一种电子元器件的密封性测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子元器件的密封性测试设备，涉及电子元器件密封性测试技术领域。包括测试机和测试机上的测试设备，所述测试设备上设置有限位组件和卡紧组件，所述测试设备上开设有环形的通槽，所述卡紧组件包括滑动板，所述滑动板的两端贯穿测试设备的里侧，所述滑动板的两端均与通槽的内壁相滑动连接，所述滑动板的底部固定安装有弹簧A，所述弹簧A的底部固定在通槽的内壁上，所述滑动板的底部固定有拉绳，所述拉绳在远离滑动板的一端通过导向轮固定在夹板的左侧。通过设置的卡紧组件，可以对不同口径的电子阀进行夹紧，进而进行测试，有效的提高装置的适用范围，且操作简单，大大提高了装置的实用性。大大提高了装置的实用性。大大提高了装置的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件的密封性测试设备


[0001]本技术涉及电子元器件密封性测试
，具体为一种电子元器件的密封性测试设备。

技术介绍

[0002]电子元器件的密封性是指其封装结构的密封性，是生产时尤为重要的检测项目，密封性的好坏直接影响产品的性能，密封性不良轻则改变电子元器件的表面状态，使电子元器件性能劣化，重则对使外界空气水分等进入电子元器件内部并产生腐蚀，使电子元器件出现开路等致命失效。
[0003]现有的对电子阀密封性进行检测时，检测仪器不能对口径的电子阀进行检测，适用范围窄，不方便对不同孔径的电子阀进行密封检测。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种电子元器件的密封性测试设备，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种电子元器件的密封性测试设备，包括测试机和测试机上的测试设备，所述测试设备上设置有限位组件和卡紧组件，所述测试设备上开设有环形的通槽，所述卡紧组件包括滑动板，所述滑动板的两端贯穿测试设备的里侧，所述滑动板的两端均与通槽的内壁相滑动连接，所述滑动板的底部固定安装有弹簧A，所述弹簧A的底部固定在通槽的内壁上，所述滑动板的底部固定有拉绳，所述拉绳在远离滑动板的一端通过导向轮固定在夹板的左侧，所述夹板的左侧固定有弹簧B，所述弹簧B的左侧固定在测试设备的里侧，所述夹板的左侧固定有环形密封橡胶，所述环形密封橡胶在远离夹板的一端固定在测试设备的里侧。
[0008]优选的，所述滑动板上开设有若干个通孔，所述滑动板的左侧开设有卡槽。
[0009]优选的，所述限位组件包括卡杆，所述卡杆贯穿测试设备的左侧延伸至通槽的内部，所述卡杆与弹簧C的左侧固定，所述弹簧C的右侧固定在测试设备的左侧。
[0010]优选的，所述夹板、弹簧B、弹簧A和拉绳均设置有两组且均以测试设备的中心线为对称轴对称设置。
[0011]优选的，所述测试设备的里侧开设有可供滑动板上下滑动的滑槽。
[0012]优选的，两组所述夹板均呈半圆环状。
[0013](三)有益效果
[0014]本技术提供了一种电子元器件的密封性测试设备。具备以下有益效果：
[0015](1)、该电子元器件的密封性测试设备，通过设置的卡紧组件，可以对不同口径的电子阀进行夹紧，进而进行测试，有效的提高装置的适用范围，且操作简单，大大提高了装
置的实用性。
[0016](2)、该电子元器件的密封性测试设备，通过设置的限位组件可以对卡紧组件进行限位，使其在将电子阀卡紧后，直接将整个卡紧组件卡住，避免在工作时松动，导致检测效果不佳。
附图说明
[0017]图1为本技术正视结构示意图；
[0018]图2为本技术测试设备剖面正视结构示意图；
[0019]图3为本技术A放大结构示意图；
[0020]图4为本技术测试设备结构示意图；
[0021]图5为本技术夹板的一种结构示意图。
[0022]图中：1、测试机；2、测试设备；3、限位组件；31、卡杆；32、弹簧C；4、卡紧组件；41、滑动板；42、弹簧A；43、夹板；44、弹簧B；45、环形密封橡胶；5、通槽。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1
