一种集成电路测试治具制造技术

本发明专利技术公开了一种集成电路测试治具，其结构包括底座、顶盖、测试机构、气管接头，顶盖连接在底座上，底座内部安装有测试机构，且连接有气管接头，测试机构包括插座、排气管、斜栏、助力组件、定位槽，插座通过斜栏连接在底座上，且安装有助力组件，斜栏上连接有排气管，排气管连接在定位槽上，在助力组件上设置有延正装置和对位阶，利用延正装置和对位阶在对夹上相配合，当集成电路板呈直线向下挤进定位槽，由于对夹的开口由上至下变小，随着其开口的变化而带动中部的对位阶呈台阶状拉伸，使得集成电路板四角的引进冲击力能被有效缓解，且被顺势连带推送至延正装置上，能正确承接进定位槽内部。部。部。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试治具


[0001]本专利技术涉及集成电路测试领域，特别的，是一种集成电路测试治具。

技术介绍

[0002]治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作的一种工具，治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类，在集成电路生产完成后需要对集成电路进行测试，现有的集成电路测试治具容易出现以下弊端：
[0003]一般定位槽的大小会被调节至与集成电路板外围大小一致，在放入定位槽时，根据集成电路的玻璃盖板形状特性，会呈直线向下挤压槽内空气，使得内外空气之间发生对流运动，以致于集成电路板受气流扰动，会偏移原本的就位测试位置，产生测试角度受到限制的问题。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本专利技术提供一种集成电路测试治具，其结构包括底座、顶盖、测试机构、气管接头，所述顶盖连接在底座上，所述底座内部安装有测试机构，且连接有气管接头，所述测试机构包括插座、排气管、斜栏、助力组件、定位槽，所述插座通过斜栏连接在底座上，且安装有助力组件，所述斜栏上连接有排气管，所述排气管连接在定位槽上。
[0005]作为本专利技术的进一步改进，所述助力组件包括对夹、延正装置、顶位件、角套、对位阶，所述对夹内安装有对位阶，所述角套上连接有顶位件，所述顶位件内设置有延正装置。
[0006]作为本专利技术的进一步改进，所述对夹通过角套活动卡合在插座一侧，且间接配合在斜栏上，加速调节在斜栏上开合速度，保证对夹对集成电路板的引导。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述延正装置包括弹簧、缩道、锁扣、压板、外延件，所述弹簧一端通过角套间接配合在对位阶上，另一端之间安装有外延件，所述压板通过缩道滑动配合在顶位件内，所述缩道上连接在有锁扣。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，所述外延件包括压格、对接垫、卷带、推把，所述压格连接在推把上，所述推把通过顶位件间接配合与卷带上，所述卷带连接在对接垫上。
[0009]作为本专利技术的进一步改进，所述推把通过压板与锁扣过渡配合，使得推把顶部能与锁扣紧密夹扣在一起，加强结构之间的连接关系。
[0010]作为本专利技术的进一步改进，所述对位阶包括磨合板、转换件、万向节、转轴、浮板，所述磨合板间接配合在对夹上，且连接在浮板一侧，所述浮板另一侧连接在万向节上，所述万向节通过转轴设置有转换件。
[0011]作为本专利技术的进一步改进，所述转换件包括侧滑轮、降压套、触夹、隔板，所述侧滑轮通过弹簧滑动配合在转轴上，且之间连接有降压套，所述降压套上连接有隔板，所述隔板与侧滑轮上连接有触夹。
[0012]有益效果
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
[0014]1、本专利技术在助力组件上设置有延正装置和对位阶，利用延正装置和对位阶在对夹上相配合，当集成电路板呈直线向下挤进定位槽，由于对夹的开口由上至下变小，随着其开口的变化而带动中部的对位阶呈台阶状拉伸，使得集成电路板四角的引进冲击力能被有效缓解，且被顺势连带推送至延正装置上，能正确承接进定位槽内部。
[0015]2、本专利技术因受重力影响，其原本成卷的卷带，会从顶位件内部解放出来，不仅用于储存或释放压格受集成电路板对冲撞击的能量，也为集成电路板提供一个便捷的通道。
[0016]3、本专利技术通过触夹为弓形结构，其尖端滑动绷紧运动在万向节内部，当满足满弓状态时，其顶部的浮板会更加顺利地平铺在对夹内部，作为角度改变的引导，可以更顺利且更好的完成变形吸能。
附图说明
[0017]图1为本专利技术一种集成电路测试治具的结构示意图。
[0018]图2为本专利技术测试机构的俯视结构示意图。
[0019]图3为本专利技术助力组件的平面结构示意图。
[0020]图4为本专利技术延正装置的平面结构示意图。
[0021]图5为本专利技术外延件的平面结构示意图。
[0022]图6为本专利技术对位阶的剖面结构示意图。
[0023]图7为本专利技术转换件的剖面结构示意图。
[0024]图中：底座
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1、顶盖
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2、测试机构
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3、气管接头
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4、插座
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31、排气管
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32、斜栏
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33、助力组件
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34、定位槽
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35、对夹
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341、延正装置
