一种绝缘介质厚度测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种绝缘介质厚度测量系统，包括绝缘介质固定单元、第一厚度测量单元、第二厚度测量单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元、云计算中心和报警单元，绝缘介质固定单元用于固定住绝缘介质；第一厚度测量单元用于对绝缘介质进行第一次厚度测量；绝缘介质推动单元用于将绝缘介质从第一厚度测量单元移至第二厚度测量单元处；第二厚度测量单元用于对绝缘介质进行第二次厚度测量；位置移动单元用于改变第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量位置。本发明专利技术不仅能够很大程度上消除测量误差，使测量更加精准，而且当出现测量不合格情况时，能够自动进行报警提醒工作人员，无需工作人员紧盯数据并比对，更加省时省力，且避免出现遗漏的情况。避免出现遗漏的情况。避免出现遗漏的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种绝缘介质厚度测量系统


[0001]本专利技术属于电力
，具体涉及一种绝缘介质厚度测量系统。

技术介绍

[0002]绝缘介质也称为电介质，是用来隔离极板的绝缘材料。绝缘介质在变压器、电缆等其他设备的绝缘结构中是对具有不同电位的导体起着绝缘及机械固定作用；在电容器中，绝缘介质还有一个更重要的作用，就是为了储存能量，因此要求电容器所使用的介质其单位体积或质量所储存的能量要大。
[0003]绝缘介质在生产完成后，需要对其厚度进行测量，以判定其厚度是否达到标准，但是现有的绝缘介质厚度测量系统在测量时仅对绝缘介质的一个位置进行厚度测量，且厚度仅测量一次，导致厚度的测量精准度较差，存在较大误差；且现有的绝缘介质厚度测量系统测量出次品时，需要人工发现数据异常，容易出现遗漏的情况。

