减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质，属于计算机技术领域。所述方法包括：在目标块进行擦除判定后，达到所述目标块的擦除判定周期时，获取所述目标块的总擦除次数和在上一次擦除处理后的读次数；基于所述目标块的总擦除次数和所述在上一次擦除处理后的读次数，确定更新的擦除判定周期；将所述目标块的擦除判定周期，调整为所述更新的擦除判定周期。采用本申请可对SSD中各个块进行擦除判定的擦除判定周期进行动态调整，能够将存在Read Disturb的存储单元的个数控制在一定范围内，从而降低块中出现数据错误的可能性。能性。能性。

【技术实现步骤摘要】
减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及计算机
，特别涉及一种减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]SSD(Solid State Disk，固态硬盘)作为一种新的存储介质，被广泛的应用在各个领域。SSD内部一般是由多个NAND(一种闪存设备)构成，在NAND又分为多个Block(块)，一个Block中又分为多个Page(页)。当需要读Block中的一个Page时，其他未被读的Page也会被施加电压。施加的电压可能导致未被读的Page中的存储单元吸入电荷。随着Block的读次数增加，存储单元中吸入的电荷量也会慢慢增加，导致存储单元中数据状态发生变化，在读数据时往往可能出现错误，这种错误统称为Read Disturb(读干扰)。
[0003]目前解决Read Disturb的方法是，记录Block的读次数，设置读次数阈值，在SSD使用的过程中，按照预设的检测周期获取Block的读次数，当获取的Block的读次数达到读次数阈值时，则对Block进行擦除处理，即将Block中存储的数据移到其他的Block中，然后清空Block中存储单元的电荷，从而解决Read Disturb的问题。另外，还可以通过获取SSD的参数，例如，SSD的温度，SSD中所有Block的平均读取次数对检测周期进行调整。
[0004]在实现本申请的过程中，专利技术人发现现有技术至少存在以下问题：
[0005]由于SSD中包括多个Block，在SSD的使用过程中，每个Block的使用情况差异较大，所以按照统一的检测周期获取SSD中所有的Block的读次数，可能导致有些Block的读次数已经远超设置的读次数阈值时，才对Block进行擦除处理，此时可能已经有大量的存储单元出现了Read Disturb的问题。

