基于mmap系统的内存读写速率测试方法、装置及系统制造方法及图纸

技术编号:30769799 阅读:30 留言:0更新日期:2021-11-10 12:37
本发明专利技术提供一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法、装置及系统,属于嵌入式设备测试技术领域。所述方法包括:S1)在第一采集时刻获取待测设备的设备文件;S2)在mmap系统将所述设备文件的内存物理地址映射至用户空间的虚拟地址;S3)在所述用户空间的虚拟地址开始所述待测设备的内存读写直至第二采集时刻,获取第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量;S4)根据第一采集时刻与第二采集时刻之间的间隔时间长度和第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量,计算所述待测设备的内存读写速率。本发明专利技术方案直接在用户空间访问待测设备的物理内存,中间不存在调用步骤,减少了测试过程中的开销,同时规避了cache的处理问题。的处理问题。的处理问题。

【技术实现步骤摘要】
基于mmap系统的内存读写速率测试方法、装置及系统


[0001]本专利技术涉及嵌入式设备测试
,具体地涉及一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法、一种基于mmap系统的内存读写速率测试装置及一种基于mmap系统的内存读写速率测试系统。

技术介绍

[0002]完成嵌入式设备开发后,需要进行大量的性能测试,其中,内存的性能指标测试至关重要。在现有的内存性能测试中,大多通过编写测试demo对内存性能进行测试。自行编写的demo大多使用calloc等c库函数或直接读文件到内存来对内存性能进行测试。这会伴随有一定的系统调用过程,其中产生的开销会对测试结果造成影响,而且CPU读取数据时也会优先读取cache,这也会使的测试结果不可靠。为了避免这种情况,大多采用在每次测试前清除cache,这会增多测试工序,使得测试时间加长。所以现在的测试方法无法同时保证测试准确性和较快的测试时间,导致无法适应嵌入式设备开发量增大的测试现状。针对现有内存性能测试方法存在的测试度不足和效率低的问题,需要创造一种新的内存性能测试方法。
专利技术内容
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法,其特征在于,所述方法包括:S1)在第一采集时刻获取待测设备的设备文件;S2)在mmap系统将所述设备文件的内存物理地址映射至用户空间的虚拟地址;S3)在所述用户空间的虚拟地址开始所述待测设备的内存读写直至第二采集时刻,获取第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量;S4)根据第一采集时刻与第二采集时刻之间的间隔时间长度和第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量,计算所述待测设备的内存读写速率。2.根据权利要求1所述的基于mmap系统的内存读写速率测试方法,其特征在于,所述待测设备的设备文件包括:/dev/mem文件。3.根据权利要求2所述的基于mmap系统的内存读写速率测试方法,其特征在于,步骤S1)中,所述在第一采集时刻获取待测设备的设备文件,包括:在待测设备的Linux系统中进行/dev/mem文件的设备文件识别;提取识别的设备文件。4.根据权利要求1所述的基于mmap系统的内存读写速率测试方法,其特征在于,步骤S4)中,所述待测设备的内存读写速率计算公式为:其中,v为所述待测设备的内存读写速率;m为第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量;t为第一采集时刻与第二采集时刻之间的间隔时间长度。5.根据权利要求1所述的基于mmap系统的内存读写速率测试方法,其特征在于,所述方法还包括:执行步骤S1)

S3)N次,获得N个内存读写数据量;其中,N次执行过程中,第一采集时刻与第二采集时刻之间的N个间隔时间长度均不同;根据N个内存读写数据量和对应的N个间隔时间长度,计算获得对应的N个内存读写速...

【专利技术属性】
技术研发人员:游进康林榕吴开钢
申请(专利权)人:广东九联科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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