光信号检测电路制造技术

一种光信号检测电路，其特征在于具有：２个光检测装置，用于以光学方式检测记录在记录媒体上的记录信号；及电流／电压变换装置，用于将从２个光检测装置中的上述一个光检测装置的一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的上述另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后变换成电压。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及将记录在盘式或带式等光记录媒体上的信号以光学方式再生的光信号检测电路，尤其是将在磁光记录的磁性光盘、或利用相位凹坑或反射率变化记录的光盘上记录的信号再生时最为适用的光信号检测电路。
技术介绍
首先，说明磁性光盘的光学系统。在磁性光盘中，通过将磁化膜根据记录信号向上或向下垂直磁化，对记录信号进行记录。磁性光盘的再生则通过将经线性偏振后的激光照射在光盘上进行。照射在该磁性光盘上的经线性偏振后的激光的反射光，根据所谓的克尔效应，其偏振面将随着磁化方向的上下而转动。磁性光盘用的光学系统，例如利用偏振光束分光镜等检偏振器将该反射光的偏振面的变化转换为光强度的变化。光检测器将该光强度变化作为光电流而进行检测。对于光检测器，例如可采用PIN型光电二极管或雪崩光电二极管等光电二极管。使该光电流通过电流/电压变换器，即可获得再生信号。如具体地进行说明，则从磁性光盘反射的光因其偏振面的转动量非常小，所以试图消除共模噪声以改善S/N比。例如利用半波偏振片使该磁性光盘的反射光的偏振面转动后，通过检偏振器将偏振面的变化变换为经过相位相反的光强调制的两条光束。用光检测器分别检测这些光束的光强度变化，从其差动分量获得磁光再生信号。参照图1说明用来进行这种磁光信号再生的现有电路结构的具体例。将经过光强调制的两条光束在反相状态下入射到在该图1中示出的光电二极管80、81，由于与入射光量成比例地产生电子·空穴对而流过电流，并分别从各阳极侧(或从各阴极侧)取出两个相位相反的调制后电流信号。当从该光电二极管80、81导出检测输出电流时，为提高响应速度或线性范围，在端子上分别施加反向偏压，减小极间电容。光电二极管80、81的输出电流分别通过电容器82、83除去DC分量后由电流/电压变换器84、85变换为电压信号。电流/电压变换器84、85分别将相位相反的电压信号输出到差动放大器86的反相端子(-)和同相端子(+)。差动放大器86在除去所供给信号的共模噪声成分后将差动分量取出，从而获得再生信号。其次，作为相关的技术，说明采用差动检测方式的光信号检测技术。首先在图2示出现有的单路检测方式，这是一种将由入射到光电二极管80的光产生的电子·空穴对从光电二极管80的一端、即阳极或阴极中的任何一端取出的方法。因此，该方法只不过是取出一路的电子·空穴对。与此不同，在差动检测方式中，例如，如图3所示，是从光电二极管80的阳极侧和阴极侧取出与入射光对应的相位相反的输出电流。相位相反的输出电流分别通过电容器87、88供给电流/电压变换器89、90。因此，电流/电压变换器89、90将得到相位相反的电压信号。该相位相反的电压信号被分别供给到差动放大器91。差动放大器91通过取出差动分量而获得再生信号。这时的信号量达到现有的单一检测方式信号量的2倍。在这种情况下，虽然采用了比单一检测方式多一倍的2个电流/电压变换器89、90，但因电流/电压变换器中发生的噪声是随机噪声，所以在图3电路的最终输出信号中由电流/电压变换器产生的噪声变为 倍。其结果是能将电流/电压变换器的噪声电平相对于信号电平减小到 图4示出采用这种差动检测方式的磁光信号检测电路的一例。该图4的电路用2个图3所示的差动检测方式的电路构成，对这2个差动检测电路的各部分，在与图3对应的参照符号上分别附加下标a、b，其说明从略。在该图4中，通过将来自差动放大器91a、9 1b的输出信号供给差动放大器92，能将电流/电压变换器的噪声电平相对于信号电平减小到 可是，在这种现有的磁光信号检测电路中，因来自磁性光盘的反射光很微弱，所以图4的电流/电压变换器89a、 89b、90a、90b所产生的噪声将加在再生信号上。假如按这样的方式从磁性光盘获得再生信号，则在数字信号再生装置中，将因噪声施加在再生信号上而使误差率趋于恶化。目前，正以光盘的高密度化为目标大力开展着使照射光盘的光源短波长化的研究。但用于检测从光盘的反射光的光电二极管存在这样一种倾向，即光电二极管的光接收灵敏度随着该短波长化而降低，因而电流/电压变换器的噪声影响就成为急待解决的问题。另外，如采用图4的电路，虽然能将电流/电压变换器的噪声电子相对于信号电平减小到 ，但与图3示出的电路结构相比，电流/电压变换器和差动放大器都增加了2个，使电路规模变大。电路规模的大型化将导致电路的耗电量及成本的增加。其次，如上述图3示出的从各光接收元件80、81取出检测信号差动分量的电路，是从来自磁性光盘的反射光取出磁光信号，但与此不同，还有从利用相位凹坑或反射率变化记录的光盘取出光信号的技术。