【技术实现步骤摘要】
一种硅抛光组合物、制备方法及其应用
[0001]本专利技术涉及化学机械抛光
,尤其涉及一种硅抛光组合物、制备方法及其应用。
技术介绍
[0002]高纯的单晶硅是目前IC制造的主要衬底材料,随着IC集成度的不断增加,其特征尺寸不断减小,因此对大尺寸硅晶圆的表面质量提出了更高的要求。抛光可以去除硅片切割过程中产生的表面损伤层,提高其表面质量,而化学机械抛光(CMP)技术则被认为是目前晶圆全局平坦化的最有效方法。
[0003]CMP就是用含有磨料的抛光液和抛光垫所产生的的化学作用、机械作用以及两种作用的结合去抛光硅片表面,抛光过程中硅片表面与化学物质反应形成软质层,软质层再经磨料和抛光垫的机械作用剥离去除,因此抛光液在CMP过程中发挥了重要作用。由于二氧化硅和硅的莫氏硬度均为7,而且二氧化硅还具有粒度细,抛光后晶圆表面损伤层较薄及氧化诱生层错(OSF)基本小于100/cm2的优点,能够满足LSI和VLSI集成电路的要求,因此目前市场上用于单晶硅表面精密加工的抛光液,主要是以纳米二氧化硅胶体为磨粒,还结合有碱性化合物为 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种硅抛光组合物,以纳米二氧化硅胶体为磨料,其特征在于,还包括氨基醇类物质和水溶性维生素。2.根据权利要求1所述的硅抛光组合物,其特征在于,包括纳米二氧化硅胶体、氨基醇类物质、水溶性维生素、速率促进剂、酸性pH调节剂、表面活性剂、抑菌剂、余量为去离子水;优选地,所述水溶性维生素和氨基醇类物质的质量比为0.05~0.9;更优选地,各组分含量为:纳米二氧化硅胶体1.5~40wt%、氨基醇类物质0.5~5wt%、水溶性维生素0.02~4.5wt%、速率促进剂1~15wt%、酸性pH调节剂0.25~4wt%、表面活性剂0.01~3wt%、抑菌剂0.05~3wt%、余量为去离子水;进一步优选地,各组分含量为:纳米二氧化硅胶体5~30wt%、氨基醇类物质1~4.0wt%、水溶性维生素0.15~3wt%、速率促进剂3~10wt%、酸性pH调节剂0.5~3.5wt%、表面活性剂0.1~1.5wt%、抑菌剂0.1~1.5wt%、余量为去离子水。3.根据权利要求1或2所述的硅抛光组合物,其特征在于,所述纳米二氧化硅胶体的平均粒径为30
‑
80nm,浓度为30
‑
50wt%。4.根据权利要求1或2所述的硅抛光组合物,其特征在于,所述氨基醇类物质选自单乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、3
‑
氨基
‑1‑
丙醇、1
‑
氨基
‑2‑
丙醇、2
‑
氨基
‑2‑
甲基
‑1‑
丙醇、2
‑
二甲氨基
‑2‑
甲基
‑1‑
丙醇、2
‑
氨基
‑
1,3
‑
丙二醇、2
‑
氨基
‑2‑
甲基
‑
1,3
‑
丙二醇、2
‑
氨基
‑2‑
(羟甲基)
‑
1,3丙二醇、2
‑
氨基
‑2‑
乙基
‑
1,3
‑
丙二醇、2
‑
氨基
‑1‑
丁醇、(R)
‑3‑
氨基丁醇、(S)
‑3‑
氨基丁醇、4
‑
氨基
‑1‑
丁醇、2
‑
氨基
‑1‑
戊醇、3
‑
氨基
‑1‑
戊醇、4
‑
氨基
‑1‑
戊醇、5
‑
氨基
‑1‑
技术研发人员:王永东,卞鹏程,王庆伟,徐贺,李国庆,崔晓坤,王瑞芹,卫旻嵩,
申请(专利权)人:万华化学集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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