实现步骤摘要】
用于检测薄壁环上孔位置的测具


[0001]本技术涉及零件加工孔位置测量的
，特别地，涉及一种用于检测薄壁环上孔位置的测具。

技术介绍

[0002]三坐标测量，它是指在一个六面体的空间范围内，能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能力的仪器，又称为三坐标测量仪或三坐标量床。三坐标测量仪可定义为"一种具有可作三个方向移动的探测器，可在三个相互垂直的导轨上移动，此探测器以接触或非接触等方式传送讯号，三个轴的位移测量系统(如光学尺)经数据处理器或计算机等计算出工件的各点坐标(X、Y、Z)及各项功能测量的仪器"。三坐标测量仪的测量功能应包括尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等。
[0003]现有技术中在对圆环形薄壁上多孔零件进行检测时需要采用三坐标计进行测量，耗时长、效率低，零件批量生产后工作量大，严重影响生产进度，针对上述现有技术的不足本专利技术提供一种用于检测薄壁环上孔位置的测具对薄壁圆环形零件薄壁上的孔是否合格进行测量。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种用于检测薄壁环上孔位置的测具，以解决在对圆环形薄壁上多孔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测薄壁环上孔位置的测具，其特征在于：包括：夹持组件(1)，所述夹持组件(1)用于将零件固定并进行定位；测量组件(2)，所述测量组件(2)穿过所述夹持组件(1)并与待测零件上的加工孔配合用于判断零件是否合格。2.根据权利要求1所述的一种用于检测薄壁环上孔位置的测具，其特征在于：所述夹持组件(1)包括外环(12)，所述外环(12)上加工有定位槽(121)，用于将待测零件卡接于所述定位槽(121)内。3.根据权利要求2所述的一种用于检测薄壁环上孔位置的测具，其特征在于：所述测量组件(2)包括多个插销和多个检测孔，在检测孔所述外环(12)排布方式与标准零件的加工孔排布方式相匹配，插销与检测孔一一对应布设，检测孔沿外环(12)的径向设置，通过将插销穿设过对应的检测孔并与待测零件上的加工孔配合以判断零件是否合格。4.根据权利要求3所述的一种用于检测薄壁环上孔位置的测具，其特征在于：所述外环(12)内壁上设置有定位环(11)，所述定位环(11)与所述外环(12)之间设置有连接件(13)，所述连接件(13)用于连接所述外环(12)与所述定位环(11)，所述定位环(11)用于调整待测零件的加工孔的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢立军，陈希至，周辉，
申请(专利权)人：中航动力株洲航空零部件制造有限公司，
类型：新型
国别省市：