超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法，试块包括第一检测面、第二检测面和显示面，其中：显示面上开设有同心设置的第一圆弧和第二圆弧，用于通过爬波探头校正爬波检测系统的测量距离；第一检测面上开设有多个第一刻槽,多个第一刻槽之间的间距不同，且任意两个第一刻槽在同一平面上的投影没有重叠区域；第二检测面上开设有多个第二刻槽，多个第二刻槽之间的间距不同，且任意两个第二刻槽及任意两个第一刻槽与第二刻槽在同一平面上的投影均没有重叠区域。本发明专利技术提供的超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法，使该试块适用于超声爬波检测系统的分辨力测试，从而确定了超声爬波检测系统的分辨力。力。力。

【技术实现步骤摘要】
超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法


[0001]本专利技术涉及无损检测
，更具体地，涉及一种超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法。

技术介绍

[0002]近年来，无损检测在不同行业的应用得到越来越多的重视，超声探伤作为常规的无损检方法，具有高效、经济、环保、灵敏度高的优势，被广泛应用在航空航天、铁路、船舶、压力容器等行业。超声横波或纵波检测工件表面及近表面伤损存在一定的局限性，而超声爬波检测工件表面及近表面缺陷，尤其是检测监控疲劳裂纹效果显著。
[0003]超声爬波的传播受试件表面刻痕、不平整、凹陷、液滴等的干扰较少，有利于探测表面下的缺陷，如铸件、堆焊层等的表面下裂纹以及螺纹根部的裂纹等，但现有的测试试块及检测方法均不适用于超声爬波检测系统的分辨力性能检测，并且超声爬波检测系统的分辨力也有待确定。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提出一种超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法，以使该试块适用于超声爬波检测系统的分辨力测试，从而确定超声爬波检测系统的分辨力。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述试块包括第一检测面、第二检测面和显示面，其中：所述显示面上开设有同心设置的第一圆弧和第二圆弧，用于通过爬波探头校正爬波检测系统的测量距离；所述第一检测面上开设有多个第一刻槽,多个所述第一刻槽之间的间距不同，且任意两个所述第一刻槽在同一平面上的投影没有重叠区域；所述第二检测面上开设有多个第二刻槽，多个所述第二刻槽之间的间距不同，且任意两个所述第二刻槽及任意两个所述第一刻槽与所述第二刻槽在所述同一平面上的投影均没有重叠区域。2.根据权利要求1所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一圆弧的半径大小为所述第二圆弧的半径大小的一半。3.根据权利要求2所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一检测面和所述第二检测面背向设置，所述显示面为与所述第一检测面及所述第二检测面均相连接的端面，所述第一刻槽的宽度和深度均相同，且所述第一刻槽的宽度为所述第一检测面宽度的1/3，所述第二刻槽的宽度和深度均相同，且所述第二刻槽的宽度为所述第二检测面宽度的1/3。4.根据权利要求3所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，任意两个所述第二刻槽之间的间距大小均与任意两个所述第一刻槽之间的间距大小不相等。5.根据权利要求4所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一刻槽为五个且包括第一中心刻槽，所述第一中心刻槽位于所述第一检测面的中心；所述第二刻槽为十个，平均分为两组，其中，第一组中的所述第二刻槽包括第二中心刻槽，第二组中的所述第二刻槽包括第三中心刻槽，所述第二中心刻槽和所述第三中心刻槽分别与所述第一中心刻槽之间的间距相同，且均为所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：史启帅，罗国伟，郑韵娴，高东海，安尚文，李庆耀，于佳，王岩，李宝雨，王全春，唐艺萌，
申请(专利权)人：北京中铁科新材料技术有限公司中国铁道科学研究院集团有限公司中国国家铁路集团有限公司，
类型：发明
国别省市：