技术实现思路

[0006]本申请实施例提供了一种减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质，能够将存在Read Disturb的存储单元的个数控制在一定范围内，从而降低块中出现数据错误的可能性。所述技术方案如下：
[0007]一方面，提供了一种减少读干扰影响的方法，所述方法包括：
[0008]在目标块进行擦除判定后，达到所述目标块的擦除判定周期时，获取所述目标块的总擦除次数和在上一次擦除处理后的读次数；
[0009]基于所述目标块的总擦除次数和所述在上一次擦除处理后的读次数，确定更新的擦除判定周期；
[0010]将所述目标块的擦除判定周期，调整为所述更新的擦除判定周期。
[0011]可选的，所述达到所述目标块的擦除判定周期时，所述方法还包括：
[0012]获取所述目标块的位置信息和上一次擦除处理后的错误比特翻转数；
[0013]所述基于所述目标块的总擦除次数和所述在上一次擦除处理后的读次数，确定更新的擦除判定周期，包括：
[0014]基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数和位置信息，确定更新的擦除判定周期。
[0015]可选的，所述基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数和位置信息，确定更新的擦除判定周期，包括：
[0016]基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和经过训练的周期计算模型，确定更新的擦除判定周期。
[0017]可选的，所述基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和经过训练的周期计算模型，确定更新的擦除判定周期之前，所述方法还包括：
[0018]获取多组训练数据，每组训练数据包括样本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期；
[0019]基于所述多组训练数据，对初始的周期计算模型进行训练，得到经过训练的周期计算模型。
[0020]可选的，所述获取多组训练数据，每组训练数据包括样本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期，包括：
[0021]确定多个样本块；
[0022]获取每个样本块在达到对应的擦除判定周期时的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息；
[0023]对于每个样本块，在所述样本块达到对应的擦除判定周期时，获取所述样本块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息，在获取所述样本块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息之后，达到为所述样本块分配的待定擦除判定周期时，获取所述样本块的使用状态信息；
[0024]将对应的使用状态信息满足预设的样本获取条件的样本块，确定为有效样本块；
[0025]将每个有效样本块对应的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和待定擦除判定周期，分别确定为每组训练数据包括样本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期，组成训练数据。
[0026]可选的，所述使用状态信息为在上一次擦除处理后错误比特翻转数，所述样本获取条件为所述错误比特翻转数在预设的错误比特翻转数范围内。
[0027]另一方面，提供了一种减少读干扰影响的装置，所述装置包括：
[0028]第一获取模块，被配置为在目标块进行擦除判定后，达到所述目标块的擦除判定周期时，获取所述目标块的总擦除次数和在上一次擦除处理后的读次数；
[0029]确定模块，被配置为基于所述目标块的总擦除次数和所述在上一次擦除处理后的读次数，确定更新的擦除判定周期；
[0030]调整模块，被配置为将所述目标块的擦除判定周期，调整为所述更新的擦除判定周期。
[0031]可选的，所述装置还包括第二获取装置，被配置为：
[0032]获取所述目标块的位置信息和上一次擦除处理后的错误比特翻转数；
[0033]所述确定模块，被配置为：基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数和位置信息，确定更新的擦除判定周期。
[0034]可选的，所述确定模块，被配置为：
[0035]基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和经过训练的周期计算模型，确定更新的擦除判定周期。
[0036]可选的，所述装置还包括训练模块，被配置为：
[0037]获取多组训练数据，每组训练数据包括样本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期；
[0038]基于所述多组训练数据，对初始的周期计算模型进行训练，得到经过训练的周期计算模型。
[0039]可选的，所述训练模块，被配置为：...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种减少读干扰影响的方法，其特征在于，所述方法包括：在目标块进行擦除判定后，达到所述目标块的擦除判定周期时，获取所述目标块的总擦除次数和在上一次擦除处理后的读次数；基于所述目标块的总擦除次数和所述在上一次擦除处理后的读次数，确定更新的擦除判定周期；将所述目标块的擦除判定周期，调整为所述更新的擦除判定周期。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述达到所述目标块的擦除判定周期时，所述方法还包括：获取所述目标块的位置信息和上一次擦除处理后的错误比特翻转数；所述基于所述目标块的总擦除次数和所述在上一次擦除处理后的读次数，确定更新的擦除判定周期，包括：基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数和位置信息，确定更新的擦除判定周期。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数和位置信息，确定更新的擦除判定周期，包括：基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和经过训练的周期计算模型，确定更新的擦除判定周期。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和经过训练的周期计算模型，确定更新的擦除判定周期之前，所述方法还包括：获取多组训练数据，每组训练数据包括样本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期；基于所述多组训练数据，对初始的周期计算模型进行训练，得到经过训练的周期计算模型。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取多组训练数据，每组训练数据包括样本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期，包括：确定多个样本块；获取每个样本块在达到对应的擦除判定周期时的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息；对于每个样本块，在所述样本块达到对应的擦除判定周期时，获取所述样本块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息，在获取所述样本块的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息之后，达到为所述样本块分配的待定擦除判定周期时，获取所述样本块的使用状态信息；将对应的使用状态信息满足预设的样本获取条件的样本块，确定为有效样本块；将每个有效样本块对应的总擦除次数、在上一次擦除处理后的读次数、上一次擦除处理后的错误比特翻转数、位置信息和待定擦除判定周期，分别确定为每组训练数据包括样
本总擦除次数、样本读次数、样本错误比特翻转数、样本位置信息和基准擦除判定周期，组成训练数据。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述使用状态信息为在上一次擦除处理后错误比特翻转数...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘璨，霍文捷，万婷，刘攀，孙承华，
申请(专利权)人：杭州海康存储科技有限公司，
类型：发明
国别省市：