光记录和重放装置制造方法及图纸

在一种光记录和重放装置中有两个诸如彼此不同波长的激光器二极管的光源，光检测器接收由光源发射的和由光记录介质反射的光。在记录和重放开始以前，识别具有不同的反射率波长依赖性的光记录介质的类型。由于使用两个波长，而且输出的差别是大的，根据光检测器的输出确定识别光记录介质的类型。通过最佳化激光功率，控制器的增益和介质的转数等等，根据光记录介质的类型，该装置能稳定地工作。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学重放装置，一种记录和重放装置，一种包括光学重放装置或光学记录和重放装置的处理信息的装置。近来有多种光学记录介质可供使用。有一种高密度光盘(Compact disk)仅用作重放。一种可记录的高密度盘(CD-R)是可以记录数据的光学记录介质之一。CD-R是高密度盘的标准之一，而且是CD兼容的介质。在记录了信息以后，可以由普通的高密度盘播放机重放。另外，CVD-ROMCVD-RAM等等也可以用作光学记录介质，利用相位变换的盘(PTR)也可使用。除了上述的光盘以外，也可以使用磁-光盘。然而，CD-R具有比普通的高密度盘更大的反射率波长依赖性。于是，如果安装在光头上的液光器发射更短波长的光束，反射就会减小，CD-R在与普通的高密度盘(CD)相同的状态下不能重放。例如，在波长为780nm时的反射率，CD的是90％，CD-R的是70％，同时在波长为650nm的更短的情况下，CD的反射率是90％，CD-R的是10％。由于CD-R具有650nm(波长)的光的强吸收性能，如果CD-R在和CD相同的状态下重放，记录的数据可能受到破坏。由于反射率低，即使在CD-R上记录的数据不被破坏，数据也不能重放，因为反射率很低。本专利技术的目的在于提供一种光学记录和重放装置，该装置能识别具有不同反射率的光记录介质的种类和记录数据。本专利技术的另一个目的在于提供一种光学记录和重放装置，该装置能根据光学记录介质的种类稳定地记录和重放数据。在根据本专利技术的光记录和重放装置中，在使用光记录介质的反射率的波长依赖性记录和重放以前要识别光记录介质的类型。然后，使用不同波长的两种光源(例如其中一个的波长等于或大于720nm，另一个的波长小于720nm)。在例子中，光源包括发射不同光的发光二极管。有两个光检测器用以接收由光源发射的和由光记录介质反射的光束。当两个光源相继发射光束时，识别器接收在不同的时间的光检测器的信号输出。两个打印头可以合成一个打印头，它包括两个激光二极管和两个光检测器。在一个改进的专利技术中有两个印刷头，在光学头中安装的激光二极管用作光源，以及在光学头中安装的光检测器用作光传感器。例如，第一个激光二极管的波长是660±60nm，第二个激光二极管的波长是780±60nm。于是，提供记录和重放数据的光学头也可以用作识别光记录介质的类型。在一个改进的专利技术中，用单个光检测器替代两个光检测器。在这种情形下，当两个光源相继发射光束时，识别器在不同的时刻检测该光传感器的信号输出。当第一和第二光传感器的每一个至少包括两个光敏区时，识别器使用聚焦误差信号或聚焦和信号作为被检测的第一和第二光传感器的输出信号间的差。最好是识别器包括一个存储较短波长的光检测器的输出的存储器件，并在接收较长的波长(光束)以前接收较短的波长的输出。另外，控制器根据由识别器确定的光记录介质的类型，最佳化记录或重放的条件。另外，当由于变化而记录或重放不可能进行时，控制器停止该装置的记录或重放或者退出光记录介质。本专利技术的优点在于使用简单装置进行记录或重放以前，通过使用在两个波长下反射的波长依赖性能识别光学信息介质的类型。通过后面结合优选实施例以及说明书附图所作的描述使本专利技术的这些和那些目的以及特征显而易见。附图说明图1是光记录和重放装置的方框图；图2是根据本专利技术第一实施例的光记录和重放装置的方框图；图3是CD-R例子的反射率和吸收率的曲线图；图4是根据本专利技术第二实施例的光记录和重放装置的方框图；图5是该装置的处理器的处理过程的流程图；图6是根据本专利技术第三实施例的光记录和重放装置的方框图；图7是根据本专利技术第四实施例的光记录和重放装置的方框图；图8是根据本专利技术的第五实施例的光记录和重放装置的方框图；图9是根据本专利技术的第六实施例的光记录和重放装置的方框图；图10是光学头和光记录介质间的距离对聚焦误差信号(FE)的S形波形的曲线；图11是光学头和光记录介质间的距离对聚焦和信号(FS)的波形曲线；图12是根据本专利技术第七实施例的光记录和重放装置的方框图13是根据本专利技术第八实施例的光记录和重放装置的方框图；图14是当识别出有3个或更多类型的光记录介质时，多个比较器的联接的示图。