超声成像降噪方法及超声成像设备技术

本发明专利技术揭示了一种超声成像降噪方法及超声成像设备，降噪方法包括：判断所述超声成像设备符合预设前置条件时，输出实验波束触发信号，控制至少两个处于不同横向位置的超声单元分别发出实验波束执行空扫描；提取表征同一横向位置，且与所述实验波束对应的至少两组标定波束，分析所述标定波束分别在预设深度的探测数据，对应得到至少两组采样数据；根据预设离散关系式和所述采样数据计算得到标准噪声数据；利用所述标准噪声数据对超声成像过程执行降噪。本发明专利技术提供的超声成像降噪方法具有降噪速度快，自适应程度高的技术效果，同时算法过程更为简洁，充分利用了形成后波束的特点，应用于并行接收波束形成的超声成像中，降噪效果更为显著。更为显著。更为显著。

【技术实现步骤摘要】
超声成像降噪方法及超声成像设备


[0001]本专利技术涉及超声成像
，尤其涉及一种超声成像降噪方法及超声成像设备。

技术介绍

[0002]超声成像中往往需要人为地调节成像焦点、成像深度、增益、动态范围等参数来提升图像质量，相比于其他成像模态，超声成像中的噪声是造成图像质量差的主要问题。现有超声成像设备中，往往配置旋钮等结构，操作者需要根据画面中出现的问题，手动调节超声成像的相关参数，进而减少噪声对图像的影响，但此种调节方式过分依赖于操作者经验，面对不同的操作环境也难以实现自适应，同时还具有调节过程漫长的缺陷，用户体验较差。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的之一在于提供一种超声成像降噪方法，以解决现有技术中超声成像图像质量差，降噪过程漫长且无法实现自适应的技术问题。
[0004]本专利技术的目的之一在于提供一种超声成像设备。
[0005]为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种超声成像降噪方法，应用于超声成像设备中，包括：判断所述超声成像设备符合预设前置条件时，输出实验波束触发信号，控制至少两个处于不同横向位置的超声单元分别发出实验波束执行空扫描；提取表征同一横向位置，且与所述实验波束对应的至少两组标定波束，分析所述标定波束分别在预设深度的探测数据，对应得到至少两组采样数据；根据预设离散关系式和所述采样数据计算得到标准噪声数据；利用所述标准噪声数据对超声成像过程执行降噪。
[0006]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：输出前置检测信号，控制所述超声单元执行近场扫描，并对应获取近场图像信息；对所述近场图像信息执行峰值检测，若所述近场图像信息包含至少两组超过预设阈值的峰值，且所述至少两组峰值的出现呈现周期性规律，则输出所述实验波束触发信号。
[0007]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：输出前置检测信号，控制所述超声单元执行近场扫描，并对应获取近场波束信息；对所述近场波束信息执行峰值检测，若所述近场波束信息包含至少两组超过预设阈值的幅值，且所述至少两组幅值的出现呈现周期性规律，则输出所述实验波束触发信号。
[0008]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法还包括：查找所述标定波束分别对应的预设变迹系数；以所述变迹系数为权重，分别对所述采样数据执行幅度补偿，得到补偿数据；其中，所述变迹系数用于表征所述标定波束与所述实验波束的相对位置差；根据预设的离散关系式和所述补偿数据计算得到标准噪声数据。
[0009]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：分别计算所述补偿数据的绝对值，得到至少两个绝对噪声数据；筛选得到所述绝对噪声数据中的最大值，并以所述最大值作为所述标准噪声数据。
[0010]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：分别计算所述补偿数据的绝对值，得到至少两个绝对噪声数据；计算所述绝对噪声数据的标准差，并以所述标准差作为所述标准噪声数据。
[0011]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：设定具有预设长度的变迹参照函数；根据所述变迹参照函数，以及超声单元间的相对位置差，计算得到若干变迹系数；其中所述变迹参照函数为矩形窗、汉明窗函数和海宁窗函数中的一种或多种。
[0012]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：输出探测波束触发信号，控制若干超声单元发出探测波束；接收分别对应所述探测波束的若干回波信号，将所述回波信号执行波束形成，分别对应得到若干接收波束；在若干所述接收波束中，分别减去所述标准噪声数据，对应得到若干降噪波束；分别对若干所述降噪波束执行比例放大，并利用放大后的降噪波束进行超声成像。
