一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法，所述装置包括顺序连接的保偏器件第一光纤耦合器1、相位调制器、第二光纤耦合器2、第三光纤耦合器3、高速光电探测器、高通滤波器、功率探测器和比较器，其中单频激光注入进第一光纤耦合器1，射频信号注入相位调制器，高速光电探测器接收第三光纤耦合器3的激光，经光电转换，经过高通滤波器进行滤波，随后到达功率探测器，功率探测器依据注入电信号的功率输出对应电平到比较器，比较器将该电平与参考电平进行判断，输出展宽状态判断电平。这种装置结构简单、成本低、便于集成，这种方法操作方便，实用性好，能满足高功率激光系统对窄带光谱检测的需求。激光系统对窄带光谱检测的需求。激光系统对窄带光谱检测的需求。

【技术实现步骤摘要】
一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法


[0001]本专利技术属于激光
，具体涉及一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]受激布里渊散射（SBS）是单频激光系统常见的非线性效应，其过程可以描述为泵浦光、Stokes光通过声波进行的非线性相互作用，泵浦光通过电致伸缩效应产生声波，然后引起介质折射率周期性调制，即折射率光栅，移动的折射率光栅后向散射泵浦光，形成Stokes光。受激布里渊散射的存在不仅会制约激光脉冲功率的进一步提升，还会形成后向的高峰值功率尖峰脉冲，对系统光器件造成损伤，因此必须对SBS效应进行有效的抑制。目前，研究人员提出了几种抑制SBS的方法：优化设计具有高SBS阈值的光纤；在掺杂光纤上施加应力分布或温度分布；对单频激光进行相位调制展宽光谱，其中，对单频激光进行相位调制，实现光谱展宽的方法简单易行，在高功率激光系统以及窄线宽激光器中得到了广泛的使用。
[0003]光谱展宽的激光可以避免SBS的影响，在激光系统的后级中进一步放大。为避免单频激光没有进行有效的光谱展宽，而注本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，包括顺序连接的保偏器件第一光纤耦合器1、相位调制器、第二光纤耦合器2、第三光纤耦合器3、高速光电探测器、高通滤波器、功率探测器和比较器，其中单频激光注入进第一光纤耦合器1，经过第一光纤耦合器1分成两束，两束中的一束经第三光纤耦合器3的第一分束臂到达第三光纤耦合器3，两束中的另一束输出到相位调制器，射频信号注入相位调制器，随后输出到第二光纤耦合器2，再次分为两束，其中一束对外输出，另一束经第三光纤耦合器3的第二分束臂到达第三光纤耦合器3， 与第三光纤耦合器3第一分束臂的激光进行合束后，注入到高速光电探测器，高速光电探测器接收第三光纤耦合器3的激光，经光电转换，形成电信号，经过高通滤波器进行滤波，随后到达功率探测器，功率探测器依据注入电信号的功率输出对应电平到比较器，比较器将该电平与参考电平进行判断，输出展宽状态判断电平。2.根据权利要求1所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，所述第一光纤耦合器1、第二光纤耦合器2的分束比为1:99
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5:95、第三光纤耦合器3的分束比为50:50。3.根据权利要求2所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于， 所述第一光纤耦合器1的分束比小于第二光纤耦合器...

【专利技术属性】
技术研发人员：韦佳天，吕宏伟，贾炳文，邢宇鹏，赵灏，金奇，唐群植，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十四研究所，
类型：发明
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