一种半导体金属材料通用测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及测试夹具技术领域，且公开了一种半导体金属材料通用测试夹具，包括支撑台，所述支撑台的顶部侧壁通过调节机构对称连接有两个支撑箱，位于两个所述支撑箱之外支撑台的顶部侧壁上对称固定连接有支撑板，两块所述支撑板的上端共同固定连接有顶板，所述顶板底部侧壁的中部安装有测试设备，两个所述支撑箱相向箱壁的中部通过轴承转动连接有转杆，两根所述转杆相向的一端均固定连接有卡板，所述转杆的另一端固定连接有齿轮，两个所述支撑箱相背的箱壁上对称开设有滑孔。本实用新型专利技术可对半导体金属材料进行测试的同时可对不同型号的半导体金属材料进行固定，通用性好。通用性好。通用性好。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体金属材料通用测试夹具


[0001]本技术涉及测试夹具
，尤其涉及一种半导体金属材料通用测试夹具。

技术介绍

[0002]半导体金属材料进行测试的过程中需要对被测试的材料进行固定，进而需要使用到夹具，传统的夹具只能对装置进行简单的固定，不能进行旋转，进而只能对金属材料的单个面进行测试，测试效果差（这里，为了叙述简便以及突出重点，将属于现有技术用于测试的装置统称为测试设备）。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中现有半导体金属材料测试用夹具在使用的过程中出现的问题，而提出的一种半导体金属材料通用测试夹具。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种半导体金属材料通用测试夹具，包括支撑台，所述支撑台的顶部侧壁通过调节机构对称连接有两个支撑箱，位于两个所述支撑箱之外支撑台的顶部侧壁上对称固定连接有支撑板，两块所述支撑板的上端共同固定连接有顶板，所述顶板底部侧壁的中部安装有测试设备，两个所述支撑箱相向箱壁的中部通过轴承转动连接有转杆，两根所述转杆相向的一端均固定连接有卡板，所述转杆的另一端固定连接有齿轮，两个所述支撑箱相背的箱壁上对称开设有滑孔，所述支撑箱远离滑孔的内孔壁上固定连接有拉簧，且拉簧套设在齿轮上，所述拉簧的另一端固定连接有齿筒，且齿筒远离拉簧的一端穿过滑孔并向外延伸，所述齿筒靠近卡板的内筒壁上固定设有一圈齿牙，且齿筒通过齿牙与齿轮相啮合。
[0006]优选的，所述调节机构包括调节槽、螺杆、螺纹套筒和连杆，所述调节槽开设在支撑台的顶部侧壁上，所述螺杆通过两个轴承转动连接在调节槽内，且螺杆的杆壁上固定设有对称设置的螺纹，所述螺杆的两端贯穿支撑台并向外延伸，两个所述螺纹套筒对称螺纹连接在螺杆上，所述连杆固定连接在螺纹套筒的顶部筒壁上，所述连杆的上端穿过调节槽的槽口并向上延伸，且与支撑箱固定连接。
[0007]优选的，所述齿筒的相背外筒壁上对称开设有限位槽，所述限位槽内滑动连接有限位块，所述限位块远离限位槽槽底的一端穿过限位槽的槽口并向外延伸，且与滑孔的孔壁固定连接。
[0008]优选的，所述齿筒远离卡板的内筒壁上固定连接有拉杆。
[0009]优选的，所述螺杆的两端均固定连接有把手。
[0010]优选的，两块所述卡板相向的侧壁上均固定连接有橡胶垫，所述支撑台、支撑板、顶板、支撑箱和齿筒上均涂有防锈漆。
[0011]与现有技术相比，本技术提供了一种半导体金属材料通用测试夹具，具备以下有益效果：
[0012]1、该半导体金属材料通用测试夹具，通过设置支撑台、支撑箱、支撑板、顶板、转杆、测试设备、卡板、齿轮、滑孔、拉簧和齿筒，进行测试时，使用调节机构使得两块卡板对需要测试的金属材料进行固定，需要对金属材料的不同面进行测试时，对其中任意一个齿筒施加拉伸拉簧的拉力，进而使得齿筒脱离齿轮，进而使得转杆处于可旋转状态，进而可以旋转需要测试的半导体材料，旋转至合适状态，撤销对齿筒的拉力，进而齿筒复位，进而使得半导体材料固定，可进行检测，便于对不同的面进行检测。
[0013]2、该半导体金属材料通用测试夹具，通过设置调节槽、螺杆、螺纹套筒和连杆，需要对不同型号的半导体金属材料进行固定时，正向旋转螺杆，由于连杆与调节槽的限位作用，两个螺纹套筒进行相背运动，反向旋转螺杆使得两个螺纹套筒进行相向运动，进而根据需要测试半导体金属材料的型号，对不同型号的半导体金属材料进行固定。
[0014]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术可对半导体金属材料进行测试的同时可对不同型号的半导体金属材料进行固定，通用性好。
附图说明
[0015]图1为本技术提出的一种半导体金属材料通用测试夹具的结构示意图；