在一些附图中相同的标识符号表示相同的或相应的部件，现在参照附图，图1是根据本专利技术的第一实施例的光记录和重放装置的主要部件的示图。从图1图示的结构可以知道，它对于下面解释的实施例来说是通用的。光记录介质1例如是仅仅用来重放的高密度盘CD，数据能记录在上面的可记录的高密度盘(CD-R)。在记录和重放启动以前，要确定光记录介质的类型。在下面解释的实施例中，要确定高密度盘(CD)和可记录的高密度盘(CD-R)的类型。在光记录或重放装置中光信息介质1例如包容在一个托盘上以及由马达10旋转。光学头11向光记录介质1发射激光束和检测由介质，反射的激光束。由光学头11检测的信号由信号处理器12接收，处理器12传送重放的RF信号。另一方面，重放的信号还传送给聚焦跟踪伺服机构13，该机构13能移动光学头。跟踪和聚焦驱动装置14根据从聚焦跟踪伺服机构13接收的信号执行光学头11的跟踪和聚焦。包含中心处理单元的控制器15控制马达10，信号处理器12和聚焦和跟踪伺服和驱动机构13，14。图2示出了图1所示的确定光学记录介质类型的光学记录和重放装置的一部分。为了便于解释，在图1中所示的部分在图2中未示出。两个光源2和3发射彼此不同的不同波长的光，它们安放在距光记录介质1的预定的距离处。光源2和3从发射红、黄、绿和红外的光发射二极管中选择。例如，光源2是发射红外光的光发射二极管，同时光源3是红的光发射二极管。由第一光源2发射的光的波长比第二光源3的波长要短。光检测器4和5接收由光源2和3发射的和由介质1发射的光。例如元件2至5安装在包容光学记录介质1的托盘上。最好是光源2和3与光检测器4和5的定位使得光检测器4和5能输出最大的信号。由运算放大器构成的差分放大器6检测光检测器4和5的输出间的差，以及比较器8将差分放大器6的输出和由可变电压源7供给的电压相比较。比较器8的输出传送给控制器15(图1)。在记录和重放数据前，根据比较器8的输出识别出具有反射率的不同波长依赖性的光记录介质1的类型。光学系统和光源2和3的输出功率是这样地根据介质1的类型设定的，以致光记录介质1的记录面不被破坏。应当注意到由于提供两个不同波长的光源2和3识别光信息介质，可以在较宽的电压范围内设定可变电压7，和具有一个光源的装置相反，检测的容限比较大。上述确定介质类型的结构可以用低的成本简单地制造。如果图2所示的装置和由两个光源及一个光检测器执行识别的下面描述的实施例比较，该电路的结构就更简单。这是由于当光源在不同的时间发射时，不需要开关或类似的元件以及不使用保持光传感器输出的保持电路。另外，由于在相同的时间两个光源同时发射和光检测器的输出直接比较，识别速度是高的。另外，如果光源和光检测器放置在包容光记录介质的托盘中，当光记录介质放入托盘中时，可以迅速判定光记录介质的类型。因此，如果图2所示的装置和下面描述的使用光学头的实施例比较，识别速度高是由于它不需要等待直到记录和重放变为可能的一种状态(或托盘的加载，盘的夹具和在普通的光盘驱动机构中的光盘马达开始旋转)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录和重放装置包括： 发射第一波长光的第一光源； 发射比第一波长要长的第二波长的光的第二光源，第一和第二光源安放在距光记录介质预定的距离上； 接收由第一光源发射的和由光记录介质反射的光的第一光检测器； 接收由第二光源发射的和由光记录介质反射的光的第二光检测器；和 检测第一和第二光检测器的输出信号间的差的识别器，在这里根据该差确定所说的光记录介质的类型。

【技术特征摘要】
