光学记录媒质制造技术

技术编号:3070673 阅读:154 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
描述了一光学记录媒质,其上记录有控制信息,用于将在该媒质上记录信息的刻写功率设置在最佳量级的方法中。该控制信息包括读取信号关于刻写信号的调制的导数的预设值。最佳刻写功率是从媒质上的测试图案中测得的调制值和记录在媒质上的预设值导出的。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一可用光束刻录的光学记录媒质,该媒质包含指明将信息记录在信息载体上的记录过程的控制信息,该控制信息包括记录过程的记录参数的值。这样一种记录媒质由EP-A-O 397 238(PHN12.925)可知。这种信息载体是一可光学刻录和读取类型的碟片,如与CD类媒质兼容并具有称作预压槽的预先记录轨道部分的一次擦写CD(CD-WO)。预压槽是为了用来记录与记录过程一致的;可光学读取的图案,该图案代表了信息。预压槽还被用包含寻址代码和控制信息的辅助信号来调制。控制信息包含有利于优化记录过程的数据,如记录所需的刻写功率量级。一种用来在这样一种媒质上记录信息的光学记录装置能读取来自媒质的控制信息并根据记录在媒质上的值调节其记录参数,以便在媒质上形成记号形式的可靠的记录信息。记录参数理解为直接控制记录过程的参数。如果该装置是通过调制光束的功率量级来记录信息,这些参数可能包括一种或多种记录速度、记录过程中所用光束的功率量级(如刻写功率量级,偏置功率量级)、在媒质上刻写标记所用的一系列脉冲的第一、中间和最后脉冲的脉宽、以及这些脉冲的占空比。可以记录对应特定记录速度的每个参数的几个值。如果记录过程包括通过直接覆盖或以其它的途径擦除以前记录的信息,这些参数可能还包括与擦除过程如擦除功率有关的参数。读取参数被理解为在读取媒质上的信息时所获得的信号中导出并可用于优化一个或多个记录参数值的参数。一般说来,一种调节特定记录参数的方法将涉及在媒质上记录一系列测试图案,每个图案具有不同的记录参数值,测量每个图案的读取参数,并从该信息中决定记录参数的最佳值。读取参数的例子为读取信号的最大值、读取信号的调制、媒质的反射、读取信号的抖动、以及从读取信号中恢复的信息的误码率。欧洲专利申请0 737 962公开了一种光学记录装置,该装置无需用来自光学媒质的控制信息来设定在媒质上记录信息的刻写功率量级。该装置在媒质上用逐渐增加的刻写功率记录一系列测试图案。接下来,它从对应于图案的读取信号部分得出每个图案的调制。它计算作为刻写功率函数的调制的导数并通过与调制过程中的刻写功率相乘归一化。归一化的导数与预定值的交叉点决定了适合在该媒质上记录的刻写功率。因此,该方法利用刻写功率作为记录参数并利用读取信号调制作为读取参数。这个设置最佳刻写功率的过程通过测量写在媒质上的测试图案的调制将媒质的不同特性考虑在内。此外,因为在此过程中所采用的归一化导数,该方法与所使用的特定的记录装置无关。该导数对装置的参数,如用来将光束聚焦在媒质上的物镜的数值孔径、光束的光强分布和光束形成的光斑大小不敏感。已知的方法是为记录装置和媒质的每种组合提供适当的刻写功率量级设置。然而,试验证实已知的方法并没有为装置和媒质的全部组合提供适当的刻写功率量级。本专利技术的一个目的是提供一光学记录媒质,该媒质可用于为在媒质上记录信息而用的最佳刻写功率的光束提供适当值。根据本专利技术,此目的是利用开篇所描述的光学记录媒质实现的,其特征在于控制信息包括读取参数关于记录参数的导数值。在上述试验中,刻写功率量级不合适是由于预设的量级不期望地依赖于要记录的媒质的性质。然而,所有媒质的性质都被认为以来自测试图案的读取信号为特征,为与装置的性质无关而采用的导数经证实依赖于媒质的性质。已经发现,只有在使预设的导数值与媒质有关且记录在其上时,装置和媒质之间关于利用上述的导数方法设置最佳记录参数量级的兼容性才能达到。预设值被优选地由媒质的制造商来记录。在媒质上进行充分的测试后,媒质的用户也可以记录预设值。记录的预设值优选地为归一化导数的预设值。通过将导数乘以记录参数与读取参数的比值使其归一化。然而使用导数会使该方法对记录装置中存在的偏移不敏感,归一化使该方法对不同装置的不同比例因子也不敏感。这些比例因子可能受装置中的光学系统能够从媒质上的一系列记录标记产生读取信号的效率和读取信号的实际放大的影响。可以以数种方式决定函数的导数和归一化导数。