这里，所谓利用相位凹坑的记录，是指在光盘上按照信号形成了凹凸的相位凹坑以进行记录的方式。再生专用型光盘或追记型光盘等采用着这种记录方式。而在利用反射率变化的记录中，是使受激光照射的记录层的物理状态例如从非晶质改变为晶质等，进行信息的记录。再生装置根据反映出与信息记录的有无相对应的光盘状态变化的激光反射光量的不同，进行信息的读取。这种记录方式为追记型或重写型光盘等所采用。在利用相位凹坑或反射率变化记录方式的光盘的再生中，从方式的特征可清楚看出，是将经过光强调制的光信号在同相状态下入射到2个光电二极管。因此，如图5所示，设有一个加法器87，通过将来自电流/电压变换器84，85的输出信号相加进行同相光信号的再生。即，从光电二极管80、81的各阳极侧(或各阴极侧)得到两边都是同相的电流输出，由电流/电压变换器34、35将其变换成电压信号后传送给加法器37。这时，在差动放大器86的输出端子上不出现信号。在现有的磁光记录再生装置中，为了将例如在磁性光盘上预先用相位凹坑记录的地址信息等再生，或为了实现以相位凹坑记录着的再生专用型光盘的兼容再生，也采用了许多不仅设有差动放大器86还设有加法器95的结构。可是，如果既要实现磁光信号检测又要实现利用相位凹坑或反射率变化记录的信号的检测，那么就必须要有如上述图5示出的差动放大器86及加法器95，因而存在电路结构复杂化的问题。另外，为使光盘高密度化，即使是在利用上述电流相加方式谋求降低电流/电压变换器的噪声的情况下，也希望能用简单的电路结构不仅实现磁光信号的再生而且能实现利用相位凹坑或反射率变化记录的信号的再生。本专利技术是鉴于上述实际情况而开发的，其目的是提供一种在压缩减小电路规模的同时、即使是使光盘高密度化也能防止噪声影响、并能不受光盘类型限制而进行信号再生的光信号检测电路专利技术的公开与本专利技术有关的光信号检测电路，利用2个光检测装置检测记录在记录媒体上的记录信号，对从2个光检测装置中的上述一个光检测装置的一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的上述另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后，由电流/电压变换装置变换成电压信号。另外，与本专利技术有关的光信号检测电路，利用2个光检测装置检测记录在记录媒体上的记录信号，将从2个光检测装置中的一个光检测装置的一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后，由第1电流/电压变换装置变换成电压信号，将从上述一个光检测装置的另一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的上述另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后，由本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光信号检测电路，其特征在于具有2个光检测装置，用于以光学方式检测记录在记录媒体上的记录信号；及电流/电压变换装置，用于将从2个光检测装置中的上述一个光检测装置的一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的上述另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后变换成电压。2.一种光信号检测电路，用于变换并取出对记录在记录媒体上的磁光记录进行强度调制后的光信号，其特征在于具有2个光检测装置，用于检测上述光信号；第1电流/电压变换装置，用于将从2个光检测装置中的一个光检测装置的一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后变换成电压；第2电流/电压变换装置，用于将从2个光检测装置中的上述一个光检测装置的另一个端子侧输出的信号和从相对于该输出信号输出同相分量的上述另一个光检测装置的端子侧输出的信号按电流相加后变换成电压；及差动放大装置，用于对上述第1及第2电流/电压变换装置的输出信号进行差动放大。3.根据权利要求2所述的光信号检测电路，其特征在于采用第1及第2光电二极管作为上述光检测装置，上述第1电流/电压变换装置将上述第1光电二极管阳极侧的输出电流和上述第2光电二极管阴极侧的输出电流按电流相加后所得电流变换为电压，上述第2电流/电压变换装置将上述第1光电二极管阴极侧的输出电流和上述第2光电二极管阳极侧的输出电流按电流相加后所得电流变换为电压。4.一种光信号检测电路，其特征在于具有2个光检测装置，用于以光学方式检测记录在记录媒体上的记录信号；电流/电压变换装置，用于将从上述2个光检测装置供给的输出信号按电流相加后变换成电压；及开关装置，对...

【专利技术属性】
技术研发人员：木村基，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：