[0013]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：输出探测波束触发信号，控制若干超声单元发出探测波束；接收分别对应所述探测波束的若干回波信号，将所述回波信号执行波束形成，分别对应得到若干接收波束；分别对所述接收波束和所述标准噪声数据执行对数压缩，并将压缩后的接收波束和标准噪声数据执行减法运算，对应得到若干降噪波束；分别对若干所述降噪波束执行比例放大，并利用放大后的降噪波束进行超声成像。
[0014]为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种超声成像设备，包括控制模块以及若干超声单元，所述超声单元配置为阵列排布；所述超声成像设备配置为搭载上述任一种技术方案所述的超声成像降噪方法进行降噪。
[0015]与现有技术相比，本专利技术提供的超声成像降噪方法，通过执行空扫描输出实验波束后，提取表征同一位置的至少两组标定波束，并对标定波束进行特殊的数据提取和处理，并以得到的标准噪声数据作为全局噪声阈值对超声成像过程执行降噪处理，具有降噪速度快，自适应程度高的技术效果；同时相比于单纯利用空扫描检测的画面中噪声数据执行降噪的现有技术而言，算法过程更为简洁，且充分利用了形成后波束的特点，应用于并行接收波束形成的超声成像中，降噪效果更为显著。
附图说明
[0016]图1是本专利技术一实施方式中超声成像设备的结构原理图；
[0017]图2是本专利技术一实施方式中超声成像降噪方法的步骤原理图；
[0018]图3是本专利技术一实施方式中超声成像降噪方法的第一实施例的步骤原理图；
[0019]图4是本专利技术一实施方式中超声成像降噪方法的第二实施例的步骤原理图；
[0020]图5是本专利技术另一实施方式中超声成像降噪方法的步骤原理图；
[0021]图6是本专利技术另一实施方式中超声成像降噪方法的第一实施例的步骤原理图；
[0022]图7是本专利技术另一实施方式中超声成像降噪方法的第二实施例的步骤原理图；
[0023]图8是本专利技术一实施方式中超声成像降噪方法进行变迹参数预设的步骤原理图；
[0024]图9是本专利技术再一实施方式中超声成像降噪方法的第一实施例的步骤原理图；
[0025]图10是本专利技术再一实施方式中超声成像降噪方法的第二实施例的步骤原理图。
具体实施方式
[0026]以下将结合附图所示的具体实施方式对本专利技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本专利技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本专利技术的保护范围内。
[0027]需要说明的是，术语“包括”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0028]利用超声进行成像的方案中，若想得到一张素质较高的探测图像，往往需要综合考虑成像焦点、成像深度、增益、动态范围等一系列参数，同时超声成像由于探测环境的限制，往往会伴随较大的噪声问题，除了固有的散斑噪声以外，热噪声、电磁噪声和量化噪声等同样会在采样和模数转换的过程中被纳入计算之中，从而影响图像质量。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声成像降噪方法，应用于超声成像设备中，其特征在于，包括：判断所述超声成像设备符合预设前置条件时，输出实验波束触发信号，控制至少两个处于不同横向位置的超声单元分别发出实验波束执行空扫描；提取表征同一横向位置，且与所述实验波束对应的至少两组标定波束，分析所述标定波束分别在预设深度的探测数据，对应得到至少两组采样数据；根据预设离散关系式和所述采样数据计算得到标准噪声数据；利用所述标准噪声数据对超声成像过程执行降噪。2.根据权利要求1所述的超声成像降噪方法，其特征在于，所述方法具体包括：输出前置检测信号，控制所述超声单元执行近场扫描，并对应获取近场图像信息；对所述近场图像信息执行峰值检测，若所述近场图像信息包含至少两组超过预设阈值的峰值，且所述至少两组峰值的出现呈现周期性规律，则输出所述实验波束触发信号。3.根据权利要求1所述的超声成像降噪方法，其特征在于，所述方法具体包括：输出前置检测信号，控制所述超声单元执行近场扫描，并对应获取近场波束信息；对所述近场波束信息执行峰值检测，若所述近场波束信息包含至少两组超过预设阈值的幅值，且所述至少两组幅值的出现呈现周期性规律，则输出所述实验波束触发信号。4.根据权利要求1所述的超声成像降噪方法，其特征在于，所述方法还包括：查找所述标定波束分别对应的预设变迹系数；以所述变迹系数为权重，分别对所述采样数据执行幅度补偿，得到补偿数据；其中，所述变迹系数用于表征所述标定波束与所述实验波束的相对位置差；根据预设的离散关系式和所述补偿数据计算得到标准噪声数据。5.根据权利要求4所述的超声成像降噪方法，其特征在于，所述方法具体包括：分别计算所述补偿数据的绝对值，得到至少两个绝对噪声数据；筛选得到所述绝对噪声数据中的最大值...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭威，吴方刚，刘峻杉，
申请(专利权)人：飞依诺科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：