一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法技术

本发明专利技术涉及电力芯片领域，具体为一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法，第一步检查主板静态设置，随后对32位电力芯片进行通电检查是否上电成功，若上电成功紧接着需要检查CPU倍频系数，倍频系数正常时，检查内存倍频系数与总线倍频系数，随后CPU执行取指模式；第二步检查取指时序是否正确，随后观察CPU本体，检查是否能进行取指操作；有益效果：任何芯片都有最高的设计频率和最低频率，频率过高或者过低都会导致CPU取指、运行异常，检查此情况，便于对芯片进行调试，内存倍频系数如果频率超过设计频率，就会出现内初始化失败或者系统跑飞的问题，总线倍频系数如果设置不对可能出现总线初始化失败的问题。线初始化失败的问题。线初始化失败的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法


[0001]本专利技术涉及电力芯片
，具体为一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法。

技术介绍

[0002]电力芯片技术跟随摩尔定律规律发展,芯片的性能每隔1.5～2年提升一倍。在技术指标方面,芯片制造技术已经达到7 nm量产阶段。但是国内的电力芯片技术长期为国外垄断，因而有必要开发具有自主知识产权的电力芯片内核及相应的调试控制方法，防止芯片在使用的过程中出现损坏的情况，增加成本。
[0003]有鉴于此，本专利技术拟提出一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法，第一步检查主板静态设置，随后对32位电力芯片进行通电检查是否上电成功，若上电成功紧接着需要检查CPU倍频系数，倍频系数正常时，检查内存倍频系数与总线倍频系数，随后CPU执行取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对32位电力芯片内核进行调试控制的方法，其特征在于：第一步检查主板静态设置，随后对32位电力芯片进行通电检查是否上电成功，若上电成功紧接着需要检查CPU倍频系数，倍频系数正常时，检查内存倍频系数与总线倍频系数，随后CPU执行取指模式；第二步检查取指时序是否正确，随后观察CPU本体，检查是否能进行取指操作；在第一步与第二步的过程中，由工业相机进行拍照，工业相机的输出端与主板的输入端信号相连，对检查主板过程进行实时拍照检测，随后实时监测工业相机是否通电。2.根据权利要求1所述的对32位电力芯片内核进行调试控制的方法，其特征在于：检查是否上电成功时，检查以下情况：当AC停电了，电源故障导致无法输出DC；DC处于power off状态；PSU固件。3.根据权利要求1所述的对32位电力芯片内核进行调试控制的方法，其特征在于：检查CPU倍...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄开天，匡晓云，杨祎巍，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：