‑
5，本技术提供一种技术方案：一种电子元器件的密封性测试设备，包括测试机1和测试机1上的测试设备2，测试设备2的里侧开设有可供滑动板41上下滑动的滑槽，在对电子阀进行检测时，检测气体虽然会通过测试设备2上的滑槽进入通槽5的内部，但不会影响测试的正常进行，测试设备2上设置有限位组件3和卡紧组件4，测试设备2上开设有环形的通槽5，卡紧组件4包括滑动板41，滑动板41的两端贯穿测试设备2的里侧，滑动板41的两端均与通槽5的内壁相滑动连接，滑动板41的底部固定安装有弹簧A42，弹簧A42的底部固定在通槽5的内壁上，滑动板41的底部固定有拉绳，拉绳在远离滑动板41的一端通过导向轮固定在夹板43的左侧，夹板43的左侧固定有弹簧B44，弹簧B44的左侧固定在测试设备2的里侧，夹板43的左侧固定有环形密封橡胶45，环形密封橡胶45在远离夹板43的一端固定在测试设备2的里侧，夹板43、弹簧B44、弹簧A42和拉绳均设置有两组且均以测试设备2的中心线为对称轴对称设置，两组夹板43均呈半圆环状，可以将不同口径的电子阀夹紧，更加方便的进行检测，滑动板41上开设有若干个通孔，滑动板41的左侧开设有卡槽，滑动板41上的通孔可以供检测的气体通过，进而可以去检测电子阀的密封性，滑动板41的左侧卡槽通过配合卡杆31可以实现对滑动板41进行限位或解除限位。
[0025]本实施例中，限位组件3包括卡杆31，卡杆31贯穿测试设备2的左侧延伸至通槽5的内部，卡杆31与弹簧C32的左侧固定，弹簧C32的右侧固定在测试设备2的左侧，卡杆31上开设有弧形的斜切面，在滑动板41被电子阀抵住向下移动时，不会影响滑动板41的正常移动且可以卡入滑动板41顶部的卡槽内。
[0026]工作时(或使用时)，启动测试机1，测试机1上的测试设备2向电子阀移动，测试设备2里侧的滑动板41被电子阀抵住向下移动，滑动板41向下移动并松开拉绳，在弹簧B44的
作用下，夹板43向右进行移动，将电子阀夹住，夹板43向右移动的同时将环形密封橡胶45拉开，使测试设备2保持密封状态，当夹板43将电子阀夹住时，滑动板41左侧的卡槽正好移动至卡杆31的位置，卡杆31卡入滑动板41左侧的卡槽内，使滑动板41不能在弹簧A42的作用下向上移动，进而保证在测试过程中夹板43不会将电子阀松开进而保证测试设备2内部的密封性。
[0027]当测试结束后，将卡杆31向左拉动，使卡杆31从滑动板41左侧的卡槽内退出，在弹簧A42的作用下，滑动板41向上移动，滑动板41拉动拉绳将夹板43向左拉动，使其不再将电子阀夹住，进而完成检测。
[0028]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的密封性测试设备，包括测试机(1)和测试机(1)上的测试设备(2)，其特征在于：所述测试设备(2)上设置有限位组件(3)和卡紧组件(4)，所述测试设备(2)上开设有环形的通槽(5)，所述卡紧组件(4)包括滑动板(41)，所述滑动板(41)的两端贯穿测试设备(2)的里侧，所述滑动板(41)的两端均与通槽(5)的内壁相滑动连接，所述滑动板(41)的底部固定安装有弹簧A(42)，所述弹簧A(42)的底部固定在通槽(5)的内壁上，所述滑动板(41)的底部固定有拉绳，所述拉绳在远离滑动板(41)的一端通过导向轮固定在夹板(43)的左侧，所述夹板(43)的左侧固定有弹簧B(44)，所述弹簧B(44)的左侧固定在测试设备(2)的里侧，所述夹板(43)的左侧固定有环形密封橡胶(45)，所述环形密封橡胶(45)在远离夹板(43)的一端固定在测试设备(2)的里侧。2.根据权利要求1所述的一种电...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟东，王文振，
申请(专利权)人：深圳市睿思半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：