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342、顶位件
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343、角套
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344、对位阶
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345、弹簧
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2a1、缩道
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2a2、锁扣
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2a3、压板
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2a4、外延件
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2a5、压格
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a51、对接垫
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a52、卷带
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a53、推把
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a54、磨合板
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5b1、转换件
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5b2、万向节
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5b3、转轴
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5b4、浮板
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5b5、侧滑轮
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b21、降压套
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b22、触夹
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b23、隔板
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b24。
具体实施方式
[0025]基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]实施例1
[0027]如图1
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图3所示，本专利技术提供一种集成电路测试治具，其结构包括底座1、顶盖2、测试机构3、气管接头4，所述顶盖2套接连接在底座1上，所述底座1内部安装有测试机构3，且外部固定连接有气管接头4，所述测试机构3包括插座31、排气管32、斜栏33、助力组件34、定位槽35，所述插座31通过斜栏33固定连接在底座1上，且倾斜安装有助力组件34，所述斜栏33中部焊接连接有排气管32，所述排气管32嵌接连接在定位槽35槽型结构底部，所述助力组件34包括对夹341、延正装置342、顶位件343、角套344、对位阶345，所述对夹341内部安装有对位阶345，所述角套344为圆锥形结构，其两侧开口端套接连接有顶位件343，所述顶位件343内设置有延正装置342，所述对夹341为贝壳状结构，通过角套344活动卡合在插座31一侧，且间接配合在斜栏33上，加速调节在斜栏33上开合速度，保证对夹341对集成电路板的引导，在助力组件34上设置有延正装置342和对位阶345，利用延正装置342和对位阶345
在对夹341上相配合，当集成电路板呈直线向下挤进定位槽35，由于对夹341的开口由上至下变小，随着其开口的变化，而带动中部的对位阶345呈台阶状拉伸，使得集成电路板四角的引进冲击力能被有效缓解，且被顺势连带推送至延正装置342上，能正确承接进定位槽3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试治具，其特征在于：其结构包括底座(1)、顶盖(2)、测试机构(3)、气管接头(4)，所述顶盖(2)连接在底座(1)上，所述底座(1)内部安装有测试机构(3)，且连接有气管接头(4)，所述测试机构(3)包括插座(31)、排气管(32)、斜栏(33)、助力组件(34)、定位槽(35)，所述插座(31)通过斜栏(33)连接在底座(1)上，且安装有助力组件(34)，所述斜栏(33)上连接有排气管(32)，所述排气管(32)连接在定位槽(35)上。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述助力组件(34)包括对夹(341)、延正装置(342)、顶位件(343)、角套(344)、对位阶(345)，所述对夹(341)内安装有对位阶(345)，所述角套(344)上连接有顶位件(343)，所述顶位件(343)内设置有延正装置(342)。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述对夹(341)通过角套(344)活动卡合在插座(31)一侧，且间接配合在斜栏(33)上。4.根据权利要求2所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述延正装置(342)包括弹簧(2a1)、缩道(2a2)、锁扣(2a3)、压板(2a4)、外延件(2a5)，所述弹簧(2a1)一端通过角套(344)间接配合在对位阶(345)上，另一端之间安装有外延件(2a5)，所述压板(2a4)通过缩道(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓龙，
申请(专利权)人：王晓龙，
类型：发明
国别省市：