光学拾波装置制造方法及图纸

一种光学拾波器，通过物镜将来自激光源的光线照射在光盘上，用受光元件检测来自该光盘的光线，包括：固定激光源、半透射半反射的光学元件和受光元件的机架；机架上形成的用于固定激光源的压入孔；压入孔中形成阶梯部或凹部，光源在压入孔中的深度可调。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学拾波装置，尤其涉及光源的位置调整机构。在用于从光盘等取出信号的光学拾波器中为了使焦点检出特性的零交叉点与受光照射的光盘对焦面一致，有必要调整光源与受光元件的相互关系。其调整方法例举如下。1.在受光一侧，沿光轴方向移动透镜，进行调节。2.沿X、Y、Z方向移动受光元件，进行调节。3.将光源固定在托架上，通过前后移动进行调整(参照实开平3-40620号公报)。上述以往的光学拾波器都是部件数量多，用于调整的机构复杂，因而成本高，并阻碍其小型化。另外，由于调整机构复杂，故而在调整使焦点检出特性的零交叉点与受光照射的光盘对焦面一致后，常常会在调整中出现偏差。若在受光一侧移动透镜，或移动受光元件，则存在调整机构等易出现齿隙，调整所需时间延长，精度恶化的难题。本专利技术为解决上述问题而作，目的在于提供一种光学拾波器，其结构简单，并且能以高精度将零交叉点与光盘对焦面调整一致。附图说明图1是本专利技术光学拾波器的实施例的侧剖视图。图2是上述实施例的俯视图。图3是上述实施例的正剖视图。图4是上述实施例中机架的俯视图。图5是上述机架的正剖视图。图6(a)是本专利技术光学拾波器另一实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾波装置，利用物镜将光源的光线照射在光盘上，用受光元件检测来自该光盘的光线，其特征在于，在固定光学元件的机架上形成压入孔，在该压入孔中压入且固定上述光源，其压入深度可调整。

【技术特征摘要】
JP 1993-4-22 26440/93-U;JP 1993-5-20 31664/93-U;JP1.一种光学拾波装置，利用物镜将光源的光线照射在光盘上，用受光元件检测来自该光盘的光线，其特征在于，在固定光学元件的机架上形成压入孔，在该压入孔中压入且固定上述光源，其压入深度可调整。2.如权利要求1所示的光学拾波装置，其特征在于，上述压入孔中形成凹部。3.如权利要求1所示的光学拾波装置，其特征在于，上述压入孔中设置低弹性率材料。4.一种光学拾波装置，通过物镜将来自激光源的光线照射在光盘上，用受光元件检测来自该光盘的光线，其特征在于，还包括固定上述激光源、光学元件和上述受光元件的机架，该光学元件反射上述激光源的光线或者使其通过，上述受光元件接收上述激光源在光盘上反射出的反射光，形成于该机架上，用于固定上述激光源的压入孔10a，以及在该压入孔中形成的阶梯部10b，上述...

【专利技术属性】
技术研发人员：春日郁夫，和出逹贵，宫前章，
申请(专利权)人：株式会社三协精机制作机，
类型：发明
国别省市：JP[日本]