【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用基波和谐波信号的定量超声
技术介绍
[0001]常规的超声成像系统通过检测体积内的声阻抗不连续性来创建该体积的内部图像（即，B模式图像）。更具体地，常规的超声成像涉及将超声波束发射到体积中，并且检测从该体积内的声阻抗不连续性反射的返回信号。由于不同的材料通常表现出不同的声阻抗，因此检测到的声阻抗不连续性表示不同材料在体积内的位置。
[0002]上面描述的B模式图像描绘了组织中的定性特征，但是不直接提供关于组织的定量信息。另一方面，定量超声系统可以确定感兴趣区域（ROI）的衰减系数（AC）和反向散射系数（BSC）。AC是组织中超声能量损失的量度，并且BSC是从组织返回的超声能量的量度。诸如这些的定量超声值有助于表征组织的属性，诸如硬度和脂肪分数（fat fraction）。附加的定量超声量度将进一步辅助这些表征。
[0003]AC和BSC的确定需要针对获取超声系统的系统效应进行补偿。这些效应包括发射脉冲功率、换能器灵敏度、波束聚焦图样（pattern）、以及深度相关的接收器增益。常规地，补偿包括将基波频带中的组织样本的回波信号功率谱...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种超声系统，包括：存储器，其存储基波频带的参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的回波信号功率谱；以及处理单元，用于：控制所述超声系统来获取基波频带的组织区域的回波信号功率谱和谐波频带的组织区域的回波信号功率谱；基于基波频带的组织区域的回波信号功率谱和基波频带的参考体模的回波信号功率谱来确定第一反向散射系数；基于谐波频带的组织区域的回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的回波信号功率谱来确定第二反向散射系数；以及基于第一反向散射系数和第二反向散射系数来确定组织区域的非线性度。2.根据权利要求1所述的超声系统，其中，使用基本相似的扫描设置来获取基波频带的参考体模的回波信号功率谱和基波频带的组织区域的回波信号功率谱。3.根据权利要求2所述的超声系统，其中，使用基本相似的扫描设置来获取谐波频带的参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的组织区域的回波信号功率谱。4.根据权利要求1所述的系统，所述存储器存储基波频带的第二参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的第二参考体模的回波信号功率谱，以及所述处理单元进一步基于组织区域与参考体模之间的相关性来确定使用基波频带的参考体模的回波信号功率谱以用于确定第一反向散射系数、以及使用谐波频带的参考体模的回波信号功率谱以用于确定第二反向散射系数。5.根据权利要求4所述的系统，已经使用第一扫描设置获取了基波频带的参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的回波信号功率谱，所述存储器存储基波频带的参考体模的第二回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的第二回波信号功率谱，第二回波信号功率谱是使用第二扫描设置来获取的，使用第三扫描设置来获取基波频带的组织区域的回波信号功率谱和谐波频带的组织区域的回波信号功率谱，以及其中所述处理单元用于基于第一扫描设置与第三扫描设置之间的相关性来确定使用基波频带的参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的回波信号功率谱，以用于确定第一反向散射系数和确定第二反向散射系数。6.根据权利要求1所述的系统，所述处理单元进一步用于：基于谐波频带的组织区域的回波信号功率谱、谐波频带的参考体模的回波信号功率谱、以及参考体模的衰减系数来确定组织区域的衰减系数。7.根据权利要求6所述的系统，进一步包括：显示器，用于同时显示第二反向散射系数、组织区域的衰减系数、非线性度、以及组织区域的B模式图像。8.一种方法，包括：在超声系统中存储基波频带的参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的回波信号功率谱；控制所述超声系统来获取基波频带的组织区域的回波信号功率谱和谐波频带的组织
区域的回波信号功率谱；基于基波频带的组织区域的回波信号功率谱和基波频带的参考体模的回波信号功率谱来确定第一反向散射系数；基于谐波频带的组织区域的回波信号功率谱和谐波频带的参考体模的回波信号功率谱来确定第二反向散射系数；以及基于第一反向散射系数和第二反向散射系数来确定组织区域的非线性度。9.根据权利要求8所述的方法，其中，使用基本相似的扫描设置来获取基波频带的参考体模的回波信号功率谱和基波频带的组织区域的回波信号功率谱。10.根据权利要求9所述的方法，其中，使用基本相似的扫描设置来获取谐波频带的参考体模的回波信号功率谱和谐波频带的组织区域的回...
【专利技术属性】
技术研发人员：Y，
申请(专利权)人：美国西门子医疗系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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