当前位置: 首页 > 专利查询>清华大学专利>正文

一种加速器X射线能量检测装置制造方法及图纸

技术编号:30725352 阅读:33 留言:0更新日期:2021-11-10 11:25
本实用新型专利技术属于加速器X射线能量测量技术领域,尤其涉及一种加速器X射线能量检测装置。检测装置为一个多电离室腔体阵列,多电离室腔体阵列中包括一个参考电离室腔体和多个剂量增强电离室腔体。本实用新型专利技术的检测装置,可以实现高流强X射线能量的测量,而且测量装置结构简单,易于加工,操作简便,对信噪比要求低,鲁棒性强,可以实现实时、较高精确度的X射线能量测量。量测量。量测量。

【技术实现步骤摘要】
一种加速器X射线能量检测装置


[0001]本技术属于加速器X射线能量测量
,尤其涉及一种加速器X射线能量检测装置。

技术介绍

[0002]加速器X射线由高能电子打靶产生,具有束流强度大,稳定性较强的特点,在CT成像、材料辐照改性、放射治疗等领域受到广泛应用。X射线的能谱对于成像效果、作用物反应及辐射防护剂量的计算起到决定作用,准确、高效的对加速器X射线能量进行测量时保证其有效、安全工作的基本前提。
[0003]加速器X射线束流强度大的特点使得利用传统谱仪通过逐个测量单光子能量并计数的方法难以实现——传统谱仪分辨时间有限,强束流情形下,一个分辨时间内会有大量光子入射灵敏体积,使得该分辨时间内的灵敏体积的剂量不能反映单光子的能量。目前常用的 X射线测量方法包括:1.衰减透射法,该方法的代表是专利104142354A公开的加速器X射线能量测量系统,其通过测量光子穿透不同衰减片后在探测体积内造成的剂量,对照标准衰减曲线解谱;具有对波形信噪比要求高,解谱难度大,能量分辨能力有限等局限性。2. 康普顿散射法,其通过测量光子入射低z材料靶发生康本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种加速器X射线能量检测装置,其特征在于检测装置为一个多电离室腔体阵列,多电离室腔体阵列中包括一个参考电离室腔体和多个剂量增强电离室腔体。2.如权利要求1所述的加速器X射线能量检测装置,其特征在于其中所述的参考电离室腔体包括第一屏蔽外壳、第一高压极、第一收集极和参考窗,第一高压极和第一收集极置于第一屏蔽外壳内,参考窗置于第一屏蔽外壳上,屏蔽外壳充满工作气体;所述的第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:查皓施嘉儒李岸陈怀璧
申请(专利权)人:清华大学
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1