一种按键触摸屏的测试治具制造技术

本发明专利技术公开了一种按键触摸屏的测试治具，包括测试平台、测试架和扳手，测试平台上安装有控制板，控制板内设有IC芯片，测试架上设有测试头，测试头下方安装有连接线路板，连接线路板的导通电路与IC芯片的TX电路或RX电路中的一个电路连接，测试平台的上表面安装有配套测试板，配套测试板的上表面设有与待测触摸屏的触摸按键一一对应的感应块，感应块与触摸按键构成互电容，感应块引出线与IC芯片的TX电路或RX电路中的另一个电路一一对应连接，连接线路板的导通电路与待测试触摸屏的FPC压接导通。通过测量每根感应脚即可以测得每个触摸按键的电容值，根据电容值即可判断待测触摸屏是否完好。否完好。否完好。

【技术实现步骤摘要】
一种按键触摸屏的测试治具


[0001]本专利技术涉及触摸屏测试
，具体涉及一种按键触摸屏的测试治具。

技术介绍

[0002]随着电容触摸屏应用的普及，各类按键触摸电容屏的应用也逐渐普遍开来，按键触摸电 容屏相对于传统的机械按键有着：更灵敏、更可靠、寿命更长、更美观等优点。按键触摸电 容屏替代机械按键的应用越来越多，特别是在洗衣机、微波炉等家用电器的应用上，按键式 触摸屏相对于传统的机械按键有着：更灵敏、更可靠、寿命更长、更美观等优点，按键式触 摸屏替代机械按键的应用越来越多。按键式触摸屏与一般电容式触摸屏相比不同地方在于， 按键式触摸屏在实现类似开关的功能时，每个按键都是单独控制的，一个按键损坏不影响其 他按键的使用(一般电容式触摸屏是整体识别提供坐标，一坏就全坏)。所以必须针对每个 按键都需要单独进行测试。现有的测试方法是每个按键都用人工去触摸，看每个键的功能是 否都正常，这样不光工作繁琐，效率低，且对于轻微损伤的按键有时无法准确检出。