有可能用已知的数值方法,如通过取读取参数值之间的差和记录参数值之间的差并计算它们的比值或利用所谓的拉格朗日公式或n点方法来确定导数。因为数值方法常常放大测量值中的噪声,优选地通过曲线拟合读取参数值和记录参数值获得的函数解析地确定该导数。当得到该函数解析形式时,就再也不用计算导数,但记录参数的最佳值可直接从函数和预设值确定。在该媒质的特定的实施方案中,记录参数为光束的刻写功率量级的值。刻写功率量级的精确设置对导致的刻写标记的质量非常重要。可以通过参考媒质上记录的导数的预设值将其它记录参数设置为最佳值,如擦除功率、偏移功率、在媒质上刻写标记所用的一系列脉冲的第一、中间和最后脉冲的脉宽、以及这些脉冲的占空比。如果,例如利用不同占空比的刻写脉冲形成一系列的测试图案,该方法使得有可能设置最佳的占空比。在媒质的特定实施方案中,读取参数为从媒质上记录的信息中导出的读取信号的幅值调制。可以容易地从读取信号中导出调制,该调制是优化记录参数的合适的参数。其它合适的读取参数为记录和非记录部分的反射,以及从一系列特定的测试图案或一系列包括随机信息的测试图案中所恢复的信息中的错误数量,这里可以将错误规定为位错误或字节错误。在对附图所示的本专利技术的优选实施方案进行下面更具体的描述之后,本专利技术的目的、特性和优点将显而易见。附图说明图1是根据本专利技术的光学记录装置的示意图,图2显示两个测试图案中的两个读取信号部分,图3是表示测得的、作为刻写功率函数的调制及其导数的曲线图,图4显示根据本专利技术的记录媒质,图5是该媒质的平面图,以及图6是媒质中标记的图案的平面图。图1显示根据本专利技术的一装置和一光学记录媒质1。媒质1具有一透明的基底和分布于其上的一个记录层3。记录层包括一种适合用光束刻写信息的材料。该记录材料可为,如磁光型、相变型、染料型或其它任何合适的材料。利用光学可探测区域(又称标记)的形式可以将信息记录在记录层3上。该装置包括一光源4,如一半导体激光器,用于发出一光束5。利用分光镜6、物镜7和基底2将光束会聚在记录层3上。该媒质也可以为空气入射,光束无需透过基底便直接入射在记录层3上。从媒质1反射回来的光被物镜7会聚,在透过分光镜6后,落在探测系统8上,探测系统将该入射光转换成电子探测器的信号。探测器信号被输入到电路9。该电路从探测器信号中得出几个信号,如代表从媒质1读取的信息的读取信号SR。光源4、分光镜6、物镜7、探测系统8和电路9共同构成读取单元10’。来自电路9的读取信号在第一处理器10中进行处理以便从读取信号中得出代表读取参数和控制激光功率量级的必要的的信号。所得出的信号被馈送给到第二处理器11,该处理器处理一系列的读取参数值并据此得出刻写功率控制信号的值。刻写功率控制信号与控制单元12相连。代表即将写到媒质1上的信息的信号13也被馈送给控制单元12。控制单元12的输出与光源4相连。可以用单个光脉冲在记录层3上写一个标记,其功率由处理器11确定的最佳刻写功率量级决定。也可以用一系列等长或不等长且具有一个或多个由刻写功率信号决定的功率量级的光脉冲刻写。处理器被理解为意味着任何适合进行计算的装置,如微处理器、数字信号处理器、硬布线的模拟电路或场可编程电路。光源4所发出的实际辐射功率可用未示出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用一光束刻录的光学记录媒质,该记录媒质包含指示将信息记录在该记录媒质上的记录过程的控制信息,该控制信息包括记录过程的记录参数的值,其特征在于控制信息包括读取参数关于记录参数的导数。

【技术特征摘要】
EP 1996-12-24 96203717.2;EP 1996-12-6 96203397.31.一种用一光束刻录的光学记录媒质,该记录媒质包含指示将信息记录在该记录媒质上的记录过程的控制信息,该控制信息包括记录过程的记录参数的值,其特征在于控制信息包括读取参数关于记录参数的导数。2.根据权利要求1的光学记录媒质,其中通过将导数的值与记录参数和读取参数的比值相乘而使其被归一化。3.根据权利要求1的光学记录媒质,其中记录参数为光束的刻写功率量级的值。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:JHM斯普瑞特WM米纳
申请(专利权)人:皇家菲利浦电子有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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