电量数据存储装置、方法、控制器及多联机系统制造方法及图纸

技术编号:30684099 阅读:13 留言:0更新日期:2021-11-06 09:15
本申请涉及一种电量数据存储装置、方法、控制器及多联机系统,电量数据存储装置包括光耦检测电路,光耦检测电路的输入端与供电电源连接,光耦检测电路的输出端用于输出电平信号,电平信号根据供电电源的输出电压变化而发生变化,控制模块,与光耦检测电路连接,用于获取光耦检测电路的输出电平信号,根据输出电平信号判断是否发生掉电事件,存储模块,与控制模块连接,用于在发生掉电事件时对电量数据进行存储。本申请在不必频繁擦写存储芯片的前提下,通过硬件电路检测是否发生掉电事件以实现及时存储电量数据,延长存储芯片寿命,提高存储电量数据的准确性。储电量数据的准确性。储电量数据的准确性。

【技术实现步骤摘要】
电量数据存储装置、方法、控制器及多联机系统


[0001]本申请属于电量存储
,具体涉及一种电量数据存储装置、方法、控制器及多联机系统。

技术介绍

[0002]目前很多电器例如空调具备电量计量功能,电量计量功能根据所需要计算的电量参数,往往需要存储大量的电量数据,这些电量数据需要定时写进具备存储功能的芯片中。但是受存储芯片擦写次数限制,不可能无限制地进行擦写,并且频繁擦写操作影响存储芯片寿命;另外,在机组异常掉电时,由于未及时将掉电前电量数据写入存储芯片,导致电量数据不准确。

