一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具，包括两个固定板，两个固定板的一侧均开设有多个对应的卡合槽，多个卡合槽的内部均卡合连接有卡块，每两个卡块的一端分别固定连接在连接板的两端，连接板的顶部固定连接有多个连接柱，多个连接柱的一端均固定连接在金属板的一侧，金属板的另一侧开设有多个固定槽，两个固定板的底部均固定连接在固定底架的顶部，本实用新型专利技术一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具，整个夹具能够同时放置多个金属板，这样在整个测试的过程中，工作人员可以同时对多个测试点测试，提高了整个测试工作的效率，整个夹具的结构稳定性好，安装在夹具上的金属板不易松动。装在夹具上的金属板不易松动。装在夹具上的金属板不易松动。

【技术实现步骤摘要】
一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具


[0001]本技术涉及测量
，具体为一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具。

技术介绍

[0002]DML（Directly Modulated semiconductor Laser）的激光器，由于没有TEC稳定LD芯片的工作温度，而LD芯片的发光特性随温度变化而变化，同时波长也会随着温度的变化而变化。在LD的工作范围内，需要确保LD的发光效率，LD的发光线性特性，监控二极管的稳定性以及波长的变化范围必须满足对应模块级别的应用标准，所以需要对LD进行高低温的测量。
[0003]现有测量工作所使用的夹具不能够同时放置多个金属板，这样在整个测试的过程中，工作人员不能同时对多个测试点测试，整个测试工作的效率较低，整个夹具的结构稳定性差，安装在夹具上的金属板易松动。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具，以解决上述
技术介绍
中提出的现有测量工作所使用的夹具不能够同时放置多个金属板，这样在整个测试的过程中，工作人员不能同时对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具，包括两个固定板（1），其特征在于：两个所述固定板（1）的一侧均开设有多个对应的卡合槽，多个所述卡合槽的内部均卡合连接有卡块（2），每两个所述卡块（2）的一端分别固定连接在连接板（3）的两端，所述连接板（3）的顶部固定连接有多个连接柱（4），多个所述连接柱（4）的一端均固定连接在金属板（5）的一侧，所述金属板（5）的另一侧开设有多个固定槽（6），两个所述固定板（1）的底部均固定连接在固定底架（7）的顶部，所述固定底架（7）底部的四个边角均固定连接有连接杆（8），四个所述连接杆（8）的一侧分别通过螺栓固定在四个连接筒（9）内壁的一侧，所述固定底架（7）底部的中心固定连接有安装箱（10），所述安装箱（10）的一端固定安装有控制开关（11），所述安装箱（10）的内部固定安装有蓄电池（12）。2.根据权利要求1所述的一种不同温度环境下批量测量TO56波长的夹具，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：金春晓，翟海峰，龚国星，
申请(专利权)人：南通汉瑞通信科技有限公司，
类型：新型
国别省市：