技术实现思路

[0003]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种按键式触摸屏的测试治具，使按键式触摸屏的测 试可以通过测试按键的电容数据来判断图形是否完整，而不再需要对每个按键都用手指或其 他工具去感应触摸来判断功能是否完好。
[0004]本专利技术采用的技术方案是：
[0005]一种按键触摸屏的测试治具，包括测试平台，安装在测试平台一侧的测试架，与测试架 铰接的扳手，可滑动安装在测试架上由扳手带动上下运动的测试头，测试平台或测试架上安 装有控制板，控制板内设有IC芯片，测试头下方安装有连接线路板，连接线路板的导通电路 与IC芯片的TX电路或RX电路中的一个电路连接，测试平台的上表面安装有配套测试板，配 套测试板的上表面设有与待测触摸屏的触摸按键一一对应的感应块，感应块与触摸按键构成 互电容，配套测试板的下表面设有与感应块一一对应的感应块引出线及周围一圈测试板地线， 感应块引出线一端与对应的感应块通过过孔导通连接，另一端汇集到感应脚，测试板地线通 过两根接线引至感应脚；感应脚内的感应块引出线与IC芯片的TX电路或RX电路中的另一个 电路一一对应连接，感应脚内的测试板地线与控制板地线连接，连接线路板的导通电路与待 测试触摸屏的FPC压接导通。
[0006]进一步地，配套测试板由双层PCB板或双面覆铜的PI板制成。
[0007]进一步地，双层PCB板或双面覆铜的PI板的正面加工出按键感应区和非感应区，按键 感应区内的导电材料保留，非感应区内的导电材料不保留，按键感应区的形状与待测试触摸 屏的触摸按键的形状适配，所述按键感应区即为感应块；双层PCB板或双面覆铜的PI板的 反面加工出感应块引出线及测试板地线。
[0008]进一步地，按键感应区的正投影面积至少覆盖触摸按键的正投影面积。
[0009]进一步地，感应脚内的感应块引出线及测试板地线的端点设置成圆形接触点，感应脚通 过接触点与控制板连接。
[0010]进一步地，测试平台的上表面设有用于嵌装配套测试板的凹槽，凹槽的底部设有抽气腔， 配套测试板上均匀分布有若干通孔，所述通孔与抽气腔相通，所述抽气腔连接抽真空装置。
[0011]进一步地，所述通孔避让感应块、感应块引出线及测试板地线开设。
[0012]进一步地，配套测试板的四周设有一圈挡板，挡板内侧壁抵靠配套测试板的四边，挡板 用于定位放置待测试触摸屏，挡板上设有用于避让待测试触摸屏FPC的缺口。
[0013]进一步地，测试架通过立柱安装在测试平台的一侧，测试架呈开口朝外的C形。
[0014]进一步地，C形测试架的上部与扳手铰接，测试头可滑动地设于C形测试架的下部中， 测试头的上部铰接连接片，连接片铰接扳手。
[0015]本专利技术的有益效果：测试平台上嵌装与待测触摸屏配套的配套测试板，配套测试板的感 应块与待测触摸屏的触摸按键一一对应形成互电容，配套测试板的电极，即感应块引出线， 一一接入感应脚，感应脚与控制板的TX电路或RX电路一一对应连接；待测触摸屏的所有电 极接入控制板驱动脚且全部连接在一个驱动脚上，驱动脚加电时，配套测试板和触摸屏相当 于并联了几十个电容器，通过测量每根感应脚即可以测得每个触摸按键的电容值，根据电容 值即可判断待测触摸屏是否完好。
附图说明
[0016]图1是本专利技术的一种按键触摸屏的测试治具的安装结构示意图。
[0017]图2是本专利技术的一种按键触摸屏的测试治具的测试结构示意图。
[0018]图3是本专利技术的待测试触摸屏的结构示意图。
[0019]图4是本专利技术的配套测试板的结构示意图。
[0020]图5是本专利技术的挡板的安装结构示意图。
具体实施方式
[0021]为了更好地理解本专利技术，下面结合实施例进一步阐明本专利技术的内容，但本专利技术的内容不 仅仅局限于下面的实施例。
[0022]实施方式1
[0023]参阅图1～图5，本实施例提供一种按键触摸屏的测试治具，包括测试平台10，通过立 柱11安装在测试平台10一侧的测试架12，测试架12呈开口朝外的C形，扳手1一端与C 形测试架12的上端铰接，测试头2可滑动安装在C形测试架12上，测试头2的杆部竖直向 上穿过C形测试架12的下端部与连接片14的下端铰接，连接片14的上端与扳手1铰接。 扳手1带动测试头2上下运动。
[0024]测试平台10上安装有控制板(图中未示出)，控制板内设有IC芯片，IC芯片内设有TX 电路和RX电路。在本实施例中，TX电路设有一个，RX电路设有多个，RX电路的数量与配套 测试板的电极数量相同。测试头2下方安装有连接线路板21，连接线路板21的导通电路与 IC芯片的TX电路连接。
[0025]测试平台10的上表面设有凹槽，凹槽的底部设有抽气腔(图中为示出)，凹槽内嵌
装有 配套测试板3。配套测试板3与待测触摸屏按1：1尺寸设计，配套测试板3的上表面设有与 待测触摸屏5的触摸按键一一对应的感应块33。感应块33的设计取决于待测试触摸屏的触 摸按键的形状和大小。
[0026]例如，在本实施例中，如图3所示，按键式触摸屏5上设有14个方块状的触摸按键52， 每个触摸按键52均连接一根按键引出线53，触摸屏最外围的一圈是地线，在其他实施例中 触摸按键52的形状也可以是圆型等其他图案。按键引出线53及地线均汇集到按键式触摸屏 5的FPC51内。FPC可以与按键触摸屏一体式设计，或者分离设计然后通过ACF\ACP热压 与按键触摸屏连接。
[0027]如图4所示，感应块33的设计采用将待测触摸屏5的每个触摸按键正投影到配套测试板 3的正面，单边外扩0.3mm即得到感应块33的设计图形。感应块33的周围一圈的测试板地 线36的设计也是同理，在按键式触摸屏5的地线的外圈基础上外扩0.3mm，内圈的基础上内 缩0.3mm，得到测试板地线36。配套测试板3的反面设有与感应块33一一对应的感应块引 出线35，正面的感应块33通过过孔33与反面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种按键触摸屏的测试治具，包括测试平台，安装在测试平台一侧的测试架，与测试架铰接的扳手，可滑动安装在测试架上由扳手带动上下运动的测试头，其特征在于，测试平台或测试架上安装有控制板，控制板内设有IC芯片，测试头下方安装有连接线路板，连接线路板的导通电路与IC芯片的TX电路或RX电路中的一个电路连接，测试平台的上表面安装有配套测试板，配套测试板的上表面设有与待测触摸屏的触摸按键一一对应的感应块，感应块与触摸按键构成互电容，配套测试板的下表面设有与感应块一一对应的感应块引出线及周围一圈测试板地线，感应块引出线一端与对应的感应块通过过孔导通连接，另一端汇集到感应脚，测试板地线通过两根接线引至感应脚；感应脚内的感应块引出线与IC芯片的TX电路或RX电路中的另一个电路一一对应连接，感应脚内的测试板地线与控制板地线连接，连接线路板的导通电路与待测试触摸屏的FPC压接导通。2.根据权利要求1所述的一种按键触摸屏的测试治具，其特征在于，配套测试板由双层PCB板或双面覆铜的PI板制成。3.根据权利要求2所述的一种按键触摸屏的测试治具，其特征在于，双层PCB板或双面覆铜的PI板的正面加工出按键感应区和非感应区，按键感应区内的导电材料保留，非感应区内的导电材料不保留，按键感应区的形状与待测试触摸屏的触摸按键的形状适配，所述按键感应区即为感应块；双层PC...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙大鹏，高丽雯，窦胜国，
申请(专利权)人：南京华睿川电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：