[0016]图2为本技术提出的一种半导体金属材料通用测试夹具支撑箱与卡板连接的结构示意图。
[0017]图中：1支撑台、2支撑箱、3支撑板、4顶板、5转杆、6测试设备、7卡板、8齿轮、9滑孔、10拉簧、11齿筒、12调节槽、13螺杆、14螺纹套筒、15连杆、16限位槽、17限位块、18拉杆。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0019]参照图1
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2，一种半导体金属材料通用测试夹具，包括支撑台1，支撑台1的顶部侧壁通过调节机构对称连接有两个支撑箱2，位于两个支撑箱2之外支撑台1的顶部侧壁上对称固定连接有支撑板3，两块支撑板3的上端共同固定连接有顶板4，顶板4底部侧壁的中部安装有测试设备5，两个支撑箱2相向箱壁的中部通过轴承转动连接有转杆6，两根转杆6相向的一端均固定连接有卡板7，转杆6的另一端固定连接有齿轮8，两个支撑箱2相背的箱壁上对称开设有滑孔9，支撑箱2远离滑孔9的内孔壁上固定连接有拉簧10，且拉簧10套设在齿轮8上，拉簧10的另一端固定连接有齿筒11，且齿筒11远离拉簧10的一端穿过滑孔9并向外延伸，齿筒11靠近卡板7的内筒壁上固定设有一圈齿牙，且齿筒11通过齿牙与齿轮8相啮合，进行测试时，使用调节机构使得两块卡板7对需要测试的金属材料进行固定，需要对金属材料的不同面进行测试时，对其中任意一个齿筒11施加拉伸拉簧10的拉力，进而使得齿筒11脱离齿轮8，进而使得转杆6处于可旋转状态，进而可以旋转需要测试的半导体材料，旋转至合适状态，撤销对齿筒11的拉力，进而齿筒11复位，进而使得半导体材料固定，可进行检测，便于对不同的面进行检测。
[0020]调节机构包括调节槽12、螺杆13、螺纹套筒14和连杆15，调节槽12开设在支撑台1
的顶部侧壁上，螺杆13通过两个轴承转动连接在调节槽12内，且螺杆13的杆壁上固定设有对称设置的螺纹，螺杆13的两端贯穿支撑台1并向外延伸，两个螺纹套筒14对称螺纹连接在螺杆13上，连杆15固定连接在螺纹套筒14的顶部筒壁上，连杆15的上端穿过调节槽12的槽口并向上延伸，且与支撑箱2固定连接，需要对不同型号的半导体金属材料进行固定时，正向旋转螺杆13，由于连杆15与调节槽12的限位作用，两个螺纹套筒14进行相背运动，反向旋转螺杆13使得两个螺纹套筒14进行相向运动，进而根据需要测试半导体金属材料的型号，对不同型号的半导体金属材料进行固定。
[0021]齿筒11的相背外筒壁上对称开设有限位槽16，限位槽16内滑动连接有限位块17，限位块17远离限位槽16槽底的一端穿过限位槽16的槽口并向外延伸，且与滑孔9的孔壁固定连接，对齿筒11进行限位，防止齿筒11脱离滑孔9的情况发生。
[0022]齿筒11远离卡板7的内筒壁上固定连接有拉杆18，便于对齿筒11施加拉力。
[0023]螺杆13的两端均固定连接有把手，便于旋转螺杆13。
[0024]两块卡板7相向的侧壁上均固定连接有橡本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体金属材料通用测试夹具，包括支撑台（1），其特征在于，所述支撑台（1）的顶部侧壁通过调节机构对称连接有两个支撑箱（2），位于两个所述支撑箱（2）之外支撑台（1）的顶部侧壁上对称固定连接有支撑板（3），两块所述支撑板（3）的上端共同固定连接有顶板（4），所述顶板（4）底部侧壁的中部安装有测试设备（5），两个所述支撑箱（2）相向箱壁的中部通过轴承转动连接有转杆（6），两根所述转杆（6）相向的一端均固定连接有卡板（7），所述转杆（6）的另一端固定连接有齿轮（8），两个所述支撑箱（2）相背的箱壁上对称开设有滑孔（9），所述支撑箱（2）远离滑孔（9）的内孔壁上固定连接有拉簧（10），且拉簧（10）套设在齿轮（8）上，所述拉簧（10）的另一端固定连接有齿筒（11），且齿筒（11）远离拉簧（10）的一端穿过滑孔（9）并向外延伸，所述齿筒（11）靠近卡板（7）的内筒壁上固定设有一圈齿牙，且齿筒（11）通过齿牙与齿轮（8）相啮合。2.根据权利要求1所述的一种半导体金属材料通用测试夹具，其特征在于，所述调节机构包括调节槽（12）、螺杆（13）、螺纹套筒（14）和连杆（15），所述调节槽（12）开设在支撑台（1）的顶部侧壁上，所述螺杆（13）通过两个轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：严维新，荣春华，曹庚才，许保花，
申请(专利权)人：西安科恩特精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：