技术实现思路

[0003]为至少在一定程度上克服电量数据存储过程中,频繁擦写操作影响存储芯片寿命,在机组异常掉电时,由于未及时将掉电前电量数据写入存储芯片,导致电量数据不准确的问题,本申请提供一种电量数据存储装置、方法、控制器及多联机系统。
[0004]第一方面,本申请提供一种电量数据存储装置,包括:
[0005]光耦检测电路,所述光耦检测电路的输入端与供电电源连接,所述光耦检测电路的输出端用于输出电平信号,所述电平信号根据供电电源的输出电压变化而发生变化;
[0006]控制模块,与所述光耦检测电路连接,用于获取所述光耦检测电路的输出电平信号,根据所述输出电平信号判断是否发生掉电事件;
[0007]存储模块,与所述控制模块连接,用于在发生掉电事件时对电量数据进行存储。
[0008]进一步的,所述光耦检测电路,包括:
[0009]第一光耦芯片和第二光耦芯片;
[0010]第一二极管,所述第一光耦芯片的输入正极与所述第一二极管的输出端连接,所述第一二极管的输入端与供电电源火线连接,所述第一光耦芯片的输入负极与供电电源零线连接,所述第一光耦芯片的输出端连接第一输出端,在所述第一光耦芯片导通时,第一输出端输出低电平,否则第一输出端输出高电平;
[0011]第二二极管,所述第二光耦芯片的输入正极与所述第二二极管的输出端连接,所述第二二极管的输入端与供电电源零线连接,所述第二光耦芯片的输入负极与供电电源火线连接,所述第二光耦芯片的输出端连接第二输出端,在所述第二光耦芯片导通时,第二输出端输出低电平,否则第二输出端输出高电平。
[0012]进一步的,还包括:
[0013]第一限流电阻,所述第一限流电阻设置在所述第一光耦芯片与所述第一二极管之间;
[0014]第二限流电阻,所述第二限流电阻设置在所述第二光耦芯片与所述第二二极管之间。
[0015]进一步的,还包括:
[0016]第一上拉电阻,所述第一上拉电阻与所述第一光耦芯片的输出端连接;
[0017]第二上拉电阻,所述第二上拉电阻与所述第二光耦芯片的输出端连接。
[0018]进一步的,还包括:
[0019]交流滤波模块,所述光耦检测电路设置在供电电源与所述交流滤波模块之间。
[0020]进一步的,还包括:
[0021]整流滤波模块,所述整流滤波模块设置在所述交流滤波模块与负载之间。
[0022]进一步的,所述整流滤波模块包括:
[0023]整流桥和滤波电容,所述滤波电容并联在所述整流桥的输出端。
[0024]进一步的,还包括:
[0025]负温度系数热敏电阻,所述负温度系数热敏电阻设置所述交流滤波模块与整流滤波模块之间,用于抑制浪涌电流。
[0026]第二方面,本申请提供一种电量数据存储方法,包括:
[0027]检测与供电电源输连接的光耦检测电路输出端的电平信号;
[0028]根据所述光耦检测电路输出端的电平信号判断是否发生掉电事件;
[0029]在发生掉电事件时对电量数据进行存储。
[0030]进一步的,还包括:
[0031]设置检测周期,根据检测周期检测与供电电源输连接的光耦检测电路输出端的电平信号;
[0032]所述检测周期t=(T1+T2)/10,检测周期t单位为秒,其中T1为光耦检测电路中第一光耦芯片输出高电平时长;T2为光耦检测电路中第一光耦芯片输出低电平时长。
[0033]进一步的,所述根据所述光耦检测电路输出端的电平信号判断是否发生掉电事件,包括:
[0034]若第一光耦芯片输出端输出电平与第二光耦芯片输出端输出电平相反,且第一预设时长内第一光耦芯片输出端输出电平发生一次翻转,则判定供电正常;
[0035]若连续第二预设时长检测到第一光耦芯片输出端输出电平与第二光耦芯片输出端输出电平均为高电平,则认为发生掉电事件;
[0036]若连续第三预设时长检测到第一光耦芯片输出端输出电平与第二光耦芯片输出端输出电平均为低电平或第一光耦芯片输出端输出电平与第二光耦芯片输出端输出电平一直无翻转,则判定光耦检测电路异常。
[0037]进一步的,还包括:
[0038]在光耦检测电路异常时发送提示信息,所述提示信息包括推送通知、显示页面电量预警异常。
[0039]第三方面,本申请提供一种控制器,包括:
[0040]如第一方面所述的电量数据存储装置。
[0041]第四方面,本申请提供一种多联机系统,包括:
[0042]外机、压缩机驱动、多个内机和多个线控器;
[0043]所述外机中设有如第三方面所述的控制器;
[0044]所述控制器与所述压缩机驱动连接;
[0045]每个线控器连接一个内机,所述线控器用于显示对应内机的电量。
[0046]本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
[0047]本专利技术实施例提供的电量数据存储装置、方法、控制器及多联机系统,电量数据存储装置包括光耦检测电路,光耦检测电路的输入端与供电电源连接,光耦检测电路的输出端用于输出电平信号,电平信号根据供电电源的输出电压变化而发生变化,控制模块,与光耦检测电路连接,用于获取光耦检测电路的输出电平信号,根据输出电平信号判断是否发生掉电事件,存储模块,与控制模块连接,用于在发生掉电事件时对电量数据进行存储,在不必频繁擦写存储芯片的前提下,通过硬件电路检测是否发生掉电事件以实现及时存储电量数据,延长存储芯片寿命,提高存储电量数据的准确性。
[0048]应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。
附图说明
[0049]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0050]图1为本申请一个实施例提供的一种电量数据存储装置的功能结构图。
[0051]图2为本申请一个实施例提供的一种电量数据存储装置的电路图。
[0052]图3为本申请一个实施例提供的一种电量数据存储方法的流程图。
[0053]图4为本申请一个实施例提供的一种多联机系统的功能结构图。
具体实施方式
[0054]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本申请的技术方本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电量数据存储装置,其特征在于,包括:光耦检测电路,所述光耦检测电路的输入端与供电电源连接,所述光耦检测电路的输出端用于输出电平信号,所述电平信号根据供电电源的输出电压变化而发生变化;控制模块,与所述光耦检测电路连接,用于获取所述光耦检测电路的输出电平信号,根据所述输出电平信号判断是否发生掉电事件;存储模块,与所述控制模块连接,用于在发生掉电事件时对电量数据进行存储。2.根据权利要求1所述的电量数据存储装置,其特征在于,所述光耦检测电路,包括:第一光耦芯片和第二光耦芯片;第一二极管,所述第一光耦芯片的输入正极与所述第一二极管的输出端连接,所述第一二极管的输入端与供电电源火线连接,所述第一光耦芯片的输入负极与供电电源零线连接,所述第一光耦芯片的输出端连接第一输出端,在所述第一光耦芯片导通时,第一输出端输出低电平,否则第一输出端输出高电平;第二二极管,所述第二光耦芯片的输入正极与所述第二二极管的输出端连接,所述第二二极管的输入端与供电电源零线连接,所述第二光耦芯片的输入负极与供电电源火线连接,所述第二光耦芯片的输出端连接第二输出端,在所述第二光耦芯片导通时,第二输出端输出低电平,否则第二输出端输出高电平。3.根据权利要求2所述的电量数据存储装置,其特征在于,还包括:第一限流电阻,所述第一限流电阻设置在所述第一光耦芯片与所述第一二极管之间;第二限流电阻,所述第二限流电阻设置在所述第二光耦芯片与所述第二二极管之间。4.根据权利要求2所述的电量数据存储装置,其特征在于,还包括:第一上拉电阻,所述第一上拉电阻与所述第一光耦芯片的输出端连接;第二上拉电阻,所述第二上拉电阻与所述第二光耦芯片的输出端连接。5.根据权利要求1所述的电量数据存储装置,其特征在于,还包括:交流滤波模块,所述光耦检测电路设置在供电电源与所述交流滤波模块之间。6.根据权利要求5所述的电量数据存储装置,其特征在于,还包括:整流滤波模块,所述整流滤波模块设置在所述交流滤波模块与负载之间。7.根据权利要求6所述的电量数据存储装置,其特征在于,所述整流...

【专利技术属性】
技术研发人员:马翠明金国华王文灿
申请(专利权)人:珠海格力电器股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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