JP 1996-2-14 26407/961.一种光记录和重放装置包括发射第一波长光的第一光源；发射比第一波长要长的第二波长的光的第二光源，第一和第二光源安放在距光记录介质预定的距离上；接收由第一光源发射的和由光记录介质反射的光的第一光检测器；接收由第二光源发射的和由光记录介质反射的光的第二光检测器；和检测第一和第二光检测器的输出信号间的差的识别器，在这里根据该差确定所说的光记录介质的类型。2.根据权利要求1的光记录和重放装置，其特征是这里所说的第一波长等于或大于720nm，和第二波长小于720nm。3.根据权利要求1的光记录和重放装置，其特征是所说的第一光源包含发射红外光的发光二极管，以及所说的第二光源包含发射红光的发光二极管。4.根据权利要求1的光记录和重放装置，其特征是还包括一个控制器，该控制器用以根据由所说的识别器确定的光记录介质的类型最佳化记录和重放状态。5.根据权利要求4的光记录和重放装置，其特征是即使控制器最佳化记录和重放状态，当记录和重放变得不可能时，控制器停止记录和重放。6.一种光记录和重放装置包括发射第一波长的光的第一光源，发射短于第一波长的第二波长的光的第二光源，第一和第二光源安置在距光记录介质预定的距离的位置，接收第一和第二光源的任意一个发射的和由光记录介质反射的光的光检测器；和检测所说的光检测器的输出信号间的差的识别器，在这里是根据该差来确定所说的光记录介质的类型，在这里，所说的第一和第二光源在不同的时间发射光，以及识别器与光发射同步检测所说的光检测器的输出信号间的差。7.根据权利要求6的光记录和重放装置，其特征是第一波长等于或大于720nm，以及第二波长小于72nm。8.根据权利要求6的光记录和重放装置，其特征是所说的第一光源包含发射红外光的发光二极管和所说的第二光源包含发射红光的发光二极管。9.一种光记录和重放装置，其特征是包括第一光学头，包括发射第一波长的光的第一激光二极管，第一物镜和用以接收由第一激光二极管发射，通过第一物镜传播的，由光记录介质反射的和再次通过第一物镜传播的光的第一光检测器；第二光学头，包括发射比第一波长要长的第二波长的光的激光二极管，第二物镜，和接收由第二激光器二极管发射的，通过第二物镜传播的，由光记录介质发射的和再次通过第二物镜传播的光的第二光检测器；检测第一和第二光检测器的输出信号之间差的识别器，其中是根据该差来确定所说的光记录介质的类型。10.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是第一和第二光检测器的每一个至少是由两个光敏区构成的，而且所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号间的第一差，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号间的第二差和得到用作检测的所说第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一差和第二差间的差。11.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是第一和第二光检测器的每一个至少是由两个光敏区所构成的，而且所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号的第一和，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号的第二和以及得到用作检测的所说的第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一和第二和间的差。12.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是第一激光器二极管的第一波长是660±60nm，和第二激光器二极管的第二波长是780±60nm。13.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是还包括一个根据由所说的识别器确定的光记录介质的类型最佳化记录或重放状态的控制器。14.根据权利要求13的光记录和重放装置，其特征在于即使所说的控制器最佳化记录和重放状态，当记录或重放变得不可能进行时停止记录或重放。15.一种光记录和重放装置包括光学头是由发射第一波长的光的第一激光二极管...

【专利技术属性】
技术研发人员：香山博司，今中良一，细美哲雄，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]