技术实现思路

[0004]专利技术目的：为了克服现有技术中存在的不足，提供一种绝缘介质厚度测量系统，不但能够提高测量精度，而且具备次品自动报警功能，避免出现遗漏的情况。
[0005]技术方案：为实现上述目的，本专利技术提供一种绝缘介质厚度测量系统，包括绝缘介质固定单元、第一厚度测量单元、第二厚度测量单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元、云计算中心和报警单元；
[0006]所述绝缘介质固定单元用于固定住绝缘介质；
[0007]所述第一厚度测量单元用于对绝缘介质进行第一次厚度测量；
[0008]所述绝缘介质推动单元用于将绝缘介质从第一厚度测量单元移至第二厚度测量单元处；
[0009]所述第二厚度测量单元用于对绝缘介质进行第二次厚度测量；
[0010]所述位置移动单元用于改变第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量位置，实现第一厚度测量单元和第二厚度测量单元对于绝缘介质厚度的多位置测量；
[0011]所述云计算中心用于根据第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量数据，计算判断绝缘介质的厚度是否处于合格范围；
[0012]所述报警单元用于对云计算中心中厚度不合格的绝缘介质进行报警。
[0013]进一步地，所述系统还包括控制中心、工作台和安装支架；
[0014]所述控制中心用于控制绝缘介质固定单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元和报警单元；
[0015]所述工作台用于支撑绝缘介质；
[0016]所述绝缘介质固定单元、绝缘介质推动单元和报警单元均安装于工作台顶部；
[0017]所述第一厚度测量单元、第二厚度测量单元和位置移动单元均安装于安装支架上。
[0018]进一步地，所述控制中心包括显示模块、存储模块和无线传输模块，所述显示模块用于显示每个绝缘介质测量出的厚度数据，所述存储模块用于存储绝缘介质的厚度标准值、绝缘介质的各位置厚度差值范围与每次绝缘介质测量出的厚度，所述无线传输模块用于信号传输实现控制。
[0019]进一步地，所述位置移动单元包括第一移动模块和第二移动模块，所述第一移动模块用于移动第一厚度测量单元，所述第二移动模块用于移动第二厚度测量单元。
[0020]本专利技术中第一移动模块和第二移动模块分别移动第一厚度测量单元和第二厚度测量单元时均依次以三个平行间隔的直线水平移动，且在每个直线上停留三次，则第一厚度测量单元和第二厚度测量单元分别测量九次，从而得到一个绝缘介质厚度的九个不同数据，对绝缘介质不同位置的厚度进行测量并取平均值，一定程度上消除测量误差，使测量更加精准。
[0021]进一步地，所述云计算中心包括计算模块和数据对比模块，所述计算模块用于计算第一厚度测量单元测量的数据平均值和最大差值、第二厚度测量单元测量的数据平均值和最大差值与第一厚度测量单元和第二厚度测量单元测量的数据最终平均值和最大差值的平均值，所述数据对比模块用于将计算模块计算出的最终平均值和最大差值的平均值与存储模块内的绝缘介质的厚度标准值和厚度差值范围进行比对。
[0022]进一步地，所述报警单元包括警示灯和蜂鸣器，具备灯光和蜂鸣同时警示效果，确保工作人员能够获取警示。
[0023]进一步地，所述工作台上设置有绝缘介质限位单元，所述绝缘介质限位单元用于在绝缘介质从第一厚度测量单元下方推至第二厚度测量单元下方时对绝缘介质进行限位。
[0024]进一步地，所述第一厚度测量单元为红外线测距仪，所述第二厚度测量单元为超声波测距仪。
[0025]进一步地，所述控制中心为控制箱，所述云计算中心为计算机，所述安装支架安装于工作台的正上方，所述绝缘介质限位单元为限位板，限位板安装于工作台的顶部。
[0026]有益效果：本专利技术与现有技术相比，具备如下优点：
[0027]1、本专利技术测量系统通过设置有位置移动单元，通过第一移动模块移动第一厚度测量单元，第二移动模块移动第二厚度测量单元，使第一厚度测量单元和第二厚度测量单元分别在不同位置测量九次，从而得到一个绝缘介质厚度的九个不同数据，对绝缘介质不同位置的厚度进行测量并取平均值，一定程度上消除了测量误差，使测量更加精准。
[0028]2、本专利技术测量系统，通过设置有第一厚度测量单元和第二厚度测量单元，首先通过第一厚度测量单元的红外测距仪测量绝缘介质的厚度，再通过第二厚度测量单元的超声波测距仪再次测量绝缘介质同一位置的厚度，取两次测量的平均值与标准值比对，从而更进一步的消除测量误差，使测量更加精准。
[0029]3、本专利技术测量系统，通过设置有云计算中心和存储模块，通过计算模块先分别计算第一厚度测量单元和第二厚度测量单元测量出的九个厚度数据之间的平均值和最大差值，再将第一厚度测量单元和第二厚度测量单元得到的最终平均值和最大差值之间计算得平均值，再利用数据对比模块将最终得到的厚度平均值和最大差值与存储模块内的绝缘介质的厚度标准值和厚度差值范围进行比对，当厚度较大、较小或差值较大时，则报警单元进行报警提醒工作人员，无需工作人员紧盯数据并比对，更加省时省力，且避免出现遗漏的情
况。
附图说明
[0030]图1为本专利技术提出的一种绝缘介质厚度测量系统的系统图；
[0031]图2为本专利技术提出的一种绝缘介质厚度测量系统的控制中心控制的单元系统图；
[0032]图3为本专利技术提出的一种绝缘介质厚度测量系统的控制中心包括的模块系统图；
[0033]图4为本专利技术提出的一种绝缘介质厚度测量系统的云计算中心包括的模块系统图。
具体实施方式
[0034]下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本专利技术，应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围，在阅读了本专利技术之后，本领域技术人员对本专利技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
[0035]如图1和图2所示，本专利技术提供一种绝缘介质厚度测量系统，包括控制中心、工作台、安装支架、绝缘介质固定单元、第一厚度测量单元、第二厚度测量单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元、云计算中心和报警单元，控制中心为控制箱，云计算中心为计算机，安装支架安装于工作台的正上方，绝缘介质限位单元为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种绝缘介质厚度测量系统，其特征在于，包括绝缘介质固定单元、第一厚度测量单元、第二厚度测量单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元、云计算中心和报警单元；所述绝缘介质固定单元用于固定住绝缘介质；所述第一厚度测量单元用于对绝缘介质进行第一次厚度测量；所述绝缘介质推动单元用于将绝缘介质从第一厚度测量单元移至第二厚度测量单元处；所述第二厚度测量单元用于对绝缘介质进行第二次厚度测量；所述位置移动单元用于改变第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量位置，实现第一厚度测量单元和第二厚度测量单元对于绝缘介质厚度的多位置测量；所述云计算中心用于根据第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量数据，计算判断绝缘介质的厚度是否处于合格范围；所述报警单元用于对云计算中心中厚度不合格的绝缘介质进行报警。2.根据权利要求1所述的一种绝缘介质厚度测量系统，其特征在于，所述系统还包括控制中心、工作台和安装支架；所述控制中心用于控制绝缘介质固定单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元和报警单元；所述工作台用于支撑绝缘介质；所述绝缘介质固定单元、绝缘介质推动单元和报警单元均安装于工作台顶部；所述第一厚度测量单元、第二厚度测量单元和位置移动单元均安装于安装支架上。3.根据权利要求2所述的一种绝缘介质厚度测量系统，其特征在于，所述控制中心包括显示模块、存储模块和无线传输模块，所述显示模块用于显示每个绝缘介质测量出的厚度数据，所述存储模块用于存储绝缘介质的厚度标准值、绝...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙玥，魏欣，
申请(专利权)人：南京信息职业技术学院，
类